佐藤 高史

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Name(Kanji/Kana/Abecedarium Latinum)
佐藤 高史/サトウ タカシ/Sato, Takashi
Primary Affiliation(Org1/Job title)
Graduate Schools Informatics/Professor
Faculty
Org1 Job title
工学部
Contact Address
Type Address(Japanese) Address(English)
Office 〒606-8501 京都市左京区吉田本町 36-1 Yoshida-Hommachi, Sakyo-ku, Kyoto 606-8501 JAPAN
Phone
Type Number
Office
Academic Degree
Field(Japanese) Field(English) University(Japanese) University(English) Method
工学修士 早稲田大学
博士(情報学) 京都大学
Personal Profile
(Japanese)
京都大学大学院情報学研究科 博士課程修了。博士(情報学)。日立製作所、ルネサステクロノジ、東京工業大学を経て、2009 年より京都大学 大学院情報学研究科 (通信情報システム専攻) 教授。この間、カリフォルニア大学バークレー校客員研究員。専門は集積回路工学。特に、微細集積回路のためのばらつき考慮回路設計技術と回路最適化技術。IEEE, ACM, 電子情報通信学会会員。
(English)
Takashi Sato was with Hitachi, Ltd., Tokyo, Japan from 1991 to 2003, with Renesas Technology Corp., Tokyo, Japan from 2003 to 2006, and with Tokyo Institute of Technology, Yokohama, Japan. In 2009, he joined the Graduate School of informatics, Kyoto University, Kyoto, Japan, where he is currently a professor. He was a visiting industrial fellow at the University of California, Berkeley from 1998 to 1999. His research interests include modeling and CAD for nanometer-scale circuit design, fabrication-aware design methodology, and performance optimization for variation tolerance. Dr. Sato is a member of IEEE, the Association for Computing Machinery (ACM), and Institute of Electronics, Information and Communication Engineers (IEICE).
Personal Website(s) (URL(s))
URL
http://www.pass.cce.i.kyoto-u.ac.jp/
ORCID ID
https://orcid.org/0000-0002-1577-8259
researchmap URL
https://researchmap.jp/7000008812
Research Topics
(Japanese)
集積システムの設計、統計的解析と最適化
Overview of the research
(Japanese)
・集積回路の物理設計および最適化 ・信頼性考慮回路設計手法 ・ばらつき考慮回路設計手法 ・ハードウェアセキュリティ ・パワーデバイスのモデリング ・新概念コンピューティング
(English)
Physical design and optimization of integrated circuits, Reliability-aware circuit design, Variability-aware circuit design, Hardware security, Power device modeling and characterization, Emerging computing
Published Papers
Author Author(Japanese) Author(English) Title Title(Japanese) Title(English) Bibliography Bibliography(Japanese) Bibliography(English) Publication date Refereed paper Language Publishing type Disclose
C. Cook, H. Zhao, T. Sato, M. Hiromoto, and S. Tan C. Cook, H. Zhao, T. Sato, M. Hiromoto, and S. Tan C. Cook, H. Zhao, T. Sato, M. Hiromoto, and S. Tan GPU-based Ising Computing for Solving Max-cut Combinatorial Optimization Problems (accepted) GPU-based Ising Computing for Solving Max-cut Combinatorial Optimization Problems (accepted) GPU-based Ising Computing for Solving Max-cut Combinatorial Optimization Problems (accepted) Integration, the VLSI Journal, Vol, No Integration, the VLSI Journal, Vol, No Integration, the VLSI Journal, Vol, No 2019/12 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Hardware-accelerated Secured Naive Bayesian Filter Based on Partially Homomorphic Encryption Hardware-accelerated Secured Naive Bayesian Filter Based on Partially Homomorphic Encryption Hardware-accelerated Secured Naive Bayesian Filter Based on Partially Homomorphic Encryption IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E102-A, 2, 430-439 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E102-A, 2, 430-439 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E102-A, 2, 430-439 2019/02 Refereed English Disclose to all
Y. Ogasahara, K. Kuribara, M. Shintani, and T. Sato Y. Ogasahara, K. Kuribara, M. Shintani, and T. Sato Y. Ogasahara, K. Kuribara, M. Shintani, and T. Sato Feasibility of a Low-power, Low-voltage Complementary Organic Thin Film Transistor Buskeeper Physical Unclonable Function Feasibility of a Low-power, Low-voltage Complementary Organic Thin Film Transistor Buskeeper Physical Unclonable Function Feasibility of a Low-power, Low-voltage Complementary Organic Thin Film Transistor Buskeeper Physical Unclonable Function Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 58, SB, SBBG03-SBBG03 Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 58, SB, SBBG03-SBBG03 Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 58, SB, SBBG03-SBBG03 2019/01 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, Y. Nakamura, K. Oishi, M. Hiromoto, T. Hikihara, and T. Sato M. Shintani, Y. Nakamura, K. Oishi, M. Hiromoto, T. Hikihara, and T. Sato M. Shintani, Y. Nakamura, K. Oishi, M. Hiromoto, T. Hikihara, and T. Sato Surface-potential-based Silicon Carbide Power MOSFET Model for Circuit Simulation Surface-potential-based Silicon Carbide Power MOSFET Model for Circuit Simulation Surface-potential-based Silicon Carbide Power MOSFET Model for Circuit Simulation IEEE Transactions on Power Electronics (TPEL), 33, 12, 10774-10783 IEEE Transactions on Power Electronics (TPEL), 33, 12, 10774-10783 IEEE Transactions on Power Electronics (TPEL), 33, 12, 10774-10783 2018/12 Refereed English Disclose to all
R. Zhou, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato R. Zhou, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato R. Zhou, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Modeling of Interelectrode Parasitic Elements of V-groove SiC MOSFET Modeling of Interelectrode Parasitic Elements of V-groove SiC MOSFET Modeling of Interelectrode Parasitic Elements of V-groove SiC MOSFET Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE, 9, 3, 344-357 Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE, 9, 3, 344-357 Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE, 9, 3, 344-357 2018/07 Refereed English Disclose to all
S. Yamamori, M. Hiromoto, and T. Sato S. Yamamori, M. Hiromoto, and T. Sato S. Yamamori, M. Hiromoto, and T. Sato Efficient Mini-batch Training on Memristor Neural Network Integrating Gradient Calculation and Weight Update Efficient Mini-batch Training on Memristor Neural Network Integrating Gradient Calculation and Weight Update Efficient Mini-batch Training on Memristor Neural Network Integrating Gradient Calculation and Weight Update IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E101-A, 7, 1092-1100 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E101-A, 7, 1092-1100 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E101-A, 7, 1092-1100 2018/07 Refereed English Disclose to all
M. Hiromoto, M. Yoshinaga, and T. Sato M. Hiromoto, M. Yoshinaga, and T. Sato M. Hiromoto, M. Yoshinaga, and T. Sato MRO-PUF: Physically Unclonable Function With Enhanced Resistance Against Machine Learning Attacks Utilizing Instantaneous Output of Ring Oscillator MRO-PUF: Physically Unclonable Function With Enhanced Resistance Against Machine Learning Attacks Utilizing Instantaneous Output of Ring Oscillator MRO-PUF: Physically Unclonable Function With Enhanced Resistance Against Machine Learning Attacks Utilizing Instantaneous Output of Ring Oscillator IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E101-A, 7, 1035-1044 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E101-A, 7, 1035-1044 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E101-A, 7, 1035-1044 2018/07 Refereed English Disclose to all
Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Coin Flipping PUF: A Novel PUF With Improved Resistance Against Machine Learning Attacks Coin Flipping PUF: A Novel PUF With Improved Resistance Against Machine Learning Attacks Coin Flipping PUF: A Novel PUF With Improved Resistance Against Machine Learning Attacks IEEE Transactions on Circuits and Systems--II: Express Briefs (TCASII), 65, 5, 602-606 IEEE Transactions on Circuits and Systems--II: Express Briefs (TCASII), 65, 5, 602-606 IEEE Transactions on Circuits and Systems--II: Express Briefs (TCASII), 65, 5, 602-606 2018/05 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, Z. Qin, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, Z. Qin, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, Z. Qin, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato Mechanically and Electrically Robust Metal-mask Design for Organic CMOS Circuits Mechanically and Electrically Robust Metal-mask Design for Organic CMOS Circuits Mechanically and Electrically Robust Metal-mask Design for Organic CMOS Circuits Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 57, 4S, 04FL05-04FL05 Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 57, 4S, 04FL05-04FL05 Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 57, 4S, 04FL05-04FL05 2018/03 Refereed English Disclose to all
H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato Area Efficient Annealing Processor for Ising Model Without Random Number Generator Area Efficient Annealing Processor for Ising Model Without Random Number Generator Area Efficient Annealing Processor for Ising Model Without Random Number Generator IEICE Transactions on Information and Systems, E101-D, 2, 314-323 IEICE Transactions on Information and Systems, E101-D, 2, 314-323 IEICE Transactions on Information and Systems, E101-D, 2, 314-323 2018/02 Refereed English Disclose to all
Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato PARHELIA: Particle-filter-based Heart Rate Estimation from Photoplethysmographic Signals During Physical Exercise PARHELIA: Particle-filter-based Heart Rate Estimation from Photoplethysmographic Signals During Physical Exercise PARHELIA: Particle-filter-based Heart Rate Estimation from Photoplethysmographic Signals During Physical Exercise IEEE Transactions on Bio-Medical Engineering, 65, 1, 189-198 IEEE Transactions on Bio-Medical Engineering, 65, 1, 189-198 IEEE Transactions on Bio-Medical Engineering, 65, 1, 189-198 2018/01 Refereed English Disclose to all
H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato Efficient Aging-aware Failure Probability Estimation Using Augmented Reliability and Subset Simulation Efficient Aging-aware Failure Probability Estimation Using Augmented Reliability and Subset Simulation Efficient Aging-aware Failure Probability Estimation Using Augmented Reliability and Subset Simulation IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100-A, 12, 2807-2815 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100-A, 12, 2807-2815 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100-A, 12, 2807-2815 2017/12 Refereed English Disclose to all
S. Bian, S. Morita, M. Shintani, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, S. Morita, M. Shintani, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, S. Morita, M. Shintani, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato Identification and Application of Invariant Critical Paths Under NBTI Degradation Identification and Application of Invariant Critical Paths Under NBTI Degradation Identification and Application of Invariant Critical Paths Under NBTI Degradation IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100-A, 12, 2797-2806 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100-A, 12, 2797-2806 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100-A, 12, 2797-2806 2017/12 Refereed English Disclose to all
A. Mohanty, K. Sutaria, H. Awano, T. Sato, and Y. Cao A. Mohanty, K. Sutaria, H. Awano, T. Sato, and Y. Cao A. Mohanty, K. Sutaria, H. Awano, T. Sato, and Y. Cao RTN in Scaled Transistors for On-chip Random Seed Generation RTN in Scaled Transistors for On-chip Random Seed Generation RTN in Scaled Transistors for On-chip Random Seed Generation IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 25, 8, 2248-2257 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 25, 8, 2248-2257 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 25, 8, 2248-2257 2017/08 Refereed English Disclose to all
S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Utilization of Path-clustering in Efficient Stress-control Gate Replacement for NBTI Mitigation Utilization of Path-clustering in Efficient Stress-control Gate Replacement for NBTI Mitigation Utilization of Path-clustering in Efficient Stress-control Gate Replacement for NBTI Mitigation IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100-A, 7, 1464-1472 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100-A, 7, 1464-1472 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100-A, 7, 1464-1472 2017/07 Refereed English Disclose to all
H. Awano, S. Morita, and T. Sato H. Awano, S. Morita, and T. Sato H. Awano, S. Morita, and T. Sato Scalable Device Array for Statistical Characterization of BTI-related Parameters Scalable Device Array for Statistical Characterization of BTI-related Parameters Scalable Device Array for Statistical Characterization of BTI-related Parameters IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 25, 4, 1455-1466 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 25, 4, 1455-1466 IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 25, 4, 1455-1466 2017/04 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, Y. Nakamura, M. Hiromoto, T. Hikihara, and T. Sato M. Shintani, Y. Nakamura, M. Hiromoto, T. Hikihara, and T. Sato M. Shintani, Y. Nakamura, M. Hiromoto, T. Hikihara, and T. Sato Measurement and Modeling of Gate-drain Capacitance of Silicon Carbide Vertical Double-diffused MOSFET Measurement and Modeling of Gate-drain Capacitance of Silicon Carbide Vertical Double-diffused MOSFET Measurement and Modeling of Gate-drain Capacitance of Silicon Carbide Vertical Double-diffused MOSFET Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 56, 4S, 04CR07-04CR07 Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 56, 4S, 04CR07-04CR07 Japanese Journal of Applied Physics (JJAP), 56, 4S, 04CR07-04CR07 2017/03 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, T. Uezono, K. Hatayama, K. Masu, and T. Sato M. Shintani, T. Uezono, K. Hatayama, K. Masu, and T. Sato M. Shintani, T. Uezono, K. Hatayama, K. Masu, and T. Sato Path Clustering for Test Pattern Reduction of Variation-aware Adaptive Path Delay Testing Path Clustering for Test Pattern Reduction of Variation-aware Adaptive Path Delay Testing Path Clustering for Test Pattern Reduction of Variation-aware Adaptive Path Delay Testing Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 32, 5, 601-609 Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 32, 5, 601-609 Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), 32, 5, 601-609 2016/10 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Fast Estimation of NBTI-induced Delay Degradation Based on Signal Probability Fast Estimation of NBTI-induced Delay Degradation Based on Signal Probability Fast Estimation of NBTI-induced Delay Degradation Based on Signal Probability IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E99-A, 7, 1400-1409 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E99-A, 7, 1400-1409 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E99-A, 7, 1400-1409 2016/07 Refereed English Disclose to all
H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato Efficient Aging-aware SRAM Failure Probability Calculation via Particle Filter-based Importance Sampling Efficient Aging-aware SRAM Failure Probability Calculation via Particle Filter-based Importance Sampling Efficient Aging-aware SRAM Failure Probability Calculation via Particle Filter-based Importance Sampling IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E99-A, 7, 1390-1399 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E99-A, 7, 1390-1399 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E99-A, 7, 1390-1399 2016/07 Refereed English Disclose to all
T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato An Error Correction Scheme Through Time Redundancy for Enhancing Persistent Soft-error Tolerance of CGRAs An Error Correction Scheme Through Time Redundancy for Enhancing Persistent Soft-error Tolerance of CGRAs An Error Correction Scheme Through Time Redundancy for Enhancing Persistent Soft-error Tolerance of CGRAs IEICE Transactions on Electronics, E98-C, 7, 741-750 IEICE Transactions on Electronics, E98-C, 7, 741-750 IEICE Transactions on Electronics, E98-C, 7, 741-750 2015/07 Refereed English Disclose to all
H. Shimizu, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Shimizu, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Shimizu, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato Automation of Model Parameter Estimation for Random Telegraph Noise Automation of Model Parameter Estimation for Random Telegraph Noise Automation of Model Parameter Estimation for Random Telegraph Noise IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E97-A, 12, 2383-2392 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E97-A, 12, 2383-2392 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E97-A, 12, 2383-2392 2014/12 Refereed English Disclose to all
H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato BTIarray: A Time-overlapping Transistor Array for Efficient Statistical Characterization of Bias Temperature Instability BTIarray: A Time-overlapping Transistor Array for Efficient Statistical Characterization of Bias Temperature Instability BTIarray: A Time-overlapping Transistor Array for Efficient Statistical Characterization of Bias Temperature Instability IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 14, 3, 833-843 IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 14, 3, 833-843 IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 14, 3, 833-843 2014/09 Refereed English Disclose to all
M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato IDDQ Outlier Screening Through Two-phase Approach: Clustering-based Filtering and Estimation-based Current-threshold Determination IDDQ Outlier Screening Through Two-phase Approach: Clustering-based Filtering and Estimation-based Current-threshold Determination IDDQ Outlier Screening Through Two-phase Approach: Clustering-based Filtering and Estimation-based Current-threshold Determination IEICE Transactions on Information and Systems, E97-D, 8, 2095-2104 IEICE Transactions on Information and Systems, E97-D, 8, 2095-2104 IEICE Transactions on Information and Systems, E97-D, 8, 2095-2104 2014/08 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, T. Uezono, T. Takahashi, K. Hatayama, T. Aikyo, K. Masu, and T. Sato M. Shintani, T. Uezono, T. Takahashi, K. Hatayama, T. Aikyo, K. Masu, and T. Sato M. Shintani, T. Uezono, T. Takahashi, K. Hatayama, T. Aikyo, K. Masu, and T. Sato A Variability-aware Adaptive Test Flow for Test Quality Improvement A Variability-aware Adaptive Test Flow for Test Quality Improvement A Variability-aware Adaptive Test Flow for Test Quality Improvement IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 33, 7, 1056-1066 IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 33, 7, 1056-1066 IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 33, 7, 1056-1066 2014/07 Refereed English Disclose to all
K. B. Sutaria, J. B. Velamala, C. Kim, T. Sato, and Y. Cao K. B. Sutaria, J. B. Velamala, C. Kim, T. Sato, and Y. Cao K. B. Sutaria, J. B. Velamala, C. Kim, T. Sato, and Y. Cao Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Compact Modeling and Silicon Validation Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Compact Modeling and Silicon Validation Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Compact Modeling and Silicon Validation IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 14, 2, 607-615 IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 14, 2, 607-615 IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 14, 2, 607-615 2014/06 Refereed English Disclose to all
S. Hagiwara, T. Date, K. Masu, and T. Sato S. Hagiwara, T. Date, K. Masu, and T. Sato S. Hagiwara, T. Date, K. Masu, and T. Sato Hypersphere Sampling for Accelerating High-dimension and Low-failure Probability Circuit-yield Analysis Hypersphere Sampling for Accelerating High-dimension and Low-failure Probability Circuit-yield Analysis Hypersphere Sampling for Accelerating High-dimension and Low-failure Probability Circuit-yield Analysis IEICE Transactions on Electronics, E97-C, 4, 280-288 IEICE Transactions on Electronics, E97-C, 4, 280-288 IEICE Transactions on Electronics, E97-C, 4, 280-288 2014/04 Refereed English Disclose to all
K. Yamanaga, R. Takahashi, S. Hagiwara, K. Masu, and T. Sato K. Yamanaga, R. Takahashi, S. Hagiwara, K. Masu, and T. Sato K. Yamanaga, R. Takahashi, S. Hagiwara, K. Masu, and T. Sato State-dependence of On-chip Power Distribution Network Capacitance State-dependence of On-chip Power Distribution Network Capacitance State-dependence of On-chip Power Distribution Network Capacitance IEICE Transactions on Electronics, E97-C, 1, 77-84 IEICE Transactions on Electronics, E97-C, 1, 77-84 IEICE Transactions on Electronics, E97-C, 1, 77-84 2014/01 Refereed English Disclose to all
佐藤高史, 橋本 昌宜 佐藤高史, 橋本 昌宜 経時劣化概説(招待) 経時劣化概説(招待) 日本信頼性学会誌, 35, 8, 457-458 日本信頼性学会誌, 35, 8, 457-458 , 35, 8, 457-458 2013/12 Refereed Japanese Disclose to all
J. B. Velamala, K. B. Sutaria, H. Shimizu, H. Awano, T. Sato, G. Wirth, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, H. Shimizu, H. Awano, T. Sato, G. Wirth, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, H. Shimizu, H. Awano, T. Sato, G. Wirth, and Y. Cao Compact Modeling of Statistical BTI Under Trapping/detrapping Compact Modeling of Statistical BTI Under Trapping/detrapping Compact Modeling of Statistical BTI Under Trapping/detrapping IEEE Transactions on Electron Devices, 60, 11, 3645-3654 IEEE Transactions on Electron Devices, 60, 11, 3645-3654 IEEE Transactions on Electron Devices, 60, 11, 3645-3654 2013/11 Refereed English Disclose to all
H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Parallel Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element Parallel Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element Parallel Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element IEICE Transactions on Electronics, E96-C, 4, 473-481 IEICE Transactions on Electronics, E96-C, 4, 473-481 IEICE Transactions on Electronics, E96-C, 4, 473-481 2013/04 Refereed English Disclose to all
T. Imagawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato A Cost-effective Selective TMR for Coarse-grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-level Vulnerability Analysis A Cost-effective Selective TMR for Coarse-grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-level Vulnerability Analysis A Cost-effective Selective TMR for Coarse-grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-level Vulnerability Analysis IEICE Transactions on Electronics, E96-C, 4, 454-462 IEICE Transactions on Electronics, E96-C, 4, 454-462 IEICE Transactions on Electronics, E96-C, 4, 454-462 2013/04 Refereed English Disclose to all
M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato Device-parameter Estimation Through IDDQ Signatures Device-parameter Estimation Through IDDQ Signatures Device-parameter Estimation Through IDDQ Signatures IEICE Transactions on Information and Systems, E96-D, 2, 303-313 IEICE Transactions on Information and Systems, E96-D, 2, 303-313 IEICE Transactions on Information and Systems, E96-D, 2, 303-313 2013/02 Refereed English Disclose to all
H. Awano, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Awano, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Awano, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Bayesian Estimation of Multi-trap RTN Parameters Using Markov Chain Monte Carlo Method Bayesian Estimation of Multi-trap RTN Parameters Using Markov Chain Monte Carlo Method Bayesian Estimation of Multi-trap RTN Parameters Using Markov Chain Monte Carlo Method IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E95-A, 12, 2272-2283 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E95-A, 12, 2272-2283 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E95-A, 12, 2272-2283 2012/12 Refereed English Disclose to all
T. Enami, T. Sato, and M. Hashimoto T. Enami, T. Sato, and M. Hashimoto T. Enami, T. Sato, and M. Hashimoto Power Distribution Network Optimization for Timing Improvement With Statistical Noise Model and Timing Analysis Power Distribution Network Optimization for Timing Improvement With Statistical Noise Model and Timing Analysis Power Distribution Network Optimization for Timing Improvement With Statistical Noise Model and Timing Analysis IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E95-A, 12, 2261-2271 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E95-A, 12, 2261-2271 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E95-A, 12, 2261-2271 2012/12 Refereed English Disclose to all
J. Kawashima, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato J. Kawashima, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato J. Kawashima, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato A Variability-aware Energy-minimization Strategy for Subthreshold Circuits A Variability-aware Energy-minimization Strategy for Subthreshold Circuits A Variability-aware Energy-minimization Strategy for Subthreshold Circuits IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E95-A, 12, 2242-2250 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E95-A, 12, 2242-2250 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E95-A, 12, 2242-2250 2012/12 Refereed English Disclose to all
T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato Reliability Evaluation Environment for Exploring Design Space of Coarse-grained Reconfigurable Architectures Reliability Evaluation Environment for Exploring Design Space of Coarse-grained Reconfigurable Architectures Reliability Evaluation Environment for Exploring Design Space of Coarse-grained Reconfigurable Architectures IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E93-A, 12, 2524-2532 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E93-A, 12, 2524-2532 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E93-A, 12, 2524-2532 2010/12 Refereed English Disclose to all
S. Hagiwara, K. Yamanaga, R. Takahashi, K. Masu, and T. Sato S. Hagiwara, K. Yamanaga, R. Takahashi, K. Masu, and T. Sato S. Hagiwara, K. Yamanaga, R. Takahashi, K. Masu, and T. Sato Linear Time Calculation of On-chip Power Distribution Network Capacitance Considering State-dependence Linear Time Calculation of On-chip Power Distribution Network Capacitance Considering State-dependence Linear Time Calculation of On-chip Power Distribution Network Capacitance Considering State-dependence IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E93-A, 12, 2409-2416 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E93-A, 12, 2409-2416 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E93-A, 12, 2409-2416 2010/12 Refereed English Disclose to all
K. Yamanaga, S. Amakawa, K. Masu, and T. Sato K. Yamanaga, S. Amakawa, K. Masu, and T. Sato K. Yamanaga, S. Amakawa, K. Masu, and T. Sato A Universal Equivalent Circuit Model for Ceramic Capacitors A Universal Equivalent Circuit Model for Ceramic Capacitors A Universal Equivalent Circuit Model for Ceramic Capacitors IEICE Transactions on Electronics, E93-C, 3, 347-354 IEICE Transactions on Electronics, E93-C, 3, 347-354 IEICE Transactions on Electronics, E93-C, 3, 347-354 2010/04 Refereed English Disclose to all
T. Kanamoto, T. Okumura, K. Furukawa, H. Takafuji, A. Kurokawa, K. Hachiya, T. Sakata, M. Tanaka, H. Nakashima, H. Masuda, T. Sato, and M. Hashimoto T. Kanamoto, T. Okumura, K. Furukawa, H. Takafuji, A. Kurokawa, K. Hachiya, T. Sakata, M. Tanaka, H. Nakashima, H. Masuda, T. Sato, and M. Hashimoto T. Kanamoto, T. Okumura, K. Furukawa, H. Takafuji, A. Kurokawa, K. Hachiya, T. Sakata, M. Tanaka, H. Nakashima, H. Masuda, T. Sato, and M. Hashimoto Impact of Self-heating in Wire Interconnection on Timing Impact of Self-heating in Wire Interconnection on Timing Impact of Self-heating in Wire Interconnection on Timing IEICE Transactions on Electronics, E93-C, 3, 388-392 IEICE Transactions on Electronics, E93-C, 3, 388-392 IEICE Transactions on Electronics, E93-C, 3, 388-392 2010/03 Refereed English Disclose to all
T. Uezono, K. Masu, and T. Sato T. Uezono, K. Masu, and T. Sato T. Uezono, K. Masu, and T. Sato A Time-slicing Ring Oscillator for Capturing Time-dependent Delay Degradation and Power Supply Voltage Fluctuation A Time-slicing Ring Oscillator for Capturing Time-dependent Delay Degradation and Power Supply Voltage Fluctuation A Time-slicing Ring Oscillator for Capturing Time-dependent Delay Degradation and Power Supply Voltage Fluctuation IEICE Transactions on Electronics, E93-C, 3, 324-331 IEICE Transactions on Electronics, E93-C, 3, 324-331 IEICE Transactions on Electronics, E93-C, 3, 324-331 2010/03 Refereed English Disclose to all
Z. Huang, A. Kurokawa, M. Hashimoto, T. Sato, M. Jiang, and Y. Inoue Z. Huang, A. Kurokawa, M. Hashimoto, T. Sato, M. Jiang, and Y. Inoue Z. Huang, A. Kurokawa, M. Hashimoto, T. Sato, M. Jiang, and Y. Inoue Modeling the Overshooting Effect for CMOS Inverter Delay Analysis Modeling the Overshooting Effect for CMOS Inverter Delay Analysis Modeling the Overshooting Effect for CMOS Inverter Delay Analysis IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 29, 2, 250-260 IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 29, 2, 250-260 IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 29, 2, 250-260 2010/02 Refereed English Disclose to all
T. Sakata, T. Okumura, A. Kurokawa, H. Nakashima, H. Masuda, T. Sato, M. Hashimoto, K. Hachiya, K. Furukawa, M. Tanaka, H. Takafuji, and T. Kanamoto T. Sakata, T. Okumura, A. Kurokawa, H. Nakashima, H. Masuda, T. Sato, M. Hashimoto, K. Hachiya, K. Furukawa, M. Tanaka, H. Takafuji, and T. Kanamoto T. Sakata, T. Okumura, A. Kurokawa, H. Nakashima, H. Masuda, T. Sato, M. Hashimoto, K. Hachiya, K. Furukawa, M. Tanaka, H. Takafuji, and T. Kanamoto An Approach for Reducing Leakage Current Variation Due to Manufacturing Variability An Approach for Reducing Leakage Current Variation Due to Manufacturing Variability An Approach for Reducing Leakage Current Variation Due to Manufacturing Variability IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 12, 3016-3023 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 12, 3016-3023 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 12, 3016-3023 2009/12 Refereed English Disclose to all
T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu Accurate Array-based Measurement for Subthreshold-current of MOS Transistors Accurate Array-based Measurement for Subthreshold-current of MOS Transistors Accurate Array-based Measurement for Subthreshold-current of MOS Transistors IEEE Journal of Solid-State Circuits, 44, 11, 2977-2986 IEEE Journal of Solid-State Circuits, 44, 11, 2977-2986 IEEE Journal of Solid-State Circuits, 44, 11, 2977-2986 2009/11 Refereed English Disclose to all
A. Kurokawa, T. Sato, T. Kanamoto, and M. Hashimoto A. Kurokawa, T. Sato, T. Kanamoto, and M. Hashimoto A. Kurokawa, T. Sato, T. Kanamoto, and M. Hashimoto Interconnect Modeling: A Physical Design Perspective (Invited) Interconnect Modeling: A Physical Design Perspective (Invited) Interconnect Modeling: A Physical Design Perspective (Invited) IEEE Transactions on Electron Devices, 56, 9, 1840-1851 IEEE Transactions on Electron Devices, 56, 9, 1840-1851 IEEE Transactions on Electron Devices, 56, 9, 1840-1851 2009/09 Refereed English Disclose to all
K. Masu, N. Ishihara, N. Nakayama, T. Sato, and S. Amakawa K. Masu, N. Ishihara, N. Nakayama, T. Sato, and S. Amakawa K. Masu, N. Ishihara, N. Nakayama, T. Sato, and S. Amakawa Physical Design Challenges to Nano-CMOS Circuits (Invited) Physical Design Challenges to Nano-CMOS Circuits (Invited) Physical Design Challenges to Nano-CMOS Circuits (Invited) IEICE Electronics Express (ELEX), 6, 11, 703-720 IEICE Electronics Express (ELEX), 6, 11, 703-720 IEICE Electronics Express (ELEX), 6, 11, 703-720 2009/06 Refereed English Disclose to all
佐々木 英樹, 原田 高志, 栗山 敏秀, 佐藤 高史, 益 一哉 佐々木 英樹, 原田 高志, 栗山 敏秀, 佐藤 高史, 益 一哉 2つのキャパシタと1本の電源配線で構成した電磁放射低減電源デカップリング回路のQFPパッケージLSIへの適用 2つのキャパシタと1本の電源配線で構成した電磁放射低減電源デカップリング回路のQFPパッケージLSIへの適用 電子情報通信学会論文誌, J92-B, 5, 883-891 電子情報通信学会論文誌, J92-B, 5, 883-891 , J92-B, 5, 883-891 2009/05 Refereed Japanese Disclose to all
S. Hagiwara, T. Sato, and K. Masu S. Hagiwara, T. Sato, and K. Masu S. Hagiwara, T. Sato, and K. Masu Analytical Estimation of Path-delay Variation for Multi-threshold CMOS Circuits Analytical Estimation of Path-delay Variation for Multi-threshold CMOS Circuits Analytical Estimation of Path-delay Variation for Multi-threshold CMOS Circuits IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 1031-1038 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 1031-1038 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 1031-1038 2009/04 Refereed English Disclose to all
T. Uezono, T. Sato, and K. Masu T. Uezono, T. Sato, and K. Masu T. Uezono, T. Sato, and K. Masu One-shot Voltage-measurement Circuit Utilizing Process Variation One-shot Voltage-measurement Circuit Utilizing Process Variation One-shot Voltage-measurement Circuit Utilizing Process Variation IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 1024-1030 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 1024-1030 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 1024-1030 2009/04 Refereed English Disclose to all
T. Okumura, A. Kurokawa, H. Masuda, T. Kanamoto, M. Hashimoto, H. Takafuji, H. Nakashima, N. Ono, T. Sakata, and T. Sato T. Okumura, A. Kurokawa, H. Masuda, T. Kanamoto, M. Hashimoto, H. Takafuji, H. Nakashima, N. Ono, T. Sakata, and T. Sato T. Okumura, A. Kurokawa, H. Masuda, T. Kanamoto, M. Hashimoto, H. Takafuji, H. Nakashima, N. Ono, T. Sakata, and T. Sato Improvement in Computational Accuracy of Output Transition Time Variation Considering Threshold Voltage Variations Improvement in Computational Accuracy of Output Transition Time Variation Considering Threshold Voltage Variations Improvement in Computational Accuracy of Output Transition Time Variation Considering Threshold Voltage Variations IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 990-997 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 990-997 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 990-997 2009/04 Refereed English Disclose to all
K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu 2-port Modeling Technique for Surface-mount Passive Components 2-port Modeling Technique for Surface-mount Passive Components 2-port Modeling Technique for Surface-mount Passive Components IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 976-982 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 976-982 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E92-A, 4, 976-982 2009/04 Refereed English Disclose to all
K. Yamada, T. Sato, N. Nakayama, S. Amakawa, K. Masu, and S. Kumashiro K. Yamada, T. Sato, N. Nakayama, S. Amakawa, K. Masu, and S. Kumashiro K. Yamada, T. Sato, N. Nakayama, S. Amakawa, K. Masu, and S. Kumashiro Layout-aware Compact Model of MOSFET Characteristics Variations Induced by STI Stress Layout-aware Compact Model of MOSFET Characteristics Variations Induced by STI Stress Layout-aware Compact Model of MOSFET Characteristics Variations Induced by STI Stress IEICE Transactions on Electronics, E91-C, 7, 1142-1150 IEICE Transactions on Electronics, E91-C, 7, 1142-1150 IEICE Transactions on Electronics, E91-C, 7, 1142-1150 2008/07 Refereed English Disclose to all
S. Hagiwara, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu S. Hagiwara, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu S. Hagiwara, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu Application of Correlation-based Regression Analysis for Improvement of Power Distribution Network Application of Correlation-based Regression Analysis for Improvement of Power Distribution Network Application of Correlation-based Regression Analysis for Improvement of Power Distribution Network IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E91-A, 4, 951-956 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E91-A, 4, 951-956 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E91-A, 4, 951-956 2008/04 Refereed English Disclose to all
M. Imai, T. Sato, N. Nakayama, and K. Masu M. Imai, T. Sato, N. Nakayama, and K. Masu M. Imai, T. Sato, N. Nakayama, and K. Masu An Evaluation Method of the Number of Monte Carlo STA Trials for Statistical Path Delay Analysis An Evaluation Method of the Number of Monte Carlo STA Trials for Statistical Path Delay Analysis An Evaluation Method of the Number of Monte Carlo STA Trials for Statistical Path Delay Analysis IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E91-A, 4, 957-964 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E91-A, 4, 957-964 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E91-A, 4, 957-964 2008/04 Refereed English Disclose to all
M. Hashimoto, J. Yamaguchi, T. Sato, and H. Onodera M. Hashimoto, J. Yamaguchi, T. Sato, and H. Onodera M. Hashimoto, J. Yamaguchi, T. Sato, and H. Onodera Timing Analysis Considering Temporal Supply Voltage Fluctuation Timing Analysis Considering Temporal Supply Voltage Fluctuation Timing Analysis Considering Temporal Supply Voltage Fluctuation IEICE Transactions on Information and Systems, E91-D, 3, 655-660 IEICE Transactions on Information and Systems, E91-D, 3, 655-660 IEICE Transactions on Information and Systems, E91-D, 3, 655-660 2008/03 Refereed English Disclose to all
Y. Ogasahara, T. Enami, M. Hashimoto, T. Sato, and T. Onoye Y. Ogasahara, T. Enami, M. Hashimoto, T. Sato, and T. Onoye Y. Ogasahara, T. Enami, M. Hashimoto, T. Sato, and T. Onoye Validation of a Full-chip Simulation Model for Supply Noise and Delay Dependence on Average Voltage Drop With On-chip Delay Measurement Validation of a Full-chip Simulation Model for Supply Noise and Delay Dependence on Average Voltage Drop With On-chip Delay Measurement Validation of a Full-chip Simulation Model for Supply Noise and Delay Dependence on Average Voltage Drop With On-chip Delay Measurement IEEE Transactions on Circuits and Systems--II: Express Briefs (TCASII), 54, 10, 868-872 IEEE Transactions on Circuits and Systems--II: Express Briefs (TCASII), 54, 10, 868-872 IEEE Transactions on Circuits and Systems--II: Express Briefs (TCASII), 54, 10, 868-872 2007/10 Refereed English Disclose to all
H. Kobayashi, N. Ono, T. Sato, J. Iwai, H. Nakashima, T. Okumura, and M. Hashimoto H. Kobayashi, N. Ono, T. Sato, J. Iwai, H. Nakashima, T. Okumura, and M. Hashimoto H. Kobayashi, N. Ono, T. Sato, J. Iwai, H. Nakashima, T. Okumura, and M. Hashimoto Proposal of Metrics for SSTA Accuracy Evaluation Proposal of Metrics for SSTA Accuracy Evaluation Proposal of Metrics for SSTA Accuracy Evaluation IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E90-A, 4, 808-814 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E90-A, 4, 808-814 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E90-A, 4, 808-814 2007/04 Refereed English Disclose to all
T. Sato, J. Ichimiya, N. Ono, and M. Hashimoto T. Sato, J. Ichimiya, N. Ono, and M. Hashimoto T. Sato, J. Ichimiya, N. Ono, and M. Hashimoto On-chip Thermal Gradient Analysis Considering Interdependence Between Leakage Power and Temperature On-chip Thermal Gradient Analysis Considering Interdependence Between Leakage Power and Temperature On-chip Thermal Gradient Analysis Considering Interdependence Between Leakage Power and Temperature IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E89-A, 12, 3491-3499 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E89-A, 12, 3491-3499 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E89-A, 12, 3491-3499 2006/12 Refereed English Disclose to all
K. Hachiya, H. Kobayashi, T. Okumura, T. Sato, and H. Oka K. Hachiya, H. Kobayashi, T. Okumura, T. Sato, and H. Oka K. Hachiya, H. Kobayashi, T. Okumura, T. Sato, and H. Oka A Method to Derive SSO Design Rule Considering Jitter Constraint A Method to Derive SSO Design Rule Considering Jitter Constraint A Method to Derive SSO Design Rule Considering Jitter Constraint IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E89-A, 4, 865-872 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E89-A, 4, 865-872 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E89-A, 4, 865-872 2006/04 Refereed English Disclose to all
T. Sato, J. Ichimiya, N. Ono, K. Hachiya, and M. Hashimoto T. Sato, J. Ichimiya, N. Ono, K. Hachiya, and M. Hashimoto T. Sato, J. Ichimiya, N. Ono, K. Hachiya, and M. Hashimoto On-chip Thermal Gradient Analysis and Temperature Flattening for SoC Design On-chip Thermal Gradient Analysis and Temperature Flattening for SoC Design On-chip Thermal Gradient Analysis and Temperature Flattening for SoC Design IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E88-A, 12, 3382-3389 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E88-A, 12, 3382-3389 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E88-A, 12, 3382-3389 2005/12 Refereed English Disclose to all
T. Sato, M. Hashimoto, and H. Onodera T. Sato, M. Hashimoto, and H. Onodera T. Sato, M. Hashimoto, and H. Onodera Successive Pad Assignment Algorithm to Optimize Number and Location of Power Supply Pad Using Incremental Matrix Inversion Successive Pad Assignment Algorithm to Optimize Number and Location of Power Supply Pad Using Incremental Matrix Inversion Successive Pad Assignment Algorithm to Optimize Number and Location of Power Supply Pad Using Incremental Matrix Inversion IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E88-A, 12, 3429-3436 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E88-A, 12, 3429-3436 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E88-A, 12, 3429-3436 2005/12 Refereed English Disclose to all
T. Sato and H. Masuda T. Sato and H. Masuda T. Sato and H. Masuda Design and Measurement of an Inductance-oscillator for Analyzing On-chip Inductance Impact on Wire Delay Design and Measurement of an Inductance-oscillator for Analyzing On-chip Inductance Impact on Wire Delay Design and Measurement of an Inductance-oscillator for Analyzing On-chip Inductance Impact on Wire Delay Journal of Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 42, 3, 209-217 Journal of Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 42, 3, 209-217 Journal of Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 42, 3, 209-217 2005/03 Refereed English Disclose to all
K. Takeuchi, K. Yanagisawa, T. Sato, K. Sakamoto, and S. Hojo K. Takeuchi, K. Yanagisawa, T. Sato, K. Sakamoto, and S. Hojo K. Takeuchi, K. Yanagisawa, T. Sato, K. Sakamoto, and S. Hojo Probabilistic Crosstalk Delay Estimation for ASICs Probabilistic Crosstalk Delay Estimation for ASICs Probabilistic Crosstalk Delay Estimation for ASICs IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 23, 9, 1377-1383 IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 23, 9, 1377-1383 IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 23, 9, 1377-1383 2004/09 Refereed English Disclose to all
A. Kurokawa, T. Sato, and H. Masuda A. Kurokawa, T. Sato, and H. Masuda A. Kurokawa, T. Sato, and H. Masuda Approximation Formula Approach for the Efficient Extraction of On-chip Inductance Approximation Formula Approach for the Efficient Extraction of On-chip Inductance Approximation Formula Approach for the Efficient Extraction of On-chip Inductance IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E86-A, 12, 2933-2941 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E86-A, 12, 2933-2941 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E86-A, 12, 2933-2941 2003/12 Refereed English Disclose to all
Y. Cao, M. Orshansky, T. Sato, D. Sylvester, and C. Hu Y. Cao, M. Orshansky, T. Sato, D. Sylvester, and C. Hu Y. Cao, M. Orshansky, T. Sato, D. Sylvester, and C. Hu Spice Up Your MOSFET Modeling Spice Up Your MOSFET Modeling Spice Up Your MOSFET Modeling IEEE Circuits and Devices Magazine, 19, 4, 17-23 IEEE Circuits and Devices Magazine, 19, 4, 17-23 IEEE Circuits and Devices Magazine, 19, 4, 17-23 2003/07 Refereed English Disclose to all
金本 俊幾, 佐藤 高史, 黒川 敦, 川上 善之, 岡 宏規, 北浦 智靖, 小林 宏之, 橋本 昌宜 金本 俊幾, 佐藤 高史, 黒川 敦, 川上 善之, 岡 宏規, 北浦 智靖, 小林 宏之, 橋本 昌宜 遅延計算におけるインダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法 遅延計算におけるインダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法 情報処理学会論文誌, 44, 5, 1301-1310 情報処理学会論文誌, 44, 5, 1301-1310 , 44, 5, 1301-1310 2003/05 Refereed Japanese Disclose to all
T. Sato, Y. Cao, K. Agarwal, D. Sylvester, and C. Hu T. Sato, Y. Cao, K. Agarwal, D. Sylvester, and C. Hu T. Sato, Y. Cao, K. Agarwal, D. Sylvester, and C. Hu Bi-directional Closed-form Transformation Between On-chip Coupling Noise Waveforms and Interconnect Delay Change Curves Bi-directional Closed-form Transformation Between On-chip Coupling Noise Waveforms and Interconnect Delay Change Curves Bi-directional Closed-form Transformation Between On-chip Coupling Noise Waveforms and Interconnect Delay Change Curves IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 22, 5, 560-572 IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 22, 5, 560-572 IEEE Transactions on Computer-Aided Design, 22, 5, 560-572 2003/05 Refereed English Disclose to all
A. Kurokawa, K. Hachiya, T. Sato, K. Tokumasu, and H. Masuda A. Kurokawa, K. Hachiya, T. Sato, K. Tokumasu, and H. Masuda A. Kurokawa, K. Hachiya, T. Sato, K. Tokumasu, and H. Masuda Fast On-chip Inductance Extraction of VLSI Including Angled Interconnects Fast On-chip Inductance Extraction of VLSI Including Angled Interconnects Fast On-chip Inductance Extraction of VLSI Including Angled Interconnects IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E86-A, 4, 841-845 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E86-A, 4, 841-845 IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E86-A, 4, 841-845 2003/04 Refereed English Disclose to all
T. Sato, D. Sylvester, Y. Cao, and C. Hu T. Sato, D. Sylvester, Y. Cao, and C. Hu T. Sato, D. Sylvester, Y. Cao, and C. Hu Accurate In-situ Measurement of Noise Peak and Delay Induced by Interconnect Coupling Accurate In-situ Measurement of Noise Peak and Delay Induced by Interconnect Coupling Accurate In-situ Measurement of Noise Peak and Delay Induced by Interconnect Coupling IEEE Journal of Solid-State Circuits, 36, 10, 1587-1591 IEEE Journal of Solid-State Circuits, 36, 10, 1587-1591 IEEE Journal of Solid-State Circuits, 36, 10, 1587-1591 2001/10 Refereed English Disclose to all
T. Sato, Y. Nishio, T. Sugano, and Y. Nakagome T. Sato, Y. Nishio, T. Sugano, and Y. Nakagome T. Sato, Y. Nishio, T. Sugano, and Y. Nakagome A 5 GBytes/s Data Transfer Scheme With Bit-to-bit Skew Control for Synchronous DRAM A 5 GBytes/s Data Transfer Scheme With Bit-to-bit Skew Control for Synchronous DRAM A 5 GBytes/s Data Transfer Scheme With Bit-to-bit Skew Control for Synchronous DRAM IEEE Journal of Solid-State Circuits, 34, 5, 653-660 IEEE Journal of Solid-State Circuits, 34, 5, 653-660 IEEE Journal of Solid-State Circuits, 34, 5, 653-660 1999/05 Refereed English Disclose to all

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Misc
Author Author(Japanese) Author(English) Title Title(Japanese) Title(English) Bibliography Bibliography(Japanese) Bibliography(English) Publication date Refereed paper Language Publishing type Disclose
Y. Kume, S. Bian, and T. Sato Y. Kume, S. Bian, and T. Sato Y. Kume, S. Bian, and T. Sato A Tuning-free Hardware Reservoir Based on MOSFET Crossbar Array for Practical Echo State Network Implementation (accepted) A Tuning-free Hardware Reservoir Based on MOSFET Crossbar Array for Practical Echo State Network Implementation (accepted) A Tuning-free Hardware Reservoir Based on MOSFET Crossbar Array for Practical Echo State Network Implementation (accepted) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2020/01 Refereed English Disclose to all
M. Nakamura and T. Sato M. Nakamura and T. Sato M. Nakamura and T. Sato Heart Rate Estimation During Exercise from Photoplethysmographic Signals Using Convolutional Neural Network (accepted) Heart Rate Estimation During Exercise from Photoplethysmographic Signals Using Convolutional Neural Network (accepted) Heart Rate Estimation During Exercise from Photoplethysmographic Signals Using Convolutional Neural Network (accepted) Biomedical Circuits and Systems Conference (BIOCAS), vol, no Biomedical Circuits and Systems Conference (BIOCAS), vol, no Biomedical Circuits and Systems Conference (BIOCAS), vol, no 2019/10 Refereed English Disclose to all
K. Oshima, S. Bian, and T. Sato K. Oshima, S. Bian, and T. Sato K. Oshima, S. Bian, and T. Sato Estimation of NBTI-induced Timing Degradation Considering Duty Ratio (accepted) Estimation of NBTI-induced Timing Degradation Considering Duty Ratio (accepted) Estimation of NBTI-induced Timing Degradation Considering Duty Ratio (accepted) The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster XX-YY The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster XX-YY The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster XX-YY 2019/10 Refereed English Disclose to all
T. Ono, S. Bian, and T. Sato T. Ono, S. Bian, and T. Sato T. Ono, S. Bian, and T. Sato Improved Multiplier Architecture on ASIC for RLWE-based Key Exchange (accepted) Improved Multiplier Architecture on ASIC for RLWE-based Key Exchange (accepted) Improved Multiplier Architecture on ASIC for RLWE-based Key Exchange (accepted) The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster XX-YY The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster XX-YY The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster XX-YY 2019/10 Refereed English Disclose to all
Y. Kume, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Kume, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Kume, M. Hiromoto, and T. Sato A Tuning-free Reservoir of MOSFET Crossbar Array for Inexpensive Hardware Realization of Echo State Network (accepted) A Tuning-free Reservoir of MOSFET Crossbar Array for Inexpensive Hardware Realization of Echo State Network (accepted) A Tuning-free Reservoir of MOSFET Crossbar Array for Inexpensive Hardware Realization of Echo State Network (accepted) The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster XX-YY The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster XX-YY The 22nd workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster XX-YY 2019/10 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, H. Tsukamoto, and T. Sato M. Shintani, H. Tsukamoto, and T. Sato M. Shintani, H. Tsukamoto, and T. Sato Parameter Extraction Procedure for Surface-potential-based SiC MOSFET Model (accepted) Parameter Extraction Procedure for Surface-potential-based SiC MOSFET Model (accepted) Parameter Extraction Procedure for Surface-potential-based SiC MOSFET Model (accepted) IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) 2019/10 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, K. Oishi, and T. Sato M. Shintani, K. Oishi, and T. Sato M. Shintani, K. Oishi, and T. Sato A Three-level Active Gate Drive Circuit for Power MOSFETs Utilizing a Generic Gate Driver IC (accepted) A Three-level Active Gate Drive Circuit for Power MOSFETs Utilizing a Generic Gate Driver IC (accepted) A Three-level Active Gate Drive Circuit for Power MOSFETs Utilizing a Generic Gate Driver IC (accepted) International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM) International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM) International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM) 2019/09 Refereed English Disclose to all
K. Oshima, M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato K. Oshima, M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato K. Oshima, M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato Experimental Study of Bias Stress Degradation of Organic Thin Film Transistors (accepted) Experimental Study of Bias Stress Degradation of Organic Thin Film Transistors (accepted) Experimental Study of Bias Stress Degradation of Organic Thin Film Transistors (accepted) International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), J-X-YY International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), J-X-YY International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), J-X-YY 2019/09 Refereed English Disclose to all
大島 國弘, 齋藤 成晃, 新谷 道広, 栗原 一徳, 小笠原 泰弘, 佐藤 高史 大島 國弘, 齋藤 成晃, 新谷 道広, 栗原 一徳, 小笠原 泰弘, 佐藤 高史 有機薄膜トランジスタの実測に基づくバイアス・ストレス劣化の要因とモデル化に関する検討 有機薄膜トランジスタの実測に基づくバイアス・ストレス劣化の要因とモデル化に関する検討 DA シンポジウム, 214-219 DA シンポジウム, 214-219 , 214-219 2019/08 Refereed Japanese Disclose to all
中村 公暉, 廣本 正之, 佐藤 高史 中村 公暉, 廣本 正之, 佐藤 高史 畳み込みニューラルネットワークを利用した光電容積脈波からの運動時心拍推定手法 畳み込みニューラルネットワークを利用した光電容積脈波からの運動時心拍推定手法 回路とシステムワークショップ, 7-12 回路とシステムワークショップ, 7-12 , 7-12 2019/08 Refereed Japanese Disclose to all
Z. Qin, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato Z. Qin, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato Z. Qin, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato OCM-PUF: An Organic Current Mirror PUF With Enhanced Resilience to Device Degradation OCM-PUF: An Organic Current Mirror PUF With Enhanced Resilience to Device Degradation OCM-PUF: An Organic Current Mirror PUF With Enhanced Resilience to Device Degradation IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS), P-47, XXX-YYY IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS), P-47, XXX-YYY IEEE International Conference on Flexible and Printable Sensors and Systems (FLEPS), P-47, XXX-YYY 2019/07 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Filianore: Better Multiplier Architectures for LWE-based Post-quantum Key Exchange Filianore: Better Multiplier Architectures for LWE-based Post-quantum Key Exchange Filianore: Better Multiplier Architectures for LWE-based Post-quantum Key Exchange ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 52.4:1-52.4:6 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 52.4:1-52.4:6 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 52.4:1-52.4:6 2019/06 Refereed English Disclose to all
党 璋, 佐藤 高史 党 璋, 佐藤 高史 レプリカ交換イジングモデルソルバにおけるレプリカトポロジーと温度割当方法に関する検討 レプリカ交換イジングモデルソルバにおけるレプリカトポロジーと温度割当方法に関する検討 信学技報 VLD研究会, VLD2019-1, 7-12 信学技報 VLD研究会, VLD2019-1, 7-12 , VLD2019-1, 7-12 2019/05 Japanese Disclose to all
S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato DArL: Dynamic Parameter Adjustment for LWE-based Secure Inference DArL: Dynamic Parameter Adjustment for LWE-based Secure Inference DArL: Dynamic Parameter Adjustment for LWE-based Secure Inference Design, Automation and Test in Europe (DATE), 1718-1723 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 1718-1723 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 1718-1723 2019/03 Refereed English Disclose to all
M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato A Compact Model of I-V Characteristic Degradation for Organic Thin Film Transistors A Compact Model of I-V Characteristic Degradation for Organic Thin Film Transistors A Compact Model of I-V Characteristic Degradation for Organic Thin Film Transistors IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 194-199 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 194-199 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 194-199 2019/03 Refereed English Disclose to all
H. Tsukamoto, M. Shintani, and T. Sato H. Tsukamoto, M. Shintani, and T. Sato H. Tsukamoto, M. Shintani, and T. Sato Study on Statistical Parameter Extraction of Power MOSFET Model by Principal Component Analysis Study on Statistical Parameter Extraction of Power MOSFET Model by Principal Component Analysis Study on Statistical Parameter Extraction of Power MOSFET Model by Principal Component Analysis IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 107-112 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 107-112 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 107-112 2019/03 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Towards Practical Homomorphic Email Filtering: A Hardware-accelerated Secure Naive Bayesian Filter Towards Practical Homomorphic Email Filtering: A Hardware-accelerated Secure Naive Bayesian Filter Towards Practical Homomorphic Email Filtering: A Hardware-accelerated Secure Naive Bayesian Filter IEICE Technical Report, VLD2018-115, 133-138 IEICE Technical Report, VLD2018-115, 133-138 IEICE Technical Report, VLD2018-115, 133-138 2019/02 English Disclose to all
S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Towards Practical Homomorphic Email Filtering: A Hardware-accelerated Secure Naive Bayesian Filter Towards Practical Homomorphic Email Filtering: A Hardware-accelerated Secure Naive Bayesian Filter Towards Practical Homomorphic Email Filtering: A Hardware-accelerated Secure Naive Bayesian Filter ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 621-626 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 621-626 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 621-626 2019/01 Refereed English Disclose to all
M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato Initial Parameter Extraction Procedure for Surface-potential-based SiC MOSFET Model Initial Parameter Extraction Procedure for Surface-potential-based SiC MOSFET Model Initial Parameter Extraction Procedure for Surface-potential-based SiC MOSFET Model Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-3 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-3 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-3 2018/11 Refereed English Disclose to all
H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato Enhancing the Solution Quality of Hardware Ising-model Solver via Parallel Tempering Enhancing the Solution Quality of Hardware Ising-model Solver via Parallel Tempering Enhancing the Solution Quality of Hardware Ising-model Solver via Parallel Tempering IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 1-6 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 1-6 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 1-6 2018/11 Refereed English Disclose to all
Z. Qin, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato Z. Qin, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato Z. Qin, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato An Experimental Design of Robust Current-mode Arbiter PUF Using Organic Thin Film Transistors An Experimental Design of Robust Current-mode Arbiter PUF Using Organic Thin Film Transistors An Experimental Design of Robust Current-mode Arbiter PUF Using Organic Thin Film Transistors IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 1-6 IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 1-6 IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 1-6 2018/11 Refereed English Disclose to all
M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, and T. Sato Measurement and Modeling of Frequency Degradation of an oTFT Ring Oscillator Measurement and Modeling of Frequency Degradation of an oTFT Ring Oscillator Measurement and Modeling of Frequency Degradation of an oTFT Ring Oscillator IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 1-6 IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 1-6 IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 1-6 2018/11 Refereed English Disclose to all
T. Sato T. Sato T. Sato A Transient Approach for Input Capacitance Characterization of Power Devices (Invited) A Transient Approach for Input Capacitance Characterization of Power Devices (Invited) A Transient Approach for Input Capacitance Characterization of Power Devices (Invited) IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 1-6 IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 1-6 IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 1-6 2018/11 Refereed English Disclose to all
大島 國弘, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 大島 國弘, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 レプリカセンサを用いたNBTIによる回路特性変動予測に関する検討 レプリカセンサを用いたNBTIによる回路特性変動予測に関する検討 信学技報 VLD研究会(デザインガイア), VLD2018-67, 195-200 信学技報 VLD研究会(デザインガイア), VLD2018-67, 195-200 , VLD2018-67, 195-200 2018/11 Japanese Disclose to all
M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato M. Saito, M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato On the Reset Operation of Organic Cross-coupled Inverter On the Reset Operation of Organic Cross-coupled Inverter On the Reset Operation of Organic Cross-coupled Inverter International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), J-3-03, 565-566 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), J-3-03, 565-566 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), J-3-03, 565-566 2018/09 Refereed English Disclose to all
小野 龍輝, 田中 悠貴, 新 瑞徳, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 小野 龍輝, 田中 悠貴, 新 瑞徳, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 NBTI劣化によるArbiter PUFの応答変化に関する検討 NBTI劣化によるArbiter PUFの応答変化に関する検討 電子情報通信学会 総合大会, A-20-5, 184-184 電子情報通信学会 総合大会, A-20-5, 184-184 , A-20-5, 184-184 2018/09 Japanese Disclose to all
辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 Approximate computing を用いたLWE暗号の高効率復号回路 Approximate computing を用いたLWE暗号の高効率復号回路 DA シンポジウム, 208-213 DA シンポジウム, 208-213 , 208-213 2018/08 Refereed Japanese Disclose to all
田中 悠貴, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 田中 悠貴, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 メモリスタを用いた等価な応答を返すPUF対の検討 メモリスタを用いた等価な応答を返すPUF対の検討 DA シンポジウム, 124-129 DA シンポジウム, 124-129 , 124-129 2018/08 Refereed Japanese Disclose to all
Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato Fast and Robust Heart Rate Estimation from Videos Through Dynamic Region Selection Fast and Robust Heart Rate Estimation from Videos Through Dynamic Region Selection Fast and Robust Heart Rate Estimation from Videos Through Dynamic Region Selection International Engineering in Medicine and Biology Conference (EMBC), 1-6 International Engineering in Medicine and Biology Conference (EMBC), 1-6 International Engineering in Medicine and Biology Conference (EMBC), 1-6 2018/07 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato DWE: Decrypting Learning With Errors With Errors DWE: Decrypting Learning With Errors With Errors DWE: Decrypting Learning With Errors With Errors ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 10.3:1-10.3:6 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 10.3:1-10.3:6 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 10.3:1-10.3:6 2018/06 Refereed English Disclose to all
T. Ujiie, M. Hiromoto, and T. Sato T. Ujiie, M. Hiromoto, and T. Sato T. Ujiie, M. Hiromoto, and T. Sato Interpolation-based Object Detection Using Motion Vectors for Embedded Real-time Tracking Systems Interpolation-based Object Detection Using Motion Vectors for Embedded Real-time Tracking Systems Interpolation-based Object Detection Using Motion Vectors for Embedded Real-time Tracking Systems IEEE Embedded Vision Workshop, 729-737 IEEE Embedded Vision Workshop, 729-737 IEEE Embedded Vision Workshop, 729-737 2018/06 Refereed English Disclose to all
名倉 健太, 廣本 正之, 佐藤 高史 名倉 健太, 廣本 正之, 佐藤 高史 ストカスティック計算を用いたニューラルネットワークハードウェアのための省面積積和演算器 ストカスティック計算を用いたニューラルネットワークハードウェアのための省面積積和演算器 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2018-18, 83, 81-86 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2018-18, 83, 81-86 , VLD2018-18, 83, 81-86 2018/06 Japanese Disclose to all
Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Coin Flipping PUF: A New PUF With Improved Resistance Against Machine Learning Attacks (accepted) Coin Flipping PUF: A New PUF With Improved Resistance Against Machine Learning Attacks (accepted) Coin Flipping PUF: A New PUF With Improved Resistance Against Machine Learning Attacks (accepted) IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) 2018/05 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, B. N. Dauphin, K. Oishi, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, B. N. Dauphin, K. Oishi, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, B. N. Dauphin, K. Oishi, M. Hiromoto, and T. Sato A Plotter-based Automatic Measurements and Statistical Characterization of Multiple Discrete Power Devices A Plotter-based Automatic Measurements and Statistical Characterization of Multiple Discrete Power Devices A Plotter-based Automatic Measurements and Statistical Characterization of Multiple Discrete Power Devices International power electronics conference (IPEC), 3644-3649 International power electronics conference (IPEC), 3644-3649 International power electronics conference (IPEC), 3644-3649 2018/05 Refereed English Disclose to all
S. Matsumoto, H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato S. Matsumoto, H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato S. Matsumoto, H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato RRAM/CMOS-hybrid Architecture of Annealing Processor for Fully Connected Ising Model RRAM/CMOS-hybrid Architecture of Annealing Processor for Fully Connected Ising Model RRAM/CMOS-hybrid Architecture of Annealing Processor for Fully Connected Ising Model IEEE International Memory Workshop (IMW), 70-73 IEEE International Memory Workshop (IMW), 70-73 IEEE International Memory Workshop (IMW), 70-73 2018/05 Refereed English Disclose to all
三宅 哲史, 廣本 正之, 佐藤 高史 三宅 哲史, 廣本 正之, 佐藤 高史 畳み込みニューラルネットワークの周波数領域学習による演算量削減 畳み込みニューラルネットワークの周波数領域学習による演算量削減 回路とシステムワークショップ, 130-135 回路とシステムワークショップ, 130-135 , 130-135 2018/05 Refereed Japanese Disclose to all
齊藤 成晃, 新谷 道広, 栗原 一徳, 小笠原 泰弘, 廣本 正之, 佐藤 高史 齊藤 成晃, 新谷 道広, 栗原 一徳, 小笠原 泰弘, 廣本 正之, 佐藤 高史 有機トランジスタによるBuskeeper PUFの試作と連続測定のためのリセット回路の検討 有機トランジスタによるBuskeeper PUFの試作と連続測定のためのリセット回路の検討 回路とシステムワークショップ, 54-59 回路とシステムワークショップ, 54-59 , 54-59 2018/05 Refereed Japanese Disclose to all
松本 章吾, 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 松本 章吾, 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 多ビットの相互作用をもつ全接続イジングモデルのためのRRAMアニーリングプロセッサ 多ビットの相互作用をもつ全接続イジングモデルのためのRRAMアニーリングプロセッサ 回路とシステムワークショップ, 48-53 回路とシステムワークショップ, 48-53 , 48-53 2018/05 Refereed Japanese Disclose to all
Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Fujita, M. Hiromoto, and T. Sato Fast and Robust Heart Rate Estimation Using Inexpensive Cameras Through Dynamic Region Selection (accepted) Fast and Robust Heart Rate Estimation Using Inexpensive Cameras Through Dynamic Region Selection (accepted) Fast and Robust Heart Rate Estimation Using Inexpensive Cameras Through Dynamic Region Selection (accepted) IEEE Conference on Biomedical and Health Informatics (BHI) IEEE Conference on Biomedical and Health Informatics (BHI) IEEE Conference on Biomedical and Health Informatics (BHI) 2018/03 Refereed English Disclose to all
Z. Shin, S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Z. Shin, S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Z. Shin, S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Comparative Study of Delay Degradation Caused by NBTI Considering Stress Frequency Dependence Comparative Study of Delay Degradation Caused by NBTI Considering Stress Frequency Dependence Comparative Study of Delay Degradation Caused by NBTI Considering Stress Frequency Dependence The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R3-2, 194-199 The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R3-2, 194-199 The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R3-2, 194-199 2018/03 Refereed English Disclose to all
S. Matsumoto, H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato S. Matsumoto, H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato S. Matsumoto, H. Gyoten, M. Hiromoto, and T. Sato A Feasibility Study of Annealing Processor for Fully-connected Ising Model Based on Memristor/CMOS Hybrid Architecture A Feasibility Study of Annealing Processor for Fully-connected Ising Model Based on Memristor/CMOS Hybrid Architecture A Feasibility Study of Annealing Processor for Fully-connected Ising Model Based on Memristor/CMOS Hybrid Architecture The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R1-10, 45-50 The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R1-10, 45-50 The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R1-10, 45-50 2018/03 Refereed English Disclose to all
Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Y. Tanaka, S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato A PUF Based on the Instantaneous Response of Ring Oscillator Determined by the Convergence Time of Bistable Ring A PUF Based on the Instantaneous Response of Ring Oscillator Determined by the Convergence Time of Bistable Ring A PUF Based on the Instantaneous Response of Ring Oscillator Determined by the Convergence Time of Bistable Ring The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R1-6, 30-34 The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R1-6, 30-34 The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R1-6, 30-34 2018/03 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Efficient Parameter-extraction of SPICE Compact Model Through Automatic Differentiation Efficient Parameter-extraction of SPICE Compact Model Through Automatic Differentiation Efficient Parameter-extraction of SPICE Compact Model Through Automatic Differentiation IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 35-42 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 35-42 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 35-42 2018/03 Refereed English Disclose to all
H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato Ising-PUF: A Machine Learning Attack Resistant PUF Featuring Lattice Like Arrangement of Arbiter-PUFs Ising-PUF: A Machine Learning Attack Resistant PUF Featuring Lattice Like Arrangement of Arbiter-PUFs Ising-PUF: A Machine Learning Attack Resistant PUF Featuring Lattice Like Arrangement of Arbiter-PUFs Design, Automation and Test in Europe (DATE), 1459-1464 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 1459-1464 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 1459-1464 2018/03 Refereed English Disclose to all
Z. Shin, S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Z. Shin, S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Z. Shin, S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato A Study on NBTI-induced Delay Degradation Considering Stress Frequency Dependence A Study on NBTI-induced Delay Degradation Considering Stress Frequency Dependence A Study on NBTI-induced Delay Degradation Considering Stress Frequency Dependence International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 251-256 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 251-256 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 251-256 2018/03 Refereed English Disclose to all
T. Sato, K. Oishi, M. Hiromoto, and M. Shintani T. Sato, K. Oishi, M. Hiromoto, and M. Shintani T. Sato, K. Oishi, M. Hiromoto, and M. Shintani Electrical and Thermal Characterization of SiC Power MOSFET (Invited) Electrical and Thermal Characterization of SiC Power MOSFET (Invited) Electrical and Thermal Characterization of SiC Power MOSFET (Invited) China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 9-23, 1-4 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 9-23, 1-4 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 9-23, 1-4 2018/03 Refereed English Disclose to all
S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Efficient Exploration of Worst Case Workload and Timing Degradation Under NBTI Efficient Exploration of Worst Case Workload and Timing Degradation Under NBTI Efficient Exploration of Worst Case Workload and Timing Degradation Under NBTI ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 631-636 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 631-636 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 631-636 2018/01 Refereed English Disclose to all
氏家 隆之, 廣本正之, 佐藤 高史 氏家 隆之, 廣本正之, 佐藤 高史 動画像コーデックの動きベクトル援用によるCNN物体検出の負荷緩和 動画像コーデックの動きベクトル援用によるCNN物体検出の負荷緩和 情報処理学会 第210回コンピュータビジョンとイメージメディア研究発表会, CVIM2018-210, 4, 1-8 情報処理学会 第210回コンピュータビジョンとイメージメディア研究発表会, CVIM2018-210, 4, 1-8 , CVIM2018-210, 4, 1-8 2018/01 Japanese Disclose to all
M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Parameter Extraction for MOSFEET Current Model Using Backward Propagation of Errors Parameter Extraction for MOSFEET Current Model Using Backward Propagation of Errors Parameter Extraction for MOSFEET Current Model Using Backward Propagation of Errors Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-6 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-6 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-6 2017/11 Refereed English Disclose to all
大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 汎用ゲートドライバICを利用したパワーMOSFETの3レベルアクティブゲート駆動回路 汎用ゲートドライバICを利用したパワーMOSFETの3レベルアクティブゲート駆動回路 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-17-168, 93-98 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-17-168, 93-98 , SPC-17-168, 93-98 2017/11 Japanese Disclose to all
佐藤 高史, 大石一輝, 廣本正之, 新谷道広 佐藤 高史, 大石一輝, 廣本正之, 新谷道広 SiCパワーMOSFETの特性測定とモデル化(招待) SiCパワーMOSFETの特性測定とモデル化(招待) 信学技報 SDM研究会, SDM2017-65, 21-26 信学技報 SDM研究会, SDM2017-65, 21-26 , SDM2017-65, 21-26 2017/11 Japanese Disclose to all
田中 悠貴, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 田中 悠貴, 辺 松, 廣本 正之, 佐藤 高史 双安定リング回路の収束時間により瞬時値応答を得る発振回路PUF 双安定リング回路の収束時間により瞬時値応答を得る発振回路PUF 信学技報 VLD研究会(デザインガイア), VLD2017-40, 79-84 信学技報 VLD研究会(デザインガイア), VLD2017-40, 79-84 , VLD2017-40, 79-84 2017/11 Japanese Disclose to all
M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, K. Kuribara, Y. Ogasahara, M. Hiromoto, and T. Sato A Design-analysis Flow Considering Mechanical Stability of Metal Masks for Organic CMOS Circuits A Design-analysis Flow Considering Mechanical Stability of Metal Masks for Organic CMOS Circuits A Design-analysis Flow Considering Mechanical Stability of Metal Masks for Organic CMOS Circuits International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), B-3-5, 91-92 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), B-3-5, 91-92 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), B-3-5, 91-92 2017/09 Refereed English Disclose to all
Qin Zhaoxing, 新谷 道広, 廣本 正之, 栗原 一徳, 小笠原 泰弘, 佐藤 高史 Qin Zhaoxing, 新谷 道広, 廣本 正之, 栗原 一徳, 小笠原 泰弘, 佐藤 高史 有機トランジスタCMOS回路製造のためのメタルマスクの要素設計ルールに関する一検討 有機トランジスタCMOS回路製造のためのメタルマスクの要素設計ルールに関する一検討 電子情報通信学会 総合大会, A-6-9, 52-52 電子情報通信学会 総合大会, A-6-9, 52-52 , A-6-9, 52-52 2017/09 Japanese Disclose to all
S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption DA Symposium, 133-138 DA Symposium, 133-138 DA Symposium, 133-138 2017/08 Refereed English Disclose to all
粟野 皓光, 佐藤 高史 粟野 皓光, 佐藤 高史 チャレンジヒステリシス特性を有するPUFの設計とシミュレーションに基づく性能評価 チャレンジヒステリシス特性を有するPUFの設計とシミュレーションに基づく性能評価 DA シンポジウム, 79-84 DA シンポジウム, 79-84 , 79-84 2017/08 Refereed Japanese Disclose to all
ベンジャミン ドーファン, 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 ベンジャミン ドーファン, 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 特性曲線を特徴ベクトルとした機械学習によるパワーデバイスの個体識別 特性曲線を特徴ベクトルとした機械学習によるパワーデバイスの個体識別 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-17-108, 19-24 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-17-108, 19-24 , SPC-17-108, 19-24 2017/07 Japanese Disclose to all
S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato LSTA: Learning-based Static Timing Analysis for High-dimensional Correlated On-chip Variations LSTA: Learning-based Static Timing Analysis for High-dimensional Correlated On-chip Variations LSTA: Learning-based Static Timing Analysis for High-dimensional Correlated On-chip Variations ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 66:1-66:6 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 66:1-66:6 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 66:1-66:6 2017/06 Refereed English Disclose to all
ベンジャミン ドーファン, 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 ベンジャミン ドーファン, 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 プロッタを利用したディスクリートパワーデバイスの自動測定装置 プロッタを利用したディスクリートパワーデバイスの自動測定装置 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-17-103, 19-24 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-17-103, 19-24 , SPC-17-103, 19-24 2017/06 Japanese Disclose to all
新 瑞徳, 森田 俊平, 新谷 道新, 廣本 正之, 佐藤 高史 新 瑞徳, 森田 俊平, 新谷 道新, 廣本 正之, 佐藤 高史 トランジスタ劣化の永続・回復可能成分を考慮したしきい値電圧変動の時間依存モデル トランジスタ劣化の永続・回復可能成分を考慮したしきい値電圧変動の時間依存モデル 回路とシステムワークショップ, 208-213 回路とシステムワークショップ, 208-213 , 208-213 2017/05 Refereed Japanese Disclose to all
大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 特性測定に基づくパワーデバイスの自己発熱モデルを利用した電力変換回路の電気・熱連成解析 特性測定に基づくパワーデバイスの自己発熱モデルを利用した電力変換回路の電気・熱連成解析 回路とシステムワークショップ, 105-110 回路とシステムワークショップ, 105-110 , 105-110 2017/05 Refereed Japanese Disclose to all
佐藤 高史, 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之 佐藤 高史, 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之 回路シミュレーションによる電力変換回路の熱・電気連成解析を目指して --- 自己発熱を考慮したパワーMOSFETのモデリング ---(招待) 回路シミュレーションによる電力変換回路の熱・電気連成解析を目指して --- 自己発熱を考慮したパワーMOSFETのモデリング ---(招待) 回路とシステムワークショップ, 99-104 回路とシステムワークショップ, 99-104 , 99-104 2017/05 Refereed Japanese Disclose to all
M. Shintani, K. Oishi, R. Zhou, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, K. Oishi, R. Zhou, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, K. Oishi, R. Zhou, M. Hiromoto, and T. Sato Device Identification from Mixture of Measurable Characteristics Device Identification from Mixture of Measurable Characteristics Device Identification from Mixture of Measurable Characteristics IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), 1001-1006 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), 1001-1006 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC), 1001-1006 2017/03 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Hiromoto, and T. Sato SCAM: Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption SCAM: Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption SCAM: Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption Design, Automation and Test in Europe (DATE), 984-989 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 984-989 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 984-989 2017/03 Refereed English Disclose to all
K. Oishi, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato K. Oishi, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato K. Oishi, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Input Capacitance Determination of Power MOSFETs from Switching Trajectories Input Capacitance Determination of Power MOSFETs from Switching Trajectories Input Capacitance Determination of Power MOSFETs from Switching Trajectories IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 87-92 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 87-92 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 87-92 2017/03 Refereed English Disclose to all
S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Comparative Study of Path Selection and Objective Function in Replacing NBTI Mitigation Logic Comparative Study of Path Selection and Objective Function in Replacing NBTI Mitigation Logic Comparative Study of Path Selection and Objective Function in Replacing NBTI Mitigation Logic International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 426-431 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 426-431 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 426-431 2017/03 Refereed English Disclose to all
藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史 藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史 手の動画像からの心拍間隔推定に関する一検討 手の動画像からの心拍間隔推定に関する一検討 電子情報通信学会 総合大会, B-20-13, 555-555 電子情報通信学会 総合大会, B-20-13, 555-555 , B-20-13, 555-555 2017/03 Japanese Disclose to all
岡本 浩尚, 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 岡本 浩尚, 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 イジングモデルのソフトウェア実装による最大カット問題の求解性能評価 イジングモデルのソフトウェア実装による最大カット問題の求解性能評価 電子情報通信学会 総合大会, A-1-25, 25-25 電子情報通信学会 総合大会, A-1-25, 25-25 , A-1-25, 25-25 2017/03 Japanese Disclose to all
小西 慧, 廣本 正之, 佐藤 高史 小西 慧, 廣本 正之, 佐藤 高史 動画のフレーム間相関を利用した圧縮センシングの高速復元手法 動画のフレーム間相関を利用した圧縮センシングの高速復元手法 信学技報 スマートインフォメディアシステム研究会, SIS2016-55, 77-82 信学技報 スマートインフォメディアシステム研究会, SIS2016-55, 77-82 , SIS2016-55, 77-82 2017/03 Japanese Disclose to all
粟野 皓光, 佐藤 高史 粟野 皓光, 佐藤 高史 Line samplingを用いたモンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化 Line samplingを用いたモンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2016-117, 478, 83-84 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2016-117, 478, 83-84 , VLD2016-117, 478, 83-84 2017/03 Japanese Disclose to all
Y. Chen, M. Shintani, T. Sato, Y. Shi, and S. Chang Y. Chen, M. Shintani, T. Sato, Y. Shi, and S. Chang Y. Chen, M. Shintani, T. Sato, Y. Shi, and S. Chang Pattern Based Runtime Voltage Emergency Prediction: An Instruction-aware Block Sparse Compressed Sensing Approach Pattern Based Runtime Voltage Emergency Prediction: An Instruction-aware Block Sparse Compressed Sensing Approach Pattern Based Runtime Voltage Emergency Prediction: An Instruction-aware Block Sparse Compressed Sensing Approach ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 543-548 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 543-548 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 543-548 2017/01 Refereed English Disclose to all
H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato Efficient Circuit Failure Probability Calculation Along Product Lifetime Considering Device Aging Efficient Circuit Failure Probability Calculation Along Product Lifetime Considering Device Aging Efficient Circuit Failure Probability Calculation Along Product Lifetime Considering Device Aging ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 93-98 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 93-98 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 93-98 2017/01 Refereed English Disclose to all
業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 イジングモデルのFPGA実装による最大カット問題の求解速度評価 イジングモデルのFPGA実装による最大カット問題の求解速度評価 第42回パルテノン研究会, 42, 57-62 第42回パルテノン研究会, 42, 57-62 , 42, 57-62 2016/12 Japanese Disclose to all
氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史 氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史 演算簡略化手法評価のための畳み込みニューラルネットワークのFPGA実装 演算簡略化手法評価のための畳み込みニューラルネットワークのFPGA実装 第42回パルテノン研究会, 42, 51-56 第42回パルテノン研究会, 42, 51-56 , 42, 51-56 2016/12 Japanese Disclose to all
M. Shintani, S. Yuchong, H. Sekiya, and T. Sato M. Shintani, S. Yuchong, H. Sekiya, and T. Sato M. Shintani, S. Yuchong, H. Sekiya, and T. Sato A Design Example of Class-E Based Gate Driver for High Frequency Operation of SiC Power MOSFET A Design Example of Class-E Based Gate Driver for High Frequency Operation of SiC Power MOSFET A Design Example of Class-E Based Gate Driver for High Frequency Operation of SiC Power MOSFET International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA), 181-181 International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA), 181-181 International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA), 181-181 2016/11 Refereed English Disclose to all
R. Zhou, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato R. Zhou, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato R. Zhou, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato A Charge Based SiC Power MOSFET Model Considering On-state Resistance A Charge Based SiC Power MOSFET Model Considering On-state Resistance A Charge Based SiC Power MOSFET Model Considering On-state Resistance International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA), 177-180 International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA), 177-180 International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA), 177-180 2016/11 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Shintani, Z. Wang, M. Hiromoto, A. Chattopadhyay, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, Z. Wang, M. Hiromoto, A. Chattopadhyay, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, Z. Wang, M. Hiromoto, A. Chattopadhyay, and T. Sato Runtime NBTI Mitigtion for Processor Lifespan Extension via Selective Node Control Runtime NBTI Mitigtion for Processor Lifespan Extension via Selective Node Control Runtime NBTI Mitigtion for Processor Lifespan Extension via Selective Node Control IEEE Asian Test Symposium (ATS), 234-239 IEEE Asian Test Symposium (ATS), 234-239 IEEE Asian Test Symposium (ATS), 234-239 2016/11 Refereed English Disclose to all
K. Oishi, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato K. Oishi, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato K. Oishi, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Identifications of Thermal Equivalent Circuit for Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation Identifications of Thermal Equivalent Circuit for Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation Identifications of Thermal Equivalent Circuit for Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), 308-313 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), 308-313 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), 308-313 2016/11 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, K. Oishi, R. Zhou, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, K. Oishi, R. Zhou, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, K. Oishi, R. Zhou, M. Hiromoto, and T. Sato A Circuit Simulation Model for V-groove SiC Power MOSFET A Circuit Simulation Model for V-groove SiC Power MOSFET A Circuit Simulation Model for V-groove SiC Power MOSFET IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), 286-289 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), 286-289 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), 286-289 2016/11 Refereed English Disclose to all
T. Okuda, Y. Nakamura, M. Shintani, T. Sato, and T. Hikihara T. Okuda, Y. Nakamura, M. Shintani, T. Sato, and T. Hikihara T. Okuda, Y. Nakamura, M. Shintani, T. Sato, and T. Hikihara Analysis of Transient Behavior of SiC Power MOSFETs Based on Surface Potential Model and Its Application to Boost Converter Analysis of Transient Behavior of SiC Power MOSFETs Based on Surface Potential Model and Its Application to Boost Converter Analysis of Transient Behavior of SiC Power MOSFETs Based on Surface Potential Model and Its Application to Boost Converter IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), 101-104 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), 101-104 IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA), 101-104 2016/11 Refereed English Disclose to all
S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Representative Path Approach for Time-efficient NBTI Mitigation Logic Replacement Representative Path Approach for Time-efficient NBTI Mitigation Logic Replacement Representative Path Approach for Time-efficient NBTI Mitigation Logic Replacement Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-8 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-8 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-8 2016/11 Refereed English Disclose to all
M. Shintani, K. Oishi, R. Zhou, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, K. Oishi, R. Zhou, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, K. Oishi, R. Zhou, M. Hiromoto, and T. Sato Unique Device Identification Framework for Power MOSFETs Using Inherent Device Variation Unique Device Identification Framework for Power MOSFETs Using Inherent Device Variation Unique Device Identification Framework for Power MOSFETs Using Inherent Device Variation Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-7 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-7 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-7 2016/11 Refereed English Disclose to all
大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 スイッチング波形を利用したパワーMOSFETの入力容量測定とモデル化 スイッチング波形を利用したパワーMOSFETの入力容量測定とモデル化 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-16-146, 75-80 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-16-146, 75-80 , SPC-16-146, 75-80 2016/11 Japanese Disclose to all
K. Oishi, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato K. Oishi, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato K. Oishi, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Thermal Circuit Identification of Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation Thermal Circuit Identification of Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation Thermal Circuit Identification of Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R3-15, 242-247 The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R3-15, 242-247 The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R3-15, 242-247 2016/11 Refereed English Disclose to all
S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Morita, S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Path Grouping Approach for Efficient Candidate-selection of Replacing NBTI Mitigation Logic Path Grouping Approach for Efficient Candidate-selection of Replacing NBTI Mitigation Logic Path Grouping Approach for Efficient Candidate-selection of Replacing NBTI Mitigation Logic The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), poster R3-12, 225-230 The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), poster R3-12, 225-230 The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), poster R3-12, 225-230 2016/11 Refereed English Disclose to all
T. Ujiie, M. Hiromoto, and T. Sato T. Ujiie, M. Hiromoto, and T. Sato T. Ujiie, M. Hiromoto, and T. Sato Hardware Accelerator of Convolutional Neural Network for Image Recognition and Its Performance Evaluation Platform Hardware Accelerator of Convolutional Neural Network for Image Recognition and Its Performance Evaluation Platform Hardware Accelerator of Convolutional Neural Network for Image Recognition and Its Performance Evaluation Platform The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R1-4, 16-17 The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R1-4, 16-17 The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), Poster R1-4, 16-17 2016/11 Refereed English Disclose to all
新谷 道広, 大石 一輝, 周 瑞, 廣本 正之, 佐藤 高史 新谷 道広, 大石 一輝, 周 瑞, 廣本 正之, 佐藤 高史 V溝構造SiCパワーMOSFETの静特性モデル化に関する一考察 V溝構造SiCパワーMOSFETの静特性モデル化に関する一考察 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-1-36, 36-36 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-1-36, 36-36 , A-1-36, 36-36 2016/09 Japanese Disclose to all
M. Shintani, Y. Nakamura, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, Y. Nakamura, M. Hiromoto, and T. Sato M. Shintani, Y. Nakamura, M. Hiromoto, and T. Sato A Surface-potential-based Reverse-transfer Capacitance Model for Vertical SiC DMOSFET A Surface-potential-based Reverse-transfer Capacitance Model for Vertical SiC DMOSFET A Surface-potential-based Reverse-transfer Capacitance Model for Vertical SiC DMOSFET International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), 993-994 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), 993-994 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM), 993-994 2016/09 Refereed English Disclose to all
大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 PWM電力制御によるパワーデバイスの熱伝達特性測定 PWM電力制御によるパワーデバイスの熱伝達特性測定 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-1-35, 35-35 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-1-35, 35-35 , A-1-35, 35-35 2016/09 Japanese Disclose to all
S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Aging-aware Timing Analysis Based on Machine Learning Aging-aware Timing Analysis Based on Machine Learning Aging-aware Timing Analysis Based on Machine Learning DA Symposium, 44-49 DA Symposium, 44-49 DA Symposium, 44-49 2016/09 Refereed English Disclose to all
Y. Nakamura, M. Shintani, K. Oishi, T. Sato, and T. Hikihara Y. Nakamura, M. Shintani, K. Oishi, T. Sato, and T. Hikihara Y. Nakamura, M. Shintani, K. Oishi, T. Sato, and T. Hikihara A Simulation Model for SiC Power MOSFET Based on Surface Potential A Simulation Model for SiC Power MOSFET Based on Surface Potential A Simulation Model for SiC Power MOSFET Based on Surface Potential International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 121-124 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 121-124 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 121-124 2016/09 Refereed English Disclose to all
T. Ujiie, M. Hiromoto, and T. Sato T. Ujiie, M. Hiromoto, and T. Sato T. Ujiie, M. Hiromoto, and T. Sato Approximated Prediction Strategy for Reducing Power Consumption of Convolutional Neural Network Processor Approximated Prediction Strategy for Reducing Power Consumption of Convolutional Neural Network Processor Approximated Prediction Strategy for Reducing Power Consumption of Convolutional Neural Network Processor IEEE Embedded Vision Workshop, 52-58 IEEE Embedded Vision Workshop, 52-58 IEEE Embedded Vision Workshop, 52-58 2016/09 Refereed English Disclose to all
齊藤 成晃, 新谷 道広, 小笠原 泰弘, 廣本 正之, 佐藤 高史 齊藤 成晃, 新谷 道広, 小笠原 泰弘, 廣本 正之, 佐藤 高史 有機トランジスタにおける漏れ電流特性のモデル化 有機トランジスタにおける漏れ電流特性のモデル化 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 エレクトロニクス講演論文集2, C-13-4, 94-94 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 エレクトロニクス講演論文集2, C-13-4, 94-94 , C-13-4, 94-94 2016/09 Japanese Disclose to all
山森 聡, 廣本 正之, 佐藤 高史 山森 聡, 廣本 正之, 佐藤 高史 ばらつきを考慮したメモリスタモデルによるニューラルネットワークの学習収束性の評価 ばらつきを考慮したメモリスタモデルによるニューラルネットワークの学習収束性の評価 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 エレクトロニクス講演論文集2, C-12-38, 85-85 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 エレクトロニクス講演論文集2, C-12-38, 85-85 , C-12-38, 85-85 2016/09 Japanese Disclose to all
藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史 藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史 顔と手の連続静止画からの脈波伝播時間推定に関する一検討 顔と手の連続静止画からの脈波伝播時間推定に関する一検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, B-20-2, 431-431 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, B-20-2, 431-431 , B-20-2, 431-431 2016/09 Japanese Disclose to all
田中 悠貴, 吉永 幹, 廣本 正之, 佐藤 高史 田中 悠貴, 吉永 幹, 廣本 正之, 佐藤 高史 しきい値電圧ばらつきによるBistable Ring PUFの応答予測 しきい値電圧ばらつきによるBistable Ring PUFの応答予測 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-6-3, 66-66 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-6-3, 66-66 , A-6-3, 66-66 2016/09 Japanese Disclose to all
忻 瑞徳, 森田 俊平, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 忻 瑞徳, 森田 俊平, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 NBTIによるしきい値電圧変動のストレス確率依存性の評価 NBTIによるしきい値電圧変動のストレス確率依存性の評価 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-6-2, 65-65 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-6-2, 65-65 , A-6-2, 65-65 2016/09 Japanese Disclose to all
三宅 哲史, 氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史 三宅 哲史, 氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史 Binarized Neural Networkを用いた画像認識ハードウェアの消費エネルギー評価 Binarized Neural Networkを用いた画像認識ハードウェアの消費エネルギー評価 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-6-1, 64-64 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集, A-6-1, 64-64 , A-6-1, 64-64 2016/09 Japanese Disclose to all
奥田 貴史, 中村 洋平, 新谷 道広, 佐藤 高史, 引原 隆士 奥田 貴史, 中村 洋平, 新谷 道広, 佐藤 高史, 引原 隆士 表面ポテンシャルモデルを用いたSiCパワーMOSFETの過渡解析および昇圧回路への応用 表面ポテンシャルモデルを用いたSiCパワーMOSFETの過渡解析および昇圧回路への応用 電気学会産業応用部門大会(JIASC), LA-1, 1-10, XXX-XXX 電気学会産業応用部門大会(JIASC), LA-1, 1-10, XXX-XXX , LA-1, 1-10, XXX-XXX 2016/08 Japanese Disclose to all
新谷 道広, 孫 宇チョン, 関谷 大雄, 佐藤 高史 新谷 道広, 孫 宇チョン, 関谷 大雄, 佐藤 高史 零電圧スイッチング動作に基づくゲートドライバのための設計解析式の検討 零電圧スイッチング動作に基づくゲートドライバのための設計解析式の検討 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-16-099, 77-82 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-16-099, 77-82 , SPC-16-099, 77-82 2016/07 Japanese Disclose to all
H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 115:1-115:6 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 115:1-115:6 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 115:1-115:6 2016/06 Refereed English Disclose to all
藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史 藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史 粒子フィルタを用いた光電脈波信号からの運動時心拍数推定手法 粒子フィルタを用いた光電脈波信号からの運動時心拍数推定手法 回路とシステムワークショップ, 351-356 回路とシステムワークショップ, 351-356 , 351-356 2016/05 Refereed Japanese Disclose to all
周 瑞, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 周 瑞, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 ゲート電圧依存性を考慮した縦型SiCパワーMOSFETのボディダイオードモデル ゲート電圧依存性を考慮した縦型SiCパワーMOSFETのボディダイオードモデル 回路とシステムワークショップ, 279-284 回路とシステムワークショップ, 279-284 , 279-284 2016/05 Refereed Japanese Disclose to all
大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 パッケージの熱伝達特性推定に基づくパワーMOSFET自己発熱モデル パッケージの熱伝達特性推定に基づくパワーMOSFET自己発熱モデル 回路とシステムワークショップ, 273-278 回路とシステムワークショップ, 273-278 , 273-278 2016/05 Refereed Japanese Disclose to all
森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法 代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法 回路とシステムワークショップ, 36-41 回路とシステムワークショップ, 36-41 , 36-41 2016/05 Refereed Japanese Disclose to all
辺 松, 新谷 道広, 森田 俊平, 粟野 浩光, 廣本 正之, 佐藤 高史 辺 松, 新谷 道広, 森田 俊平, 粟野 浩光, 廣本 正之, 佐藤 高史 信号確率伝播に基づくプロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出 信号確率伝播に基づくプロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出 回路とシステムワークショップ, 30-35 回路とシステムワークショップ, 30-35 , 30-35 2016/05 Refereed Japanese Disclose to all
氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史 氏家 隆之, 廣本 正之, 佐藤 高史 近似的予測戦略に基づく畳み込みニューラルネットワークプロセッサの低電力化 近似的予測戦略に基づく畳み込みニューラルネットワークプロセッサの低電力化 回路とシステムワークショップ, 13-18 回路とシステムワークショップ, 13-18 , 13-18 2016/05 Refereed Japanese Disclose to all
M. Yoshinaga, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato M. Yoshinaga, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato M. Yoshinaga, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato Physically Unclonable Function Using RTN-induced Delay Fluctuation in Ring Oscillators Physically Unclonable Function Using RTN-induced Delay Fluctuation in Ring Oscillators Physically Unclonable Function Using RTN-induced Delay Fluctuation in Ring Oscillators IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2619-2622 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2619-2622 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2619-2622 2016/05 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Shintani, S. Morita, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, S. Morita, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, S. Morita, H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato Workload-aware Worst Path Analysis of Processor-scale NBTI Degradation Workload-aware Worst Path Analysis of Processor-scale NBTI Degradation Workload-aware Worst Path Analysis of Processor-scale NBTI Degradation ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 203-208 ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 203-208 ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 203-208 2016/05 Refereed English Disclose to all
新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 表面電位に基づくSiCパワーMOSFETモデルを用いたE級増幅器の回路シミュレーションに関する検討 表面電位に基づくSiCパワーMOSFETモデルを用いたE級増幅器の回路シミュレーションに関する検討 電気学会全国大会講演論文集, 4, 20-20 電気学会全国大会講演論文集, 4, 20-20 , 4, 20-20 2016/03 Japanese Disclose to all
高垣 勇登, 黒谷 欣吾, 日高 青路, 廣本 正之, 佐藤 高史 高垣 勇登, 黒谷 欣吾, 日高 青路, 廣本 正之, 佐藤 高史 Sパラメータに基づく等価回路を利用したDC-DCコンバータの高周波ノイズモデリング Sパラメータに基づく等価回路を利用したDC-DCコンバータの高周波ノイズモデリング 電気学会全国大会講演論文集, 4, 160-160 電気学会全国大会講演論文集, 4, 160-160 , 4, 160-160 2016/03 Japanese Disclose to all
岸野 瞬士, 廣本 正之, 佐藤 高史 岸野 瞬士, 廣本 正之, 佐藤 高史 格子状電極を用いたジェスチャ認識向け電界センサによる導電体位置推定精度の評価 格子状電極を用いたジェスチャ認識向け電界センサによる導電体位置推定精度の評価 電子情報通信学会 総合大会(於 九州大学) 基礎・境界講演論文集, H-2-20, 61-61 電子情報通信学会 総合大会(於 九州大学) 基礎・境界講演論文集, H-2-20, 61-61 , H-2-20, 61-61 2016/03 Japanese Disclose to all
業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 最大カット問題の高速求解に向けた二次元イジングモデルのFPGA実装 最大カット問題の高速求解に向けた二次元イジングモデルのFPGA実装 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2015-133, 125-130 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2015-133, 125-130 , VLD2015-133, 125-130 2016/03 Japanese Disclose to all
Y. Nakamura, M. Shintani, T. Sato, and T. Hikihara Y. Nakamura, M. Shintani, T. Sato, and T. Hikihara Y. Nakamura, M. Shintani, T. Sato, and T. Hikihara A High Power Curve Tracer for Characterizing Full Operational Range of SiC Power Transistors A High Power Curve Tracer for Characterizing Full Operational Range of SiC Power Transistors A High Power Curve Tracer for Characterizing Full Operational Range of SiC Power Transistors IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 90-94 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 90-94 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 90-94 2016/03 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Shintani, S. Morita, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, S. Morita, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, S. Morita, M. Hiromoto, and T. Sato Nonlinear Delay-table Approach for Full-chip NBTI Degradation Prediction Nonlinear Delay-table Approach for Full-chip NBTI Degradation Prediction Nonlinear Delay-table Approach for Full-chip NBTI Degradation Prediction International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 307-312 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 307-312 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 307-312 2016/03 Refereed English Disclose to all
H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 50-55 ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 50-55 ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 50-55 2016/03 Refereed English Disclose to all
S. Bian, M. Shintani, Z. Wang, M. Hiromoto, A. Chattopadhyay, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, Z. Wang, M. Hiromoto, A. Chattopadhyay, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, Z. Wang, M. Hiromoto, A. Chattopadhyay, and T. Sato Mitigation of NBTI-induced Timing Degradation in Processor Mitigation of NBTI-induced Timing Degradation in Processor Mitigation of NBTI-induced Timing Degradation in Processor ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 21-27 ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 21-27 ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 21-27 2016/03 Refereed English Disclose to all
新谷 道広, 中村 洋平, 廣本 正之, 引原 隆士, 佐藤 高史 新谷 道広, 中村 洋平, 廣本 正之, 引原 隆士, 佐藤 高史 SiCパワーMOSFETにおける帰還容量の測定とモデル化 SiCパワーMOSFETにおける帰還容量の測定とモデル化 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-15-201, 41-46 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-15-201, 41-46 , SPC-15-201, 41-46 2015/12 Japanese Disclose to all
粟野 皓光, 佐藤 高史 粟野 皓光, 佐藤 高史 モンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化 モンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化 信学技報 VLSI設計技術研究会(デザインガイア), VLD2015-43, 37-42 信学技報 VLSI設計技術研究会(デザインガイア), VLD2015-43, 37-42 , VLD2015-43, 37-42 2015/12 Japanese Disclose to all
H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato H. Awano and T. Sato Fast Monte Carlo for Timing Yield Estimation via Line Sampling Fast Monte Carlo for Timing Yield Estimation via Line Sampling Fast Monte Carlo for Timing Yield Estimation via Line Sampling Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-2 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-2 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-2 2015/11 English Disclose to all
周 瑞, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 周 瑞, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 電荷基準モデルに基づく縦型SiCパワーMOSFETのトランジスタモデル 電荷基準モデルに基づく縦型SiCパワーMOSFETのトランジスタモデル 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-15-165, 107-112 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC), SPC-15-165, 107-112 , SPC-15-165, 107-112 2015/10 Japanese Disclose to all
周 瑞, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 周 瑞, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 電荷基準モデルに基づく縦型SiCパワーMOSFETの電流特性モデル化の検討 電荷基準モデルに基づく縦型SiCパワーMOSFETの電流特性モデル化の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-1, 1-1 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-1, 1-1 , A-1-1, 1-1 2015/09 Japanese Disclose to all
氏家 隆之, 大荷 唯明, 廣本 正之, 佐藤 高史 氏家 隆之, 大荷 唯明, 廣本 正之, 佐藤 高史 低電圧畳み込みニューラルネットワーク回路における演算誤り緩和に向けたプーリング手法の検討 低電圧畳み込みニューラルネットワーク回路における演算誤り緩和に向けたプーリング手法の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3, 853-853 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3, 853-853 , A-3, 853-853 2015/09 Japanese Disclose to all
大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 大石 一輝, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 SiCパワーMOSFET寄生ダイオードのPN接合ダイオードモデルを用いたモデル化 SiCパワーMOSFET寄生ダイオードのPN接合ダイオードモデルを用いたモデル化 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-2, 2-2 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-2, 2-2 , A-1-2, 2-2 2015/09 Japanese Disclose to all
森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 森田 俊平, 辺 松, 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 プロセッサのNBTI劣化緩和法における劣化抑止制御回路の置換箇所削減に関する一検討 プロセッサのNBTI劣化緩和法における劣化抑止制御回路の置換箇所削減に関する一検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-10, 55-55 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-10, 55-55 , A-3-10, 55-55 2015/09 Japanese Disclose to all
業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 業天 英範, 廣本 正之, 佐藤 高史 二次元イジングモデルによる最大カット問題の求解における収束の早いスピン更新方法の検討 二次元イジングモデルによる最大カット問題の求解における収束の早いスピン更新方法の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-15, 15-15 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-15, 15-15 , A-1-15, 15-15 2015/09 Japanese Disclose to all
藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史 藤田 雄也, 廣本 正之, 佐藤 高史 粒子フィルタを用いた運動時ノイズに頑健な心拍数推定アルゴリズム 粒子フィルタを用いた運動時ノイズに頑健な心拍数推定アルゴリズム 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-20-10, 420-420 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-20-10, 420-420 , A-20-10, 420-420 2015/09 Japanese Disclose to all
粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 デバイス特性の経年劣化に起因する不良確率変化の効率的な解析手法 デバイス特性の経年劣化に起因する不良確率変化の効率的な解析手法 DA シンポジウム, 169-174 DA シンポジウム, 169-174 , 169-174 2015/08 Refereed Japanese Disclose to all
大荷 唯明, 廣本 正之, 佐藤 高史 大荷 唯明, 廣本 正之, 佐藤 高史 ニューラルネットワークハードウェアの低電圧動作時における演算誤り緩和 ニューラルネットワークハードウェアの低電圧動作時における演算誤り緩和 回路とシステムワークショップ, 249-254 回路とシステムワークショップ, 249-254 , 249-254 2015/08 Refereed Japanese Disclose to all
S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato S. Bian, M. Shintani, M. Hiromoto, and T. Sato Fast Estimation on NBTI-induced Delay Degradation Based on Signal Probability Fast Estimation on NBTI-induced Delay Degradation Based on Signal Probability Fast Estimation on NBTI-induced Delay Degradation Based on Signal Probability DA Symposium, 181-186 DA Symposium, 181-186 DA Symposium, 181-186 2015/08 Refereed English Disclose to all
小西 慧, 廣本 正之, 佐藤 高史 小西 慧, 廣本 正之, 佐藤 高史 圧縮センシング向けイメージセンサにおける省電力な観測行列生成回路 圧縮センシング向けイメージセンサにおける省電力な観測行列生成回路 回路とシステムワークショップ, 243-248 回路とシステムワークショップ, 243-248 , 243-248 2015/08 Refereed Japanese Disclose to all
佐藤 高史 佐藤 高史 ばらつき考慮シミュレーションの最近の動向(招待) ばらつき考慮シミュレーションの最近の動向(招待) 回路とシステムワークショップ, 19-24 回路とシステムワークショップ, 19-24 , 19-24 2015/08 Refereed Japanese Disclose to all
T. Okazaki, M. Hiromoto, and T. Sato T. Okazaki, M. Hiromoto, and T. Sato T. Okazaki, M. Hiromoto, and T. Sato Accelerating Random-walk-based Power Grid Analysis Through Error Smoothing Accelerating Random-walk-based Power Grid Analysis Through Error Smoothing Accelerating Random-walk-based Power Grid Analysis Through Error Smoothing The 19th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 362-367 The 19th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 362-367 The 19th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 362-367 2015/03 Refereed English Disclose to all
新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 新谷 道広, 廣本 正之, 佐藤 高史 パワーMOSFETデバイスモデルに向けた自動モデルパラメータ決定手法に関する一検討 パワーMOSFETデバイスモデルに向けた自動モデルパラメータ決定手法に関する一検討 電気学会全国大会講演論文集, 4, 2-2 電気学会全国大会講演論文集, 4, 2-2 , 4, 2-2 2015/03 Japanese Disclose to all
吉永 幹, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 吉永 幹, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 RTN起因のリングオシレータ発振周波数変動を利用したPUF RTN起因のリングオシレータ発振周波数変動を利用したPUF 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2014-174, 112-117 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2014-174, 112-117 , VLD2014-174, 112-117 2015/03 Japanese Disclose to all
H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato ECRIPSE: An Efficient Method for Calculating RTN-induced Failure Probability of an SRAM Cell ECRIPSE: An Efficient Method for Calculating RTN-induced Failure Probability of an SRAM Cell ECRIPSE: An Efficient Method for Calculating RTN-induced Failure Probability of an SRAM Cell Design, Automation and Test in Europe (DATE), 549-554 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 549-554 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 549-554 2015/03 Refereed English Disclose to all
辺 松, 新谷 道広, Zheng Wang, 廣本 正之, Anupam Chattopadhyay, 佐藤 高史 辺 松, 新谷 道広, Zheng Wang, 廣本 正之, Anupam Chattopadhyay, 佐藤 高史 命令セットアーキテクチャによる劣化抑止ゲート制御を用いたプロセッサNBTI劣化緩和手法 命令セットアーキテクチャによる劣化抑止ゲート制御を用いたプロセッサNBTI劣化緩和手法 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2014-161, 49-54 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2014-161, 49-54 , VLD2014-161, 49-54 2015/03 Japanese Disclose to all
M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato Sensorless Estimation of Global Device-parameters Through Fmax Testing Sensorless Estimation of Global Device-parameters Through Fmax Testing Sensorless Estimation of Global Device-parameters Through Fmax Testing IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 498-502 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 498-502 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 498-502 2014/11 Refereed English Disclose to all
粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 RTNを考慮したSRAM不良確率の高速計算 RTNを考慮したSRAM不良確率の高速計算 信学技報 VLD研究会(デザインガイア), VLD2014-74, 15-20 信学技報 VLD研究会(デザインガイア), VLD2014-74, 15-20 , VLD2014-74, 15-20 2014/11 Japanese Disclose to all
T. Sato, H. Awano, and M. Hiromoto T. Sato, H. Awano, and M. Hiromoto T. Sato, H. Awano, and M. Hiromoto A Scalable Device Array for Statistical Device-aging Characterization (Invited) A Scalable Device Array for Statistical Device-aging Characterization (Invited) A Scalable Device Array for Statistical Device-aging Characterization (Invited) IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 255-258 IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 255-258 IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 255-258 2014/10 Refereed English Disclose to all
C. Nitschke, Y. Minami, M. Hiromoto, H. Ohshima, and T. Sato C. Nitschke, Y. Minami, M. Hiromoto, H. Ohshima, and T. Sato C. Nitschke, Y. Minami, M. Hiromoto, H. Ohshima, and T. Sato A Quadrocopter Automatic Control Contest as an Example of Interdisciplinary Design Education A Quadrocopter Automatic Control Contest as an Example of Interdisciplinary Design Education A Quadrocopter Automatic Control Contest as an Example of Interdisciplinary Design Education 14th International Conference on Control, Automation and Systems (ICCAS 2014), 678-685 14th International Conference on Control, Automation and Systems (ICCAS 2014), 678-685 14th International Conference on Control, Automation and Systems (ICCAS 2014), 678-685 2014/10 Refereed English Disclose to all
M. Hiromoto and T. Sato M. Hiromoto and T. Sato M. Hiromoto and T. Sato A Case Study of Chinese Calligraphic Style Classification Using Deep Neural Network A Case Study of Chinese Calligraphic Style Classification Using Deep Neural Network A Case Study of Chinese Calligraphic Style Classification Using Deep Neural Network International Workshop on Smart Info-Media Systems in Asia (SISA), SS3-05 International Workshop on Smart Info-Media Systems in Asia (SISA), SS3-05 International Workshop on Smart Info-Media Systems in Asia (SISA), SS3-05 2014/10 Refereed English Disclose to all
今川 隆司, 廣本 正之, 越智 裕之, 佐藤 高史 今川 隆司, 廣本 正之, 越智 裕之, 佐藤 高史 粗粒度再構成可能アーキテクチャ向けの省メモリな耐ソフトエラー時間多重化手法 粗粒度再構成可能アーキテクチャ向けの省メモリな耐ソフトエラー時間多重化手法 第40回パルテノン研究会, 40, 37-44 第40回パルテノン研究会, 40, 37-44 , 40, 37-44 2014/09 Japanese Disclose to all
岡崎 剛, 川島 潤也, 廣本 正之, 佐藤 高史 岡崎 剛, 川島 潤也, 廣本 正之, 佐藤 高史 フリップフロップの最小動作電圧計測のためのFPGAを用いた自動設計環境の構築 フリップフロップの最小動作電圧計測のためのFPGAを用いた自動設計環境の構築 第40回パルテノン研究会, 40, 1-6 第40回パルテノン研究会, 40, 1-6 , 40, 1-6 2014/09 Japanese Disclose to all
吉永 幹, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 吉永 幹, 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 ランダムテレグラフノイズを用いたチップ識別手法の一検討 ランダムテレグラフノイズを用いたチップ識別手法の一検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-7-1, 95-95 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-7-1, 95-95 , A-7-1, 95-95 2014/09 Japanese Disclose to all
H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato Variability in Device Degradations: Statistical Observation of NBTI for 3996 Transistors Variability in Device Degradations: Statistical Observation of NBTI for 3996 Transistors Variability in Device Degradations: Statistical Observation of NBTI for 3996 Transistors Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 218-221 Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 218-221 Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 218-221 2014/09 Refereed English Disclose to all
木村 和紀, 廣本 正之, 佐藤 高史 木村 和紀, 廣本 正之, 佐藤 高史 高次元回路歩留まり解析高速化のための最急降下法を用いた不良領域探索 高次元回路歩留まり解析高速化のための最急降下法を用いた不良領域探索 回路とシステムワークショップ, 229-234 回路とシステムワークショップ, 229-234 , 229-234 2014/08 Refereed Japanese Disclose to all
X. Cao, M. Hiromoto, and T. Sato X. Cao, M. Hiromoto, and T. Sato X. Cao, M. Hiromoto, and T. Sato An Experimental Study on Interdigital Capacitance Sensor for Detecting Heart Rate An Experimental Study on Interdigital Capacitance Sensor for Detecting Heart Rate An Experimental Study on Interdigital Capacitance Sensor for Detecting Heart Rate Workshop on Circuits and Systems, 138-143 Workshop on Circuits and Systems, 138-143 Workshop on Circuits and Systems, 138-143 2014/08 Refereed English Disclose to all
佐川 善彦, 廣本 正之, 佐藤 高史, 越智 裕之 佐川 善彦, 廣本 正之, 佐藤 高史, 越智 裕之 低電圧起動回路を用いた省電力チップ間非接触通信回路 低電圧起動回路を用いた省電力チップ間非接触通信回路 情報処理学会SLDM研究会, 2014-SLDM-166, 10, 1-6 情報処理学会SLDM研究会, 2014-SLDM-166, 10, 1-6 , 2014-SLDM-166, 10, 1-6 2014/05 Japanese Disclose to all
岡崎 剛, 廣本 正之, 佐藤 高史 岡崎 剛, 廣本 正之, 佐藤 高史 ランダムウォーク電源網解析の高速化に向けた節点解析順序の検討 ランダムウォーク電源網解析の高速化に向けた節点解析順序の検討 情報処理学会SLDM研究会, 2014-SLDM-166, 9, 1-6 情報処理学会SLDM研究会, 2014-SLDM-166, 9, 1-6 , 2014-SLDM-166, 9, 1-6 2014/05 Japanese Disclose to all
K. Yamanaga, H. Yamamoto, and T. Sato K. Yamanaga, H. Yamamoto, and T. Sato K. Yamanaga, H. Yamamoto, and T. Sato A Low Cost Capacitor Approach for Suppressing Resonance in Power Distribution Networks A Low Cost Capacitor Approach for Suppressing Resonance in Power Distribution Networks A Low Cost Capacitor Approach for Suppressing Resonance in Power Distribution Networks International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC Tokyo), 346-349 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC Tokyo), 346-349 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC Tokyo), 346-349 2014/05 Refereed English Disclose to all
T. Sato, J. Kawashima, H. Tsutsui, and H. Ochi T. Sato, J. Kawashima, H. Tsutsui, and H. Ochi T. Sato, J. Kawashima, H. Tsutsui, and H. Ochi Experimental Validation of Minimum Operating Voltage Estimation for Low Supply Voltage Circuits Experimental Validation of Minimum Operating Voltage Estimation for Low Supply Voltage Circuits Experimental Validation of Minimum Operating Voltage Estimation for Low Supply Voltage Circuits International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 428-433 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 428-433 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 428-433 2014/03 Refereed English Disclose to all
新谷 道弘, 佐藤 高史 新谷 道弘, 佐藤 高史 最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法 最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2013-85, 37-42 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会, DC2013-85, 37-42 , DC2013-85, 37-42 2014/02 Japanese Disclose to all
高垣 勇登, 三舩 洋嗣, 日高青路, 廣本 正之, 佐藤 高史 高垣 勇登, 三舩 洋嗣, 日高青路, 廣本 正之, 佐藤 高史 3端子コンデンサにおける周波数特性の有理関数近似と等価回路表現 3端子コンデンサにおける周波数特性の有理関数近似と等価回路表現 電子情報通信学会EMCJ研究会, EMCJ2014-101, 89-94 電子情報通信学会EMCJ研究会, EMCJ2014-101, 89-94 , EMCJ2014-101, 89-94 2014/01 Japanese Disclose to all
T. Sato and M. Hashimoto T. Sato and M. Hashimoto T. Sato and M. Hashimoto Time Dependent Degradation (Invited) Time Dependent Degradation (Invited) Time Dependent Degradation (Invited) The Journal of Reliability Engineering Association of Japan, 35, 8, 457-458 The Journal of Reliability Engineering Association of Japan, 35, 8, 457-458 The Journal of Reliability Engineering Association of Japan, 35, 8, 457-458 2013/12 Refereed English Disclose to all
T. Sato T. Sato T. Sato A Device Array for Flexible BTI Characterization (Invited Talk) A Device Array for Flexible BTI Characterization (Invited Talk) A Device Array for Flexible BTI Characterization (Invited Talk) Workshop on variability modeling and characterization (VMC), talk-06 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), talk-06 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), talk-06 2013/11 English Disclose to all
H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato H. Awano, M. Hiromoto, and T. Sato Statistical Observation of NBTI and PBTI Degradations Statistical Observation of NBTI and PBTI Degradations Statistical Observation of NBTI and PBTI Degradations Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-03 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-03 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-03 2013/11 English Disclose to all
T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Place-and-route Algorithms for a Reliability-oriented Coarse-grained Reconfigurable Architecture Using Time Redundancy Place-and-route Algorithms for a Reliability-oriented Coarse-grained Reconfigurable Architecture Using Time Redundancy Place-and-route Algorithms for a Reliability-oriented Coarse-grained Reconfigurable Architecture Using Time Redundancy The 18th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 76-81 The 18th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 76-81 The 18th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 76-81 2013/10 Refereed English Disclose to all
羅 丹, 藤田 隆史, 廣本 正之, 佐藤 高史 羅 丹, 藤田 隆史, 廣本 正之, 佐藤 高史 TV最適化を用いた可変レート圧縮センシング TV最適化を用いた可変レート圧縮センシング 電子情報通信学会 ソサイエティ大会(於 福岡工業大学), 64, A-4 電子情報通信学会 ソサイエティ大会(於 福岡工業大学), 64, A-4 , 64, A-4 2013/09 Japanese Disclose to all
T. Sato T. Sato T. Sato Statistical Simulation Methods for Analyzing Performance of Low Supply Voltage Circuits (Invited) Statistical Simulation Methods for Analyzing Performance of Low Supply Voltage Circuits (Invited) Statistical Simulation Methods for Analyzing Performance of Low Supply Voltage Circuits (Invited) The IEEE 10th International Conference on ASIC (ASICON), 103-106 The IEEE 10th International Conference on ASIC (ASICON), 103-106 The IEEE 10th International Conference on ASIC (ASICON), 103-106 2013/09 Refereed English Disclose to all
粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 粟野 皓光, 廣本 正之, 佐藤 高史 3996トランジスタにおけるNBTI劣化の統計的ばらつき 3996トランジスタにおけるNBTI劣化の統計的ばらつき DA シンポジウム, 3-8 DA シンポジウム, 3-8 , 3-8 2013/08 Japanese Disclose to all
粟野 皓光, 佐藤 高史 粟野 皓光, 佐藤 高史 トランジスタアレイを用いたBTI劣化の統計的観測 トランジスタアレイを用いたBTI劣化の統計的観測 DA シンポジウム, 85-90 DA シンポジウム, 85-90 , 85-90 2013/08 Japanese Disclose to all
岡崎 剛, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 岡崎 剛, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 準ゼロ分散推定と誤差平滑化処理を併用するランダムウォーク電源網解析 準ゼロ分散推定と誤差平滑化処理を併用するランダムウォーク電源網解析 回路とシステムワークショップ, 472-477 回路とシステムワークショップ, 472-477 , 472-477 2013/07 Refereed Japanese Disclose to all
藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 画像の圧縮センシングにおける圧縮率の適応的変更手法 画像の圧縮センシングにおける圧縮率の適応的変更手法 回路とシステムワークショップ, 397-402 回路とシステムワークショップ, 397-402 , 397-402 2013/07 Refereed Japanese Disclose to all
木村 和紀, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 木村 和紀, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 SRAM 回路解析における最小ノルム不良サンプルと歩留りの関係 SRAM 回路解析における最小ノルム不良サンプルと歩留りの関係 回路とシステムワークショップ, 374-379 回路とシステムワークショップ, 374-379 , 374-379 2013/07 Refereed Japanese Disclose to all
藤田 隆史, 川島 潤也, 廣本 正之, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 藤田 隆史, 川島 潤也, 廣本 正之, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析 低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析 電子情報通信学会ICD研究会, ICD2013-XX, 129-134 電子情報通信学会ICD研究会, ICD2013-XX, 129-134 , ICD2013-XX, 129-134 2013/07 Japanese Disclose to all
S. Matsuda, T. Imagawa, H. Tsutsui, T. Sato, Y. Nakamura, and H. Ochi S. Matsuda, T. Imagawa, H. Tsutsui, T. Sato, Y. Nakamura, and H. Ochi S. Matsuda, T. Imagawa, H. Tsutsui, T. Sato, Y. Nakamura, and H. Ochi Architecture for Sealed Wafer-scale Mask ROM for Long-term Digital Data Preservation Architecture for Sealed Wafer-scale Mask ROM for Long-term Digital Data Preservation Architecture for Sealed Wafer-scale Mask ROM for Long-term Digital Data Preservation The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 274-277 The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 274-277 The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 274-277 2013/06 Refereed English Disclose to all
S. Zhang, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato S. Zhang, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato S. Zhang, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis Using Dependent Node Selection Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis Using Dependent Node Selection Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis Using Dependent Node Selection The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 321-324 The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 321-324 The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 321-324 2013/06 Refereed English Disclose to all
T. Morishita, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Morishita, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Morishita, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Fast and Memory-efficient GPU Implementations of Krylov Subspace Methods for Efficient Power Grid Analysis Fast and Memory-efficient GPU Implementations of Krylov Subspace Methods for Efficient Power Grid Analysis Fast and Memory-efficient GPU Implementations of Krylov Subspace Methods for Efficient Power Grid Analysis ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 95-100 ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 95-100 ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 95-100 2013/05 Refereed English Disclose to all
J. B. Velamala, K. B. Sutaria, H. Shimizu, H. Awano, T. Sato, G. Wirth, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, H. Shimizu, H. Awano, T. Sato, G. Wirth, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, H. Shimizu, H. Awano, T. Sato, G. Wirth, and Y. Cao Logarithmic Modeling of BTI Under Dynamic Circuit Operations: Static, Dynamic and Long-term Prediction Logarithmic Modeling of BTI Under Dynamic Circuit Operations: Static, Dynamic and Long-term Prediction Logarithmic Modeling of BTI Under Dynamic Circuit Operations: Static, Dynamic and Long-term Prediction IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), CM.3.1-CM.3.5 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), CM.3.1-CM.3.5 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), CM.3.1-CM.3.5 2013/04 Refereed English Disclose to all
岡崎 剛, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 岡崎 剛, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討 ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討 電子情報通信学会 総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集, 61, A-3 電子情報通信学会 総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集, 61, A-3 , 61, A-3 2013/03 Japanese Disclose to all
藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 藤田 隆史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較 回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較 電子情報通信学会 総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集, 78, C-12 電子情報通信学会 総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集, 78, C-12 , 78, C-12 2013/03 Japanese Disclose to all
森下拓海, 日高青路, 山長 功, 佐藤 高史 森下拓海, 日高青路, 山長 功, 佐藤 高史 空間周波数領域インピーダンス行列を用いたマルチポートLSIモデルの検討 空間周波数領域インピーダンス行列を用いたマルチポートLSIモデルの検討 電子情報通信学会EMCJ研究会, EMCJ2012-131, 79-84 電子情報通信学会EMCJ研究会, EMCJ2012-131, 79-84 , EMCJ2012-131, 79-84 2013/03 Japanese Disclose to all
新谷 道弘, 佐藤 高史 新谷 道弘, 佐藤 高史 オンラインテストを指向したIDDQ電流しきい値決定手法の検討 オンラインテストを指向したIDDQ電流しきい値決定手法の検討 電子情報通信学会VLSI設計技術研究会, VLD2012-137, 7-12 電子情報通信学会VLSI設計技術研究会, VLD2012-137, 7-12 , VLD2012-137, 7-12 2013/03 Japanese Disclose to all
T. Imagawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato A Cost-effective Selective TMR for Heterogeneous Coarse-grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-level Vulnerability Analysis A Cost-effective Selective TMR for Heterogeneous Coarse-grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-level Vulnerability Analysis A Cost-effective Selective TMR for Heterogeneous Coarse-grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-level Vulnerability Analysis Design, Automation and Test in Europe (DATE), 701-706 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 701-706 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 701-706 2013/03 Refereed English Disclose to all
Z. E. Rakossy, M. Hiromoto, H. Tsutsui, T. Sato, Y. Nakamura, and H. Ochi Z. E. Rakossy, M. Hiromoto, H. Tsutsui, T. Sato, Y. Nakamura, and H. Ochi Z. E. Rakossy, M. Hiromoto, H. Tsutsui, T. Sato, Y. Nakamura, and H. Ochi Hot-swapping Architecture With Back-biased Testing for Mitigation of Permanent Faults in Functional Unit Array Hot-swapping Architecture With Back-biased Testing for Mitigation of Permanent Faults in Functional Unit Array Hot-swapping Architecture With Back-biased Testing for Mitigation of Permanent Faults in Functional Unit Array Design, Automation and Test in Europe (DATE), 535-540 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 535-540 Design, Automation and Test in Europe (DATE), 535-540 2013/03 Refereed English Disclose to all
S. Zhang, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato S. Zhang, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato S. Zhang, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Evaluation of Dependent Node Selection of Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis Evaluation of Dependent Node Selection of Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis Evaluation of Dependent Node Selection of Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis IEICE general conference, 62, A-3 IEICE general conference, 62, A-3 IEICE general conference, 62, A-3 2013/03 English Disclose to all
M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato [Memorial Lecture] an Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation [Memorial Lecture] an Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation [Memorial Lecture] an Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation IEICE Technical Report, VLD2012-152, 91-91 IEICE Technical Report, VLD2012-152, 91-91 IEICE Technical Report, VLD2012-152, 91-91 2013/03 English Disclose to all
T. Imagawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato High-speed DFG-level SEU Vulnerability Analysis for Applying Selective TMR to Resource-constrained CGRA High-speed DFG-level SEU Vulnerability Analysis for Applying Selective TMR to Resource-constrained CGRA High-speed DFG-level SEU Vulnerability Analysis for Applying Selective TMR to Resource-constrained CGRA International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 554-561 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 554-561 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 554-561 2013/03 Refereed English Disclose to all
H. Awano, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Awano, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Awano, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Multi-trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference Multi-trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference Multi-trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 613-618 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 613-618 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 613-618 2013/03 Refereed English Disclose to all
M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato An Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation An Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation An Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 614-619 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 614-619 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 614-619 2013/01 Refereed English Disclose to all
T. Miyakawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Miyakawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Miyakawa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Realization of Frequency-domain Circuit Analysis Through Random Walk Realization of Frequency-domain Circuit Analysis Through Random Walk Realization of Frequency-domain Circuit Analysis Through Random Walk ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 169-174 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 169-174 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 169-174 2013/01 Refereed English Disclose to all
川島 潤也, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 川島 潤也, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価 チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価 電子情報通信学会ICD研究会, ICD2012-87, 3-8 電子情報通信学会ICD研究会, ICD2012-87, 3-8 , ICD2012-87, 3-8 2012/12 Japanese Disclose to all
Z. Li, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Z. Li, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Z. Li, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Accurate I/O Buffer Impedance Self-adjustment Using Vth and Temperature Sensors Accurate I/O Buffer Impedance Self-adjustment Using Vth and Temperature Sensors Accurate I/O Buffer Impedance Self-adjustment Using Vth and Temperature Sensors Design gaia, SLDM society conference, VLD2012-79, 117-122 Design gaia, SLDM society conference, VLD2012-79, 117-122 Design gaia, SLDM society conference, VLD2012-79, 117-122 2012/11 English Disclose to all
M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato Adaptive Current-threshold Determination for Accurate IDDQ Testing Adaptive Current-threshold Determination for Accurate IDDQ Testing Adaptive Current-threshold Determination for Accurate IDDQ Testing Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-10 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-10 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), poster-10 2012/11 English Disclose to all
K. Yamanaga and T. Sato K. Yamanaga and T. Sato K. Yamanaga and T. Sato The Odd Couple: Antiresonance Control by Two Capacitors of Unequal Series Resistances The Odd Couple: Antiresonance Control by Two Capacitors of Unequal Series Resistances The Odd Couple: Antiresonance Control by Two Capacitors of Unequal Series Resistances The 21st conference on electrical performance of electronic packaging and systems (EPEPS), 256-259 The 21st conference on electrical performance of electronic packaging and systems (EPEPS), 256-259 The 21st conference on electrical performance of electronic packaging and systems (EPEPS), 256-259 2012/10 Refereed English Disclose to all
J. B. Velamala, K. B. Sutaria, H. Shimizu, H. Awano, T. Sato, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, H. Shimizu, H. Awano, T. Sato, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, H. Shimizu, H. Awano, T. Sato, and Y. Cao Statistical Aging Under Dynamic Voltage Scaling: A Logarithmic Model Approach Statistical Aging Under Dynamic Voltage Scaling: A Logarithmic Model Approach Statistical Aging Under Dynamic Voltage Scaling: A Logarithmic Model Approach IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 6.3.1-6.3.4 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 6.3.1-6.3.4 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 6.3.1-6.3.4 2012/09 Refereed English Disclose to all
城間 誠, 山中 俊輝, 小笠原 泰弘, 金本 俊幾, 成木 保文, 奥村 隆昌, 増田 弘生, 古川 且洋, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 黒川 敦, 田中 正和 城間 誠, 山中 俊輝, 小笠原 泰弘, 金本 俊幾, 成木 保文, 奥村 隆昌, 増田 弘生, 古川 且洋, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 黒川 敦, 田中 正和 微細プロセス(22nm世代)における配線コーナー削減手法の検討 微細プロセス(22nm世代)における配線コーナー削減手法の検討 DA シンポジウム, 199-204 DA シンポジウム, 199-204 , 199-204 2012/08 Japanese Disclose to all
小谷 憲, 増田 弘生, 成木 保文, 奥村 隆昌, 城間 誠, 金本 俊幾, 古川 且洋, 山中 俊輝, 小笠原 泰弘, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 黒川 敦, 田中 正和 小谷 憲, 増田 弘生, 成木 保文, 奥村 隆昌, 城間 誠, 金本 俊幾, 古川 且洋, 山中 俊輝, 小笠原 泰弘, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 黒川 敦, 田中 正和 微細CMOSタイミング設計の新しいコーナー削減手法 微細CMOSタイミング設計の新しいコーナー削減手法 DA シンポジウム, 193-198 DA シンポジウム, 193-198 , 193-198 2012/08 Japanese Disclose to all
清水 裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 清水 裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 情報量規準を用いる RTN モデルパラメータ推定の自動化 情報量規準を用いる RTN モデルパラメータ推定の自動化 DA シンポジウム, 49-54 DA シンポジウム, 49-54 , 49-54 2012/08 Japanese Disclose to all
森下 拓海, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 森下 拓海, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 クリロフ部分空間法を用いた電源回路網解析の GPU 実装による高速化 クリロフ部分空間法を用いた電源回路網解析の GPU 実装による高速化 回路とシステムワークショップ, 432-437 回路とシステムワークショップ, 432-437 , 432-437 2012/08 Refereed Japanese Disclose to all
川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史 川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史 回路の最小動作電圧改善とその予測精度向上の一検討 回路の最小動作電圧改善とその予測精度向上の一検討 回路とシステムワークショップ, 313-318 回路とシステムワークショップ, 313-318 , 313-318 2012/08 Refereed Japanese Disclose to all
J. B. Velamala, K. B. Sutaria, T. Sato, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, T. Sato, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, T. Sato, and Y. Cao Physics Matters: Statistical Aging Prediction Under Trapping/detrapping Physics Matters: Statistical Aging Prediction Under Trapping/detrapping Physics Matters: Statistical Aging Prediction Under Trapping/detrapping ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 139-144 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 139-144 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 139-144 2012/06 Refereed English Disclose to all
M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato A Bayesian-based Process Parameter Estimation Using IDDQ Current Signature A Bayesian-based Process Parameter Estimation Using IDDQ Current Signature A Bayesian-based Process Parameter Estimation Using IDDQ Current Signature IEEE VLSI Test Symposium (VTS), 86-91 IEEE VLSI Test Symposium (VTS), 86-91 IEEE VLSI Test Symposium (VTS), 86-91 2012/04 Refereed English Disclose to all
J. B. Velamala, K. B. Sutaria, T. Sato, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, T. Sato, and Y. Cao J. B. Velamala, K. B. Sutaria, T. Sato, and Y. Cao Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Silicon Evidence, Modeling and Long-term Prediction Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Silicon Evidence, Modeling and Long-term Prediction Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Silicon Evidence, Modeling and Long-term Prediction IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2F2.1-2F2.5 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2F2.1-2F2.5 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2F2.1-2F2.5 2012/04 Refereed English Disclose to all
山長 功, 佐藤 高史 山長 功, 佐藤 高史 低ESRと高ESRコンデンサの組み合わせ使用による電源インピーダンスの低減手法 低ESRと高ESRコンデンサの組み合わせ使用による電源インピーダンスの低減手法 エレクトロニクス実装学会 全国大会, 8A-18 エレクトロニクス実装学会 全国大会, 8A-18 , 8A-18 2012/03 Japanese Disclose to all
新谷 道広, 佐藤 高史 新谷 道広, 佐藤 高史 IDDQ 電流による大域プロセスばらつきの推定手法 IDDQ 電流による大域プロセスばらつきの推定手法 信学技報 VLSI設計技術研究会, 111, VLD2011-120, 1-6 信学技報 VLSI設計技術研究会, 111, VLD2011-120, 1-6 , 111, VLD2011-120, 1-6 2012/03 Japanese Disclose to all
T. Sato, H. Awano, H. Shimizu, H. Tsutsui, and H. Ochi T. Sato, H. Awano, H. Shimizu, H. Tsutsui, and H. Ochi T. Sato, H. Awano, H. Shimizu, H. Tsutsui, and H. Ochi Statistical Observations of NBTI-induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-area Devices Statistical Observations of NBTI-induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-area Devices Statistical Observations of NBTI-induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-area Devices International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 306-311 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 306-311 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 306-311 2012/03 Refereed English Disclose to all
T. Imagawa, T. Oue, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, T. Oue, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, T. Oue, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato GPU Acceleration of Cycle-based Soft-error Simulation for Reconfigurable Array Architectures GPU Acceleration of Cycle-based Soft-error Simulation for Reconfigurable Array Architectures GPU Acceleration of Cycle-based Soft-error Simulation for Reconfigurable Array Architectures The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 205-210 The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 205-210 The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 205-210 2012/03 Refereed English Disclose to all
H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Hardware Architecture for Accelerating Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element Hardware Architecture for Accelerating Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element Hardware Architecture for Accelerating Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 88-93 The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 88-93 The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 88-93 2012/03 Refereed English Disclose to all
新谷 道広, 佐藤 高史 新谷 道広, 佐藤 高史 プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み 信学技報 ディペンダブルコンピューティング研究会, 111-435, DC2011-84, 49-54 信学技報 ディペンダブルコンピューティング研究会, 111-435, DC2011-84, 49-54 , 111-435, DC2011-84, 49-54 2012/02 Japanese Disclose to all
H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 10-15 ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 10-15 ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 10-15 2012/01 Refereed English Disclose to all
森下 巧海, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 森下 巧海, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 ブロック反復法を用いた電源回路網解析の高速化 ブロック反復法を用いた電源回路網解析の高速化 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会, VLD2011-63, 67-71 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会, VLD2011-63, 67-71 , VLD2011-63, 67-71 2011/11 Japanese Disclose to all
宮川 哲朗, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 宮川 哲朗, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる過渡解析 ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる過渡解析 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会, VLD2011-64, 73-78 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会, VLD2011-64, 73-78 , VLD2011-64, 73-78 2011/11 Japanese Disclose to all
粟野皓光, 清水裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 粟野皓光, 清水裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討 ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会, VLD2011-66, 85-90 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会, VLD2011-66, 85-90 , VLD2011-66, 85-90 2011/11 Japanese Disclose to all
J. B. Velamala, T. Sato, and Y. Cao J. B. Velamala, T. Sato, and Y. Cao J. B. Velamala, T. Sato, and Y. Cao Statistical Aging Prediction and Characterization Using Trapping/detrapping Based NBTI Models Statistical Aging Prediction and Characterization Using Trapping/detrapping Based NBTI Models Statistical Aging Prediction and Characterization Using Trapping/detrapping Based NBTI Models Workshop on variability modeling and characterization (VMC), 11-11 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), 11-11 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), 11-11 2011/11 English Disclose to all
M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato M. Shintani and T. Sato Getting the Most Out of IDDQ Testing Getting the Most Out of IDDQ Testing Getting the Most Out of IDDQ Testing Workshop on variability modeling and characterization (VMC), 8-8 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), 8-8 Workshop on variability modeling and characterization (VMC), 8-8 2011/11 English Disclose to all
森下 巧海, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 森下 巧海, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 ヤコビ法を用いた電源回路網解析の GPU 実装 ヤコビ法を用いた電源回路網解析の GPU 実装 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3 , A-3 2011/09 Japanese Disclose to all
清水 裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 清水 裕史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定 EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12 , C-12 2011/09 Japanese Disclose to all
Z. Li, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Z. Li, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Z. Li, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato A Sensor-based Self-adjustment Approach for Controlling I/O Buffer Impedance A Sensor-based Self-adjustment Approach for Controlling I/O Buffer Impedance A Sensor-based Self-adjustment Approach for Controlling I/O Buffer Impedance IEICE society conference, C-12 IEICE society conference, C-12 IEICE society conference, C-12 2011/09 English Disclose to all
J. Kawashima, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato J. Kawashima, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato J. Kawashima, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato A Design Strategy for Sub-threshold Circuits Considering Energy-minimization and Yield-maximization A Design Strategy for Sub-threshold Circuits Considering Energy-minimization and Yield-maximization A Design Strategy for Sub-threshold Circuits Considering Energy-minimization and Yield-maximization IEEE International SOC Conference (SOCC), 57-62 IEEE International SOC Conference (SOCC), 57-62 IEEE International SOC Conference (SOCC), 57-62 2011/09 Refereed English Disclose to all
T. Sato, T. Kozaki, T. Uezono, H. Tsutsui, and H. Ochi T. Sato, T. Kozaki, T. Uezono, H. Tsutsui, and H. Ochi T. Sato, T. Kozaki, T. Uezono, H. Tsutsui, and H. Ochi A Device Array for Efficient Bias-temperature Instability Measurements A Device Array for Efficient Bias-temperature Instability Measurements A Device Array for Efficient Bias-temperature Instability Measurements Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 143-146 Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 143-146 Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 143-146 2011/09 Refereed English Disclose to all
佐方 剛, 成木 保文, 奥村 隆昌, 金本 俊幾, 増田 弘生, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 古川 且洋, 田中 正和, 山中俊輝 佐方 剛, 成木 保文, 奥村 隆昌, 金本 俊幾, 増田 弘生, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 古川 且洋, 田中 正和, 山中俊輝 CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析 CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析 DA シンポジウム, 195-200 DA シンポジウム, 195-200 , 195-200 2011/08 Japanese Disclose to all
今川 隆司, 湯浅 洋史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 今川 隆司, 湯浅 洋史, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 配線資源の信頼性モデルを用いた粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け選択的三重化の最適化手法 配線資源の信頼性モデルを用いた粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け選択的三重化の最適化手法 DA シンポジウム, 111-116 DA シンポジウム, 111-116 , 111-116 2011/08 Japanese Disclose to all
片山 健太郎, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 片山 健太郎, 筒井 弘, 越智 裕之, 佐藤 高史 複数不良領域を持つ回路歩留まり解析のための逐次重点的サンプリング法 複数不良領域を持つ回路歩留まり解析のための逐次重点的サンプリング法 DA シンポジウム, 93-98 DA シンポジウム, 93-98 , 93-98 2011/08 Japanese Disclose to all
川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史 川島 潤也, 越智 裕之, 筒井 弘, 佐藤 高史 エネルギー最小化と動作保証を考慮したサブスレッショルド回路の設計指針の検討 エネルギー最小化と動作保証を考慮したサブスレッショルド回路の設計指針の検討 回路とシステムワークショップ, 401-406 回路とシステムワークショップ, 401-406 , 401-406 2011/08 Refereed Japanese Disclose to all
T. Sato, T. Kozaki, T. Uezono, H. Tsutsui, and H. Ochi T. Sato, T. Kozaki, T. Uezono, H. Tsutsui, and H. Ochi T. Sato, T. Kozaki, T. Uezono, H. Tsutsui, and H. Ochi A Stress-parallelized Device Array for Efficient Bias-temperature Stability Measurement A Stress-parallelized Device Array for Efficient Bias-temperature Stability Measurement A Stress-parallelized Device Array for Efficient Bias-temperature Stability Measurement The 5th IEEE International Workshop on Design for Manufacturability & Yield (DFM&Y), 19-22 The 5th IEEE International Workshop on Design for Manufacturability & Yield (DFM&Y), 19-22 The 5th IEEE International Workshop on Design for Manufacturability & Yield (DFM&Y), 19-22 2011/06 Refereed English Disclose to all
T. Miyakawa, K. Yamanaga, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Miyakawa, K. Yamanaga, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato T. Miyakawa, K. Yamanaga, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Acceleration of Random-walk-based Linear Circuit Analysis Using Importance Sampling Acceleration of Random-walk-based Linear Circuit Analysis Using Importance Sampling Acceleration of Random-walk-based Linear Circuit Analysis Using Importance Sampling ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 211-216 ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 211-216 ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 211-216 2011/05 Refereed English Disclose to all
萩原 汐, 伊達 貴徳, 上薗 巧, 益 一哉, 佐藤 高史 萩原 汐, 伊達 貴徳, 上薗 巧, 益 一哉, 佐藤 高史 混合正規分布による重点的サンプリングの高次元ばらつき解析への適用 混合正規分布による重点的サンプリングの高次元ばらつき解析への適用 情報処理学会第148回システムLSI設計技術研究会, Vol2011-SLDM-149, 25, 1-6 情報処理学会第148回システムLSI設計技術研究会, Vol2011-SLDM-149, 25, 1-6 , Vol2011-SLDM-149, 25, 1-6 2011/03 Japanese Disclose to all
H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato H. Yuasa, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato A Fully Pipelined Implementation of Monte Carlo Based SSTA on FPGAs A Fully Pipelined Implementation of Monte Carlo Based SSTA on FPGAs A Fully Pipelined Implementation of Monte Carlo Based SSTA on FPGAs International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 785-790 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 785-790 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 785-790 2011/03 Refereed English Disclose to all
T. Uezono, T. Kozaki, H. Ochi, and T. Sato T. Uezono, T. Kozaki, H. Ochi, and T. Sato T. Uezono, T. Kozaki, H. Ochi, and T. Sato A Transistor-array for Parallel BTI-effects Measurements A Transistor-array for Parallel BTI-effects Measurements A Transistor-array for Parallel BTI-effects Measurements Workshop on variability modeling and characterization (VMC), XXX-YYY Workshop on variability modeling and characterization (VMC), XXX-YYY Workshop on variability modeling and characterization (VMC), XXX-YYY 2010/11 English Disclose to all
K. Katayama, S. Hagiwara, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato K. Katayama, S. Hagiwara, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato K. Katayama, S. Hagiwara, H. Tsutsui, H. Ochi, and T. Sato Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 703-708 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 703-708 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 703-708 2010/11 Refereed English Disclose to all
上薗 巧, 越智 裕之, 佐藤 高史 上薗 巧, 越智 裕之, 佐藤 高史 リングオシレータによるしきい値簡易測定の温度依存性の検討 リングオシレータによるしきい値簡易測定の温度依存性の検討 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2010-9, 67-70 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2010-9, 67-70 , VLD2010-9, 67-70 2010/09 Japanese Disclose to all
T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato A Routing Architecture Exploration for Coarse-grained Reconfigurable Architecture With Automated SEU-tolerance Evaluation A Routing Architecture Exploration for Coarse-grained Reconfigurable Architecture With Automated SEU-tolerance Evaluation A Routing Architecture Exploration for Coarse-grained Reconfigurable Architecture With Automated SEU-tolerance Evaluation IEEE International SOC Conference (SOCC), 248-253 IEEE International SOC Conference (SOCC), 248-253 IEEE International SOC Conference (SOCC), 248-253 2010/07 Refereed English Disclose to all
T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato T. Imagawa, M. Hiromoto, H. Ochi, and T. Sato A Tool Chain for Generating SEU-vulnerability Map for Coarse-grained Reconfigurable Architecture A Tool Chain for Generating SEU-vulnerability Map for Coarse-grained Reconfigurable Architecture A Tool Chain for Generating SEU-vulnerability Map for Coarse-grained Reconfigurable Architecture The 25th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 420-423 The 25th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 420-423 The 25th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC), 420-423 2010/07 Refereed English Disclose to all
K. Yamanaga, K. Masu, and T. Sato K. Yamanaga, K. Masu, and T. Sato K. Yamanaga, K. Masu, and T. Sato Application of Generalized Scattering Matrix for Prediction of Power Supply Noise Application of Generalized Scattering Matrix for Prediction of Power Supply Noise Application of Generalized Scattering Matrix for Prediction of Power Supply Noise ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP), 83-90 ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP), 83-90 ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP), 83-90 2010/06 Refereed English Disclose to all
T. Uezono, T. Takahashi, M. Shintani, K. Hatayama, K. Masu, H. Ochi, and T. Sato T. Uezono, T. Takahashi, M. Shintani, K. Hatayama, K. Masu, H. Ochi, and T. Sato T. Uezono, T. Takahashi, M. Shintani, K. Hatayama, K. Masu, H. Ochi, and T. Sato Small Delay and Area Overhead Process Parameter Estimation Through Path-delay Inequalities Small Delay and Area Overhead Process Parameter Estimation Through Path-delay Inequalities Small Delay and Area Overhead Process Parameter Estimation Through Path-delay Inequalities IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 3553-3556 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 3553-3556 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 3553-3556 2010/05 Refereed English Disclose to all
T. Sato, T. Uezono, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, T. Uezono, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, T. Uezono, N. Nakayama, and K. Masu Decomposition of Drain-current Variation Into Gain-factor and Threshold Voltage Variations Decomposition of Drain-current Variation Into Gain-factor and Threshold Voltage Variations Decomposition of Drain-current Variation Into Gain-factor and Threshold Voltage Variations IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 1053-1056 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 1053-1056 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 1053-1056 2010/05 Refereed English Disclose to all
湯浅 洋史, 今川 隆司, 廣本 正之, 越智 裕之, 佐藤 高史 湯浅 洋史, 今川 隆司, 廣本 正之, 越智 裕之, 佐藤 高史 誤り伝播に着目した粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け部分的三重化手法 誤り伝播に着目した粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け部分的三重化手法 信学技報, VLD2010-4, 37-42 信学技報, VLD2010-4, 37-42 , VLD2010-4, 37-42 2010/05 Japanese Disclose to all
T. Uezono, T. Takahashi, M. Shintani, K. Hatayama, K. Masu, H. Ochi, and T. Sato T. Uezono, T. Takahashi, M. Shintani, K. Hatayama, K. Masu, H. Ochi, and T. Sato T. Uezono, T. Takahashi, M. Shintani, K. Hatayama, K. Masu, H. Ochi, and T. Sato Path Clustering for Adaptive Test Path Clustering for Adaptive Test Path Clustering for Adaptive Test IEEE VLSI Test Symposium (VTS), 15-20 IEEE VLSI Test Symposium (VTS), 15-20 IEEE VLSI Test Symposium (VTS), 15-20 2010/04 Refereed English Disclose to all
S. Hagiwara, K. Yamanaga, R. Takahashi, K. Masu, H. Ochi, and T. Sato S. Hagiwara, K. Yamanaga, R. Takahashi, K. Masu, H. Ochi, and T. Sato S. Hagiwara, K. Yamanaga, R. Takahashi, K. Masu, H. Ochi, and T. Sato Linear Time Calculation of State-dependent Power Distribution Network Capacitance Linear Time Calculation of State-dependent Power Distribution Network Capacitance Linear Time Calculation of State-dependent Power Distribution Network Capacitance International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 75-80 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 75-80 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 75-80 2010/03 Refereed English Disclose to all
T. Date, S. Hagiwara, K. Masu, and T. Sato T. Date, S. Hagiwara, K. Masu, and T. Sato T. Date, S. Hagiwara, K. Masu, and T. Sato Robust Importance Sampling for Efficient SRAM Yield Analysis Robust Importance Sampling for Efficient SRAM Yield Analysis Robust Importance Sampling for Efficient SRAM Yield Analysis International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 15-21 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 15-21 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 15-21 2010/03 Refereed English Disclose to all
K. Katayama, T. Date, H. Ochi, and T. Sato K. Katayama, T. Date, H. Ochi, and T. Sato K. Katayama, T. Date, H. Ochi, and T. Sato Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 121-126 ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 121-126 ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 121-126 2010/03 Refereed English Disclose to all
伊達 貴徳, 萩原 汐, 益 一哉, 佐藤 高史 伊達 貴徳, 萩原 汐, 益 一哉, 佐藤 高史 超球の一部を用いた歩留まり推定における不良領域の効率的探索手法 超球の一部を用いた歩留まり推定における不良領域の効率的探索手法 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2009-105, 37-42 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD2009-105, 37-42 , VLD2009-105, 37-42 2010/03 Japanese Disclose to all
伊達 貴徳, 萩原 汐, 益 一哉, 佐藤 高史 伊達 貴徳, 萩原 汐, 益 一哉, 佐藤 高史 重点的サンプリングにおける平均値移動量の決定手法とそのSRAM歩留り解析への適用 重点的サンプリングにおける平均値移動量の決定手法とそのSRAM歩留り解析への適用 情報処理学会第142回システムLSI設計技術研究会, Vol2009-SLDM-142, 14, 1-6 情報処理学会第142回システムLSI設計技術研究会, Vol2009-SLDM-142, 14, 1-6 , Vol2009-SLDM-142, 14, 1-6 2009/12 Japanese Disclose to all
T. Takahashi, T. Uezono, M. Shintani, K. Masu, and T. Sato T. Takahashi, T. Uezono, M. Shintani, K. Masu, and T. Sato T. Takahashi, T. Uezono, M. Shintani, K. Masu, and T. Sato On-die Parameter Extraction from Path-delay Measurements On-die Parameter Extraction from Path-delay Measurements On-die Parameter Extraction from Path-delay Measurements IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC), 101-104 IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC), 101-104 IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC), 101-104 2009/11 Refereed English Disclose to all
佐藤 高史 佐藤 高史 セラミックコンデンサのモデル化とオンパッケージでの電源ノイズ対策 セラミックコンデンサのモデル化とオンパッケージでの電源ノイズ対策 シリコンRF研究会, XXX-YYY シリコンRF研究会, XXX-YYY , XXX-YYY 2009/11 Japanese Disclose to all
M. Shintani, T. Uezono, T. Takahashi, H. Ueyama, T. Sato, K. Hatayama, T. Aikyo, and K. Masu M. Shintani, T. Uezono, T. Takahashi, H. Ueyama, T. Sato, K. Hatayama, T. Aikyo, and K. Masu M. Shintani, T. Uezono, T. Takahashi, H. Ueyama, T. Sato, K. Hatayama, T. Aikyo, and K. Masu An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information IEEE Asian Test Symposium (ATS), 155-160 IEEE Asian Test Symposium (ATS), 155-160 IEEE Asian Test Symposium (ATS), 155-160 2009/09 Refereed English Disclose to all
宮川 哲朗, 山長 功, 越智 裕之, 佐藤 高史 宮川 哲朗, 山長 功, 越智 裕之, 佐藤 高史 重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路解析の高速化 重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路解析の高速化 DA シンポジウム, 51-56 DA シンポジウム, 51-56 , 51-56 2009/08 Japanese Disclose to all
増田 弘生, 佐方 剛, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 古川 且洋, 田中 正和, 山中 俊輝, 金本俊幾 増田 弘生, 佐方 剛, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 古川 且洋, 田中 正和, 山中 俊輝, 金本俊幾 RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討 RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討 DA シンポジウム, 209-214 DA シンポジウム, 209-214 , 209-214 2009/08 Japanese Disclose to all
今川 隆司, 廣本 正之, 高 永勲, Dawood Alnajjar, 密山 幸男, 越智 裕之, 佐藤 高史 今川 隆司, 廣本 正之, 高 永勲, Dawood Alnajjar, 密山 幸男, 越智 裕之, 佐藤 高史 柔軟な信頼性を実現する再構成可能デバイスのための配置配線ツール 柔軟な信頼性を実現する再構成可能デバイスのための配置配線ツール DA シンポジウム, 55-59 DA シンポジウム, 55-59 , 55-59 2009/08 Japanese Disclose to all
高橋 知之, 上薗 巧, 越智 裕之, 益 一哉, 佐藤 高史 高橋 知之, 上薗 巧, 越智 裕之, 益 一哉, 佐藤 高史 パス遅延測定によるチップ特性の推定手法 パス遅延測定によるチップ特性の推定手法 DA シンポジウム, 133-138 DA シンポジウム, 133-138 , 133-138 2009/08 Japanese Disclose to all
K. Yamanaga, S. Amakawa, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, S. Amakawa, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, S. Amakawa, T. Sato, and K. Masu Two-dimensional Moment Method for Analyzing Current Distribution of a Ceramic Capacitor Two-dimensional Moment Method for Analyzing Current Distribution of a Ceramic Capacitor Two-dimensional Moment Method for Analyzing Current Distribution of a Ceramic Capacitor International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Kyoto), 575-578 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Kyoto), 575-578 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Kyoto), 575-578 2009/07 Refereed English Disclose to all
T. Sato T. Sato T. Sato Bridging the Gap Between Laboratory Measurement and Simulation Model (Invited) Bridging the Gap Between Laboratory Measurement and Simulation Model (Invited) Bridging the Gap Between Laboratory Measurement and Simulation Model (Invited) International Workshop on Emerging Circuits and Systems (IWECS), XXX-YYY International Workshop on Emerging Circuits and Systems (IWECS), XXX-YYY International Workshop on Emerging Circuits and Systems (IWECS), XXX-YYY 2009/07 English Disclose to all
H. Sasaki, T. Harada, T. Kuriyama, T. Sato, and K. Masu H. Sasaki, T. Harada, T. Kuriyama, T. Sato, and K. Masu H. Sasaki, T. Harada, T. Kuriyama, T. Sato, and K. Masu Application of the EMI Decoupling Circuit Consisting of Two Capacitors and a Power Trace to Quad Flat Package (QFP) LSI Application of the EMI Decoupling Circuit Consisting of Two Capacitors and a Power Trace to Quad Flat Package (QFP) LSI Application of the EMI Decoupling Circuit Consisting of Two Capacitors and a Power Trace to Quad Flat Package (QFP) LSI IEICE Transactions on Communications (Japanese Edition), J92-B, 5, 883-891 IEICE Transactions on Communications (Japanese Edition), J92-B, 5, 883-891 IEICE Transactions on Communications (Japanese Edition), J92-B, 5, 883-891 2009/05 Refereed English Disclose to all
伊達 貴徳, 萩原 汐, 上薗 巧, 佐藤 高史 伊達 貴徳, 萩原 汐, 上薗 巧, 佐藤 高史 SRAM回路の構造的対称性を考慮した2段階学習型重点的サンプリング SRAM回路の構造的対称性を考慮した2段階学習型重点的サンプリング 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD09-5, 37-42 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD09-5, 37-42 , VLD09-5, 37-42 2009/05 Japanese Disclose to all
S. Amakawa, K. Yamanaga, H. Ito, T. Sato, N. Ishihara, and K. Masu S. Amakawa, K. Yamanaga, H. Ito, T. Sato, N. Ishihara, and K. Masu S. Amakawa, K. Yamanaga, H. Ito, T. Sato, N. Ishihara, and K. Masu S-parameter-based Modal Decomposition of Multiconductor Transmission Lines and Its Application to De-embedding S-parameter-based Modal Decomposition of Multiconductor Transmission Lines and Its Application to De-embedding S-parameter-based Modal Decomposition of Multiconductor Transmission Lines and Its Application to De-embedding IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 177-180 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 177-180 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 177-180 2009/03 Refereed English Disclose to all
山田 健太,庄 俊之, 益 一哉, 中山 範明, 佐藤 高史, 天川 修平, 國清 辰也, 吉村尚郎, 伊藤 優, 熊代成孝 山田 健太,庄 俊之, 益 一哉, 中山 範明, 佐藤 高史, 天川 修平, 國清 辰也, 吉村尚郎, 伊藤 優, 熊代成孝 STIストレスによるMOSFET特性変動のコンパクトモデル STIストレスによるMOSFET特性変動のコンパクトモデル 第56回応用物理学関係連合講演会, 31p-G 第56回応用物理学関係連合講演会, 31p-G , 31p-G 2009/03 Japanese Disclose to all
萩原 汐, 高橋 亮, 山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 萩原 汐, 高橋 亮, 山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 状態依存性を考慮した論理回路の電源間容量モデルの検討 状態依存性を考慮した論理回路の電源間容量モデルの検討 電子情報通信学会 総合大会, C-12 電子情報通信学会 総合大会, C-12 , C-12 2009/03 Japanese Disclose to all
山長 功, 高橋 亮, 萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 山長 功, 高橋 亮, 萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 状態依存性解析のための電源間容量のテーブルルックアップ計算 状態依存性解析のための電源間容量のテーブルルックアップ計算 電子情報通信学会 総合大会, C-12 電子情報通信学会 総合大会, C-12 , C-12 2009/03 Japanese Disclose to all
新谷 道広, 高橋 知之, 植山 寛之, 上薗 巧, 佐藤 高史, 畠山 一実, 相京 隆, 益 一哉 新谷 道広, 高橋 知之, 植山 寛之, 上薗 巧, 佐藤 高史, 畠山 一実, 相京 隆, 益 一哉 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト 電子情報通信学会 総合大会, D-10 電子情報通信学会 総合大会, D-10 , D-10 2009/03 Japanese Disclose to all
上薗 巧, 高橋 知之, 植山 寛之, 新谷 道広, 佐藤 高史, 益 一哉 上薗 巧, 高橋 知之, 植山 寛之, 新谷 道広, 佐藤 高史, 益 一哉 適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法 適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法 電子情報通信学会 総合大会, D-10 電子情報通信学会 総合大会, D-10 , D-10 2009/03 Japanese Disclose to all
榎並 孝司, 橋本 昌宜, 佐藤 高史 榎並 孝司, 橋本 昌宜, 佐藤 高史 電源ノイズ考慮統計的タイミング解析を用いたデカップリング容量割当手法 電源ノイズ考慮統計的タイミング解析を用いたデカップリング容量割当手法 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD09-36, 207-212 信学技報 VLSI設計技術研究会, VLD09-36, 207-212 , VLD09-36, 207-212 2009/03 Japanese Disclose to all
T. Sato, K. Yamanaga, and K. Masu T. Sato, K. Yamanaga, and K. Masu T. Sato, K. Yamanaga, and K. Masu Non-invasive Direct Probing for On-chip Voltage Measurement Non-invasive Direct Probing for On-chip Voltage Measurement Non-invasive Direct Probing for On-chip Voltage Measurement International SoC Design Conference (ISOCC), 350-353 International SoC Design Conference (ISOCC), 350-353 International SoC Design Conference (ISOCC), 350-353 2008/11 Refereed English Disclose to all
N. Nakayama, T. Sato, H. Ueyama, and K. Masu N. Nakayama, T. Sato, H. Ueyama, and K. Masu N. Nakayama, T. Sato, H. Ueyama, and K. Masu An Efficient Extraction of Random and Systematic Gate-length Variation Through Poly-Si Resistor Measurement An Efficient Extraction of Random and Systematic Gate-length Variation Through Poly-Si Resistor Measurement An Efficient Extraction of Random and Systematic Gate-length Variation Through Poly-Si Resistor Measurement Workshop on Test Structure Design for Variability Characterization, 4.4-4.4 Workshop on Test Structure Design for Variability Characterization, 4.4-4.4 Workshop on Test Structure Design for Variability Characterization, 4.4-4.4 2008/11 Refereed English Disclose to all
T. Enami, M. Hashimoto, and T. Sato T. Enami, M. Hashimoto, and T. Sato T. Enami, M. Hashimoto, and T. Sato Decoupling Capacitance Allocation for Timing With Statistical Noise Model and Timing Analysis Decoupling Capacitance Allocation for Timing With Statistical Noise Model and Timing Analysis Decoupling Capacitance Allocation for Timing With Statistical Noise Model and Timing Analysis IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 420-425 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 420-425 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD), 420-425 2008/11 Refereed English Disclose to all
T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu A MOS Transistor Array With Pico-ampere Order Precision for Accurate Characterization of Leakage Current Variation A MOS Transistor Array With Pico-ampere Order Precision for Accurate Characterization of Leakage Current Variation A MOS Transistor Array With Pico-ampere Order Precision for Accurate Characterization of Leakage Current Variation IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC), 389-392 IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC), 389-392 IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC), 389-392 2008/11 Refereed English Disclose to all
K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu Accurate Parasitic Inductance Determination of a Ceramic Capacitor Through 2-port Measurements Accurate Parasitic Inductance Determination of a Ceramic Capacitor Through 2-port Measurements Accurate Parasitic Inductance Determination of a Ceramic Capacitor Through 2-port Measurements The 17th topical meeting on electrical performance of electronic packaging (EPEP), 119-122 The 17th topical meeting on electrical performance of electronic packaging (EPEP), 119-122 The 17th topical meeting on electrical performance of electronic packaging (EPEP), 119-122 2008/10 Refereed English Disclose to all
佐藤 高史, 山長 功 佐藤 高史, 山長 功 LSI等価回路モデル評価に向けたオンチップ電源電圧の測定手法 LSI等価回路モデル評価に向けたオンチップ電源電圧の測定手法 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, BI-2-5, SS85-SS86 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, BI-2-5, SS85-SS86 , BI-2-5, SS85-SS86 2008/09 Japanese Disclose to all
伊達 貴徳, 萩原 汐, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 伊達 貴徳, 萩原 汐, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 回路特性ばらつき解析に対する重点的サンプリングの適用検討 回路特性ばらつき解析に対する重点的サンプリングの適用検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-27, 27-27 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-27, 27-27 , A-1-27, 27-27 2008/09 Japanese Disclose to all
植山 寛之, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 植山 寛之, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 抵抗測定法によるトランジスタアレイ回路の測定時間短縮化 抵抗測定法によるトランジスタアレイ回路の測定時間短縮化 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12-41, 110-110 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12-41, 110-110 , C-12-41, 110-110 2008/09 Japanese Disclose to all
高橋 知之, 植山 寛之, 萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 高橋 知之, 植山 寛之, 萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 電源電圧変動やプロセスばらつきに対する標準セルの遅延感度検討 電源電圧変動やプロセスばらつきに対する標準セルの遅延感度検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-2, 52-52 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-2, 52-52 , A-3-2, 52-52 2008/09 Japanese Disclose to all
高橋 亮, 山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 高橋 亮, 山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 CMOS論理回路における電源網容量の入力状態依存性についての検討 CMOS論理回路における電源網容量の入力状態依存性についての検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12-42, 111-111 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12-42, 111-111 , C-12-42, 111-111 2008/09 Japanese Disclose to all
萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 パス遅延時間ばらつきを考慮した電源遮断回路の設計指針 パス遅延時間ばらつきを考慮した電源遮断回路の設計指針 DA シンポジウム, 7-12 DA シンポジウム, 7-12 , 7-12 2008/08 Japanese Disclose to all
M. Imai, T. Sato, N. Nakayama, and K. Masu M. Imai, T. Sato, N. Nakayama, and K. Masu M. Imai, T. Sato, N. Nakayama, and K. Masu Non-parametric Statistical Static Timing Analysis: An SSTA Framework for Arbitrary Distribution Non-parametric Statistical Static Timing Analysis: An SSTA Framework for Arbitrary Distribution Non-parametric Statistical Static Timing Analysis: An SSTA Framework for Arbitrary Distribution ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 698-701 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 698-701 ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC), 698-701 2008/06 Refereed English Disclose to all
K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu Substrate-geometry Aware 2-port Modeling for Surface-mount Passive Components Substrate-geometry Aware 2-port Modeling for Surface-mount Passive Components Substrate-geometry Aware 2-port Modeling for Surface-mount Passive Components 19th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, 506-509 19th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, 506-509 19th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, 506-509 2008/05 Refereed English Disclose to all
K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu K. Yamanaga, T. Sato, and K. Masu On-chip Differential and Common Mode Voltage Measurement Using Off-chip Referenced Twin Probing On-chip Differential and Common Mode Voltage Measurement Using Off-chip Referenced Twin Probing On-chip Differential and Common Mode Voltage Measurement Using Off-chip Referenced Twin Probing IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects (SPI), S3A-4 IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects (SPI), S3A-4 IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects (SPI), S3A-4 2008/05 Refereed English Disclose to all
奥村 隆昌, 黒川 敦, 増田 弘生, 金本 俊幾, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 高藤 浩資, 中島 英斉, 小野 信任 奥村 隆昌, 黒川 敦, 増田 弘生, 金本 俊幾, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 高藤 浩資, 中島 英斉, 小野 信任 統計的 STA でのスルー依存性を考慮した遅延ばらつき計算手法の提案 統計的 STA でのスルー依存性を考慮した遅延ばらつき計算手法の提案 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 299-304 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 299-304 , 299-304 2008/04 Refereed Japanese Disclose to all
増田 弘生, 大川 眞一, 黄田 剛, 奥村 隆昌, 黒川 敦, 増田 弘生, 金本 俊幾, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 高藤 浩資, 中島 英斉, 小野 信任 増田 弘生, 大川 眞一, 黄田 剛, 奥村 隆昌, 黒川 敦, 増田 弘生, 金本 俊幾, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 高藤 浩資, 中島 英斉, 小野 信任 チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関 チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 617-622 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 617-622 , 617-622 2008/04 Refereed Japanese Disclose to all
山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 基板実装状態を考慮可能な表面実装型受動部品の2ポートモデリング手法 基板実装状態を考慮可能な表面実装型受動部品の2ポートモデリング手法 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 331-336 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 331-336 , 331-336 2008/04 Refereed Japanese Disclose to all
萩原 汐, 佐藤 高史, 益一哉 萩原 汐, 佐藤 高史, 益一哉 電源遮断回路におけるパス遅延時間ばらつきの計算 電源遮断回路におけるパス遅延時間ばらつきの計算 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 427-432 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 427-432 , 427-432 2008/04 Refereed Japanese Disclose to all
上薗 巧, 佐藤 高史, 益一哉 上薗 巧, 佐藤 高史, 益一哉 プロセスばらつきの積極的活用による非繰返し電圧波形の測定 プロセスばらつきの積極的活用による非繰返し電圧波形の測定 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 439-444 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 439-444 , 439-444 2008/04 Refereed Japanese Disclose to all
萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 電源遮断回路におけるインバータ列遅延時間ばらつきの計算 電源遮断回路におけるインバータ列遅延時間ばらつきの計算 電子情報通信学会 総合大会, A-3 電子情報通信学会 総合大会, A-3 , A-3 2008/03 Japanese Disclose to all
山長 功 佐藤 高史, 益 一哉 山長 功 佐藤 高史, 益 一哉 測定系の侵襲性を定量化可能なオンチップ電源電圧変動の直接測定手法 測定系の侵襲性を定量化可能なオンチップ電源電圧変動の直接測定手法 電子情報通信学会 総合大会, C-12 電子情報通信学会 総合大会, C-12 , C-12 2008/03 Japanese Disclose to all
植山 寛之, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 植山 寛之, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 リーク電流測定用トランジスタアレイ回路の測定 リーク電流測定用トランジスタアレイ回路の測定 電子情報通信学会 総合大会, A-3 電子情報通信学会 総合大会, A-3 , A-3 2008/03 Japanese Disclose to all
T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu Determination of Optimal Polynomial Regression Function to Decompose On-die Systematic and Random Variations Determination of Optimal Polynomial Regression Function to Decompose On-die Systematic and Random Variations Determination of Optimal Polynomial Regression Function to Decompose On-die Systematic and Random Variations ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 518-523 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 518-523 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 518-523 2008/01 Refereed English Disclose to all
佐藤 高史 佐藤 高史 [チュートリアル講演] 集積回路における電源品質の解析技術 [チュートリアル講演] 集積回路における電源品質の解析技術 信学技報, CPM2008-140, 71-76 信学技報, CPM2008-140, 71-76 , CPM2008-140, 71-76 2008/01 Japanese Disclose to all
山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 Full-wave 電磁界シミュレータによるプリント回路基板の電源網モデル化 Full-wave 電磁界シミュレータによるプリント回路基板の電源網モデル化 シリコンRF研究会, XXX-YYY シリコンRF研究会, XXX-YYY , XXX-YYY 2007/11 Japanese Disclose to all
山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 プリント配線基板電源網のインピーダンス低減手法の検討 プリント配線基板電源網のインピーダンス低減手法の検討 システムLSIワークショップ, 308-310 システムLSIワークショップ, 308-310 , 308-310 2007/11 Japanese Disclose to all
T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, H. Ueyama, N. Nakayama, and K. Masu A Study on Variation-component Decomposition Using Polynomial Smoothing Function A Study on Variation-component Decomposition Using Polynomial Smoothing Function A Study on Variation-component Decomposition Using Polynomial Smoothing Function The 14th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 250-255 The 14th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 250-255 The 14th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 250-255 2007/10 Refereed English Disclose to all
萩原 汐, 佐藤 高史,益 一哉 萩原 汐, 佐藤 高史,益 一哉 パワーゲーティング技術における製造ばらつきの回路特性への影響 パワーゲーティング技術における製造ばらつきの回路特性への影響 情報処理学会第131回システムLSI設計技術研究会, 37-42 情報処理学会第131回システムLSI設計技術研究会, 37-42 , 37-42 2007/10 Japanese Disclose to all
T. Sato, T. Uezono, and K. Masu T. Sato, T. Uezono, and K. Masu T. Sato, T. Uezono, and K. Masu An Implementation of Voltage Drop Sensor Circuit for Power Supply Network Monitoring An Implementation of Voltage Drop Sensor Circuit for Power Supply Network Monitoring An Implementation of Voltage Drop Sensor Circuit for Power Supply Network Monitoring Workshop on SoC Design Methodologies, 107-112 Workshop on SoC Design Methodologies, 107-112 Workshop on SoC Design Methodologies, 107-112 2007/09 English Disclose to all
T. Sato, S. Hagiwara, T. Uezono, and K. Masu T. Sato, S. Hagiwara, T. Uezono, and K. Masu T. Sato, S. Hagiwara, T. Uezono, and K. Masu Weakness Identification for Effective Repair of Power Distribution Network Weakness Identification for Effective Repair of Power Distribution Network Weakness Identification for Effective Repair of Power Distribution Network 17th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 222-231 17th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 222-231 17th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 222-231 2007/09 Refereed English Disclose to all
植山 寛之, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 植山 寛之, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 大域ばらつきの近似次数が回路遅延ばらつきに与える影響 大域ばらつきの近似次数が回路遅延ばらつきに与える影響 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-8, 8-8 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-1-8, 8-8 , A-1-8, 8-8 2007/09 Japanese Disclose to all
上薗 巧, 佐藤 高史, 益 一哉 上薗 巧, 佐藤 高史, 益 一哉 電源電圧降下の時間的・空間的広がり可視化手法 電源電圧降下の時間的・空間的広がり可視化手法 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12-6, 61-61 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12-6, 61-61 , C-12-6, 61-61 2007/09 Japanese Disclose to all
山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 山長 功, 佐藤 高史, 益 一哉 ビアのインダクタンスに着目したプリント配線基板電源網のインピーダンス低減手法の検討 ビアのインダクタンスに着目したプリント配線基板電源網のインピーダンス低減手法の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, B-4-7, 270-270 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, B-4-7, 270-270 , B-4-7, 270-270 2007/09 Japanese Disclose to all
今井 正紀, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 今井 正紀, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 ノンパラメトリック統計的タイミング解析 (SSTA) の実現手法の検討 ノンパラメトリック統計的タイミング解析 (SSTA) の実現手法の検討 DA シンポジウム, 121-126 DA シンポジウム, 121-126 , 121-126 2007/08 Japanese Disclose to all
高藤 浩資, 小林 宏行, 小野 信任, 増田 弘生, 中島 英斉, 奥村 隆昌, 橋本 昌宜, 佐藤 高史 高藤 浩資, 小林 宏行, 小野 信任, 増田 弘生, 中島 英斉, 奥村 隆昌, 橋本 昌宜, 佐藤 高史 統計的 STA でのスルー依存性を考慮した遅延ばらつき計算手法の提案 統計的 STA でのスルー依存性を考慮した遅延ばらつき計算手法の提案 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 709-714 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 709-714 , 709-714 2007/04 Refereed Japanese Disclose to all
今井 正紀, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 今井 正紀, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 統計的パス遅延解析のための Monte Carlo STA 実行数評価の一手法 統計的パス遅延解析のための Monte Carlo STA 実行数評価の一手法 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 703-708 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 703-708 , 703-708 2007/04 Refereed Japanese Disclose to all
中林 太美世, 黒川 敦, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 増田 弘生 中林 太美世, 黒川 敦, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 増田 弘生 45-65nm ノードにおける遅延ばらつき特性の環境温度依存性 45-65nm ノードにおける遅延ばらつき特性の環境温度依存性 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 691-696 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 691-696 , 691-696 2007/04 Refereed Japanese Disclose to all
萩原 汐,上薗 巧,佐藤 高史,益 一哉 萩原 汐,上薗 巧,佐藤 高史,益 一哉 相関係数にもとづく回帰分析の電源改善への適用 相関係数にもとづく回帰分析の電源改善への適用 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 47-50 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 47-50 , 47-50 2007/04 Refereed Japanese Disclose to all
T. Sato, T. Uezono, S. Hagiwara, K. Okada, S. Amakawa, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, T. Uezono, S. Hagiwara, K. Okada, S. Amakawa, N. Nakayama, and K. Masu T. Sato, T. Uezono, S. Hagiwara, K. Okada, S. Amakawa, N. Nakayama, and K. Masu A MOS Transistor-array for Accurate Measurement of Subthreshold Leakage Variation A MOS Transistor-array for Accurate Measurement of Subthreshold Leakage Variation A MOS Transistor-array for Accurate Measurement of Subthreshold Leakage Variation International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 21-26 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 21-26 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 21-26 2007/03 Refereed English Disclose to all
S. Amakawa, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu S. Amakawa, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu S. Amakawa, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu Adaptable Wire-length Distribution With Tunable Occupation Probability Adaptable Wire-length Distribution With Tunable Occupation Probability Adaptable Wire-length Distribution With Tunable Occupation Probability ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP), 1-8 ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP), 1-8 ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP), 1-8 2007/03 Refereed English Disclose to all
S. Hagiwara, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu S. Hagiwara, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu S. Hagiwara, T. Uezono, T. Sato, and K. Masu Improvement of Power Distribution Network Using Correlation-based Regression Analysis Improvement of Power Distribution Network Using Correlation-based Regression Analysis Improvement of Power Distribution Network Using Correlation-based Regression Analysis ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 513-516 ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 513-516 ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI), 513-516 2007/03 Refereed English Disclose to all
天川 修平, 上薗 巧, 佐藤 高史, 益 一哉 天川 修平, 上薗 巧, 佐藤 高史, 益 一哉 非理想的な回路分割とセル占有率を考慮した配線長分布モデル 非理想的な回路分割とセル占有率を考慮した配線長分布モデル 電子情報通信学会 総合大会, A-3 電子情報通信学会 総合大会, A-3 , A-3 2007/03 Japanese Disclose to all
萩原 汐, 上薗 巧, 佐藤 高史, 益 一哉 萩原 汐, 上薗 巧, 佐藤 高史, 益 一哉 電源解析への相関係数利用の検討 電源解析への相関係数利用の検討 電子情報通信学会 総合大会, A-3 電子情報通信学会 総合大会, A-3 , A-3 2007/03 Japanese Disclose to all
J. Seita, H. Ito, K. Okada, T. Sato, and K. Masu J. Seita, H. Ito, K. Okada, T. Sato, and K. Masu J. Seita, H. Ito, K. Okada, T. Sato, and K. Masu A Multi-drop Transmission-line Interconnect in Si LSI A Multi-drop Transmission-line Interconnect in Si LSI A Multi-drop Transmission-line Interconnect in Si LSI ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 118-119 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 118-119 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 118-119 2007/01 Refereed English Disclose to all
小笠原 泰弘, 榎並 孝司, 橋本 昌宜, 佐藤 高史, 尾上 孝雄 小笠原 泰弘, 榎並 孝司, 橋本 昌宜, 佐藤 高史, 尾上 孝雄 電源ノイズによる遅延変動の測定とフルチップシミュレーションによる遅延変動の再現 電源ノイズによる遅延変動の測定とフルチップシミュレーションによる遅延変動の再現 信学技報, ICD2006-174, 19-23 信学技報, ICD2006-174, 19-23 , ICD2006-174, 19-23 2007/01 Japanese Disclose to all
M. Okada, C. Kodama, T. Sato, and K. Fujiyoshi M. Okada, C. Kodama, T. Sato, and K. Fujiyoshi M. Okada, C. Kodama, T. Sato, and K. Fujiyoshi Thermal Driven Module Placement Using Sequence-pair Thermal Driven Module Placement Using Sequence-pair Thermal Driven Module Placement Using Sequence-pair Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS), 1871-1875 Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS), 1871-1875 Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS), 1871-1875 2006/12 Refereed English Disclose to all
J. Kim, T. Yammouchi, K. Okada, T. Sato, and K. Masu J. Kim, T. Yammouchi, K. Okada, T. Sato, and K. Masu J. Kim, T. Yammouchi, K. Okada, T. Sato, and K. Masu A Left Handed Material on Si CMOS Chip With Wafer Level Package Process A Left Handed Material on Si CMOS Chip With Wafer Level Package Process A Left Handed Material on Si CMOS Chip With Wafer Level Package Process Asia Pacific Microwave Conference (APMC), 1321-1324 Asia Pacific Microwave Conference (APMC), 1321-1324 Asia Pacific Microwave Conference (APMC), 1321-1324 2006/12 Refereed English Disclose to all
藤久 雄己, 岡田 健一, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 藤久 雄己, 岡田 健一, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討 システムLSIワークショップ, 259-262 システムLSIワークショップ, 259-262 , 259-262 2006/11 Japanese Disclose to all
Y. Ogasahara, T. Enami, M. Hashimoto, T. Sato, and T. Onoye Y. Ogasahara, T. Enami, M. Hashimoto, T. Sato, and T. Onoye Y. Ogasahara, T. Enami, M. Hashimoto, T. Sato, and T. Onoye Measurement Results of Delay Degradation Due to Power Supply Noise Well Correlated With Full-chip Simulation Measurement Results of Delay Degradation Due to Power Supply Noise Well Correlated With Full-chip Simulation Measurement Results of Delay Degradation Due to Power Supply Noise Well Correlated With Full-chip Simulation IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 861-864 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 861-864 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 861-864 2006/09 Refereed English Disclose to all
藤久 雄己, 上園 巧, 萩原 汐, 岡田 健一, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 藤久 雄己, 上園 巧, 萩原 汐, 岡田 健一, 佐藤 高史, 中山 範明, 益 一哉 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-22, 66-66 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-22, 66-66 , A-3-22, 66-66 2006/09 Japanese Disclose to all
金 章九, 山内 拓弥, 岡田 健一, 佐藤 高史, 益 一哉 金 章九, 山内 拓弥, 岡田 健一, 佐藤 高史, 益 一哉 Si CMOSチップにおける右手・左手系伝送線路の検討 Si CMOSチップにおける右手・左手系伝送線路の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12-36, 97-97 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, C-12-36, 97-97 , C-12-36, 97-97 2006/09 Japanese Disclose to all
清田 淳紀, 伊藤 浩之, 岡田 健一, 佐藤 高史, 益 一哉 清田 淳紀, 伊藤 浩之, 岡田 健一, 佐藤 高史, 益 一哉 伝送線路を用いたオンチップ高速伝送回路の研究 伝送線路を用いたオンチップ高速伝送回路の研究 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-16, 60-60 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-16, 60-60 , A-3-16, 60-60 2006/09 Japanese Disclose to all
上薗 巧, 佐藤 高史, 益 一哉 上薗 巧, 佐藤 高史, 益 一哉 リングオシレータを用いる瞬時電圧降下測定手法の精度改善 リングオシレータを用いる瞬時電圧降下測定手法の精度改善 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-23, 67-67 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-23, 67-67 , A-3-23, 67-67 2006/09 Japanese Disclose to all
萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 萩原 汐, 佐藤 高史, 益 一哉 高精度デバイスばらつき測定のための電源構造の設計 高精度デバイスばらつき測定のための電源構造の設計 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-21, 65-65 電子情報通信学会 ソサイエティ大会, A-3-21, 65-65 , A-3-21, 65-65 2006/09 Japanese Disclose to all
小林 宏行, 小野 信任, 佐藤 高史, 岩井 二郎, 橋本 昌宜 小林 宏行, 小野 信任, 佐藤 高史, 岩井 二郎, 橋本 昌宜 統計的 STA の精度検証手法 統計的 STA の精度検証手法 DA シンポジウム, 7-12 DA シンポジウム, 7-12 , 7-12 2006/07 Japanese Disclose to all
小林 宏行, 小野 信任, 佐藤 高史, 岩井 二郎, 橋本 昌宜 小林 宏行, 小野 信任, 佐藤 高史, 岩井 二郎, 橋本 昌宜 統計的 SSTA の精度検証方法 統計的 SSTA の精度検証方法 第19回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 553-558 第19回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 553-558 , 553-558 2006/04 Refereed Japanese Disclose to all
岡田 典英, 児玉 親亮, 佐藤 高史, 藤吉 邦洋 岡田 典英, 児玉 親亮, 佐藤 高史, 藤吉 邦洋 オンチップ熱バラツキを考慮したモジュール配置手法 オンチップ熱バラツキを考慮したモジュール配置手法 DA シンポジウム, 249-254 DA シンポジウム, 249-254 , 249-254 2005/08 Japanese Disclose to all
蜂屋 孝太郎, 小林 宏行, 奥村 隆昌, 佐藤 高史, 岡 宏規 蜂屋 孝太郎, 小林 宏行, 奥村 隆昌, 佐藤 高史, 岡 宏規 ジッタ制約を考慮した IO 同時動作設計ルールの提案 ジッタ制約を考慮した IO 同時動作設計ルールの提案 第18回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 49-54 第18回 回路とシステム軽井沢ワークショップ, 49-54 , 49-54 2005/04 Refereed Japanese Disclose to all
M. Hashimoto, J. Yamaguchi, T. Sato, and H. Onodera M. Hashimoto, J. Yamaguchi, T. Sato, and H. Onodera M. Hashimoto, J. Yamaguchi, T. Sato, and H. Onodera Timing Analysis Considering Temporal Supply Voltage Fluctuation Timing Analysis Considering Temporal Supply Voltage Fluctuation Timing Analysis Considering Temporal Supply Voltage Fluctuation ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 1098-1101 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 1098-1101 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 1098-1101 2005/01 Refereed English Disclose to all
T. Sato, J. Ichimiya, N. Ono, K. Hachiya, and M. Hashimoto T. Sato, J. Ichimiya, N. Ono, K. Hachiya, and M. Hashimoto T. Sato, J. Ichimiya, N. Ono, K. Hachiya, and M. Hashimoto On-chip Thermal Gradient Analysis and Temperature Flattening for SoC Design On-chip Thermal Gradient Analysis and Temperature Flattening for SoC Design On-chip Thermal Gradient Analysis and Temperature Flattening for SoC Design ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 1074-1077 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 1074-1077 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 1074-1077 2005/01 Refereed English Disclose to all
T. Sato, M. Hashimoto, and H. Onodera T. Sato, M. Hashimoto, and H. Onodera T. Sato, M. Hashimoto, and H. Onodera Successive Pad Assignment Algorithm to Optimize Number and Location of Power Supply Pad Using Incremental Matrix Inversion Successive Pad Assignment Algorithm to Optimize Number and Location of Power Supply Pad Using Incremental Matrix Inversion Successive Pad Assignment Algorithm to Optimize Number and Location of Power Supply Pad Using Incremental Matrix Inversion ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 723-728 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 723-728 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 723-728 2005/01 Refereed English Disclose to all
T. Sato, M. Hashimoto, and H. Onodera T. Sato, M. Hashimoto, and H. Onodera T. Sato, M. Hashimoto, and H. Onodera An IR-drop Minimization by Optimizing Number and Location of Power Supply Pads An IR-drop Minimization by Optimizing Number and Location of Power Supply Pads An IR-drop Minimization by Optimizing Number and Location of Power Supply Pads The 12th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 66-72 The 12th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 66-72 The 12th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI), 66-72 2004/10 Refereed English Disclose to all
佐藤 高史,市宮 淳次, 小野 信任, 蜂屋 孝太郎, 橋本 昌宜 佐藤 高史,市宮 淳次, 小野 信任, 蜂屋 孝太郎, 橋本 昌宜 フロアプランにおけるオンチップ熱ばらつきの解析と対策 フロアプランにおけるオンチップ熱ばらつきの解析と対策 DA シンポジウム, 133-138 DA シンポジウム, 133-138 , 133-138 2004/07 Japanese Disclose to all
佐藤 高史, 金本 俊幾, 黒川 敦 佐藤 高史, 金本 俊幾, 黒川 敦 VLSI 設計・信号品質解析におけるインダクタンスの影響とその重要性 VLSI 設計・信号品質解析におけるインダクタンスの影響とその重要性 DA シンポジウム, 7-12 DA シンポジウム, 7-12 , 7-12 2003/07 Japanese Disclose to all
黒川 敦, 佐藤 高史, 金本 俊幾 黒川 敦, 佐藤 高史, 金本 俊幾 オンチップ・インダクタンスとは? --モデリングと抽出技術-- オンチップ・インダクタンスとは? --モデリングと抽出技術-- DA シンポジウム, 1-6 DA シンポジウム, 1-6 , 1-6 2003/07 Japanese Disclose to all
T. Kanamoto, T. Sato, A. Kurokawa, Y. Kawakami, H. Oka, T. Kitaura, H. Kobayashi, and M. Hashimoto T. Kanamoto, T. Sato, A. Kurokawa, Y. Kawakami, H. Oka, T. Kitaura, H. Kobayashi, and M. Hashimoto T. Kanamoto, T. Sato, A. Kurokawa, Y. Kawakami, H. Oka, T. Kitaura, H. Kobayashi, and M. Hashimoto A Statistical Methodology for Screening Inductance Dominated Interconnects in Timing Analysis A Statistical Methodology for Screening Inductance Dominated Interconnects in Timing Analysis A Statistical Methodology for Screening Inductance Dominated Interconnects in Timing Analysis Information Processing Society of Japan, 44, 5, 1301-1310 Information Processing Society of Japan, 44, 5, 1301-1310 Information Processing Society of Japan, 44, 5, 1301-1310 2003/05 Refereed English Disclose to all
坂田 和之, 佐藤 高史, 横溝 剛一 坂田 和之, 佐藤 高史, 横溝 剛一 電源・グランド間容量が同時切替えノイズに与える影響の解析 電源・グランド間容量が同時切替えノイズに与える影響の解析 第17回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, 55-60 第17回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, 55-60 , 55-60 2003/04 Japanese Disclose to all
T. Sato and H. Masuda T. Sato and H. Masuda T. Sato and H. Masuda Design and Measurement of an Inductance-oscillator for Analyzing Inductance Impact on On-chip Interconnect Delay Design and Measurement of an Inductance-oscillator for Analyzing Inductance Impact on On-chip Interconnect Delay Design and Measurement of an Inductance-oscillator for Analyzing Inductance Impact on On-chip Interconnect Delay International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 395-400 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 395-400 International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 395-400 2003/03 Refereed English Disclose to all
T. Sato, T. Kanamoto, A. Kurokawa, Y. Kawakami, H. Oka, T. Kitaura, H. Kobayashi, and M. Hashimoto T. Sato, T. Kanamoto, A. Kurokawa, Y. Kawakami, H. Oka, T. Kitaura, H. Kobayashi, and M. Hashimoto T. Sato, T. Kanamoto, A. Kurokawa, Y. Kawakami, H. Oka, T. Kitaura, H. Kobayashi, and M. Hashimoto Accurate Prediction of the Impact of On-chip Inductance on Interconnect Delay Using Electrical and Physical Parameter-based RSF Accurate Prediction of the Impact of On-chip Inductance on Interconnect Delay Using Electrical and Physical Parameter-based RSF Accurate Prediction of the Impact of On-chip Inductance on Interconnect Delay Using Electrical and Physical Parameter-based RSF ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 149-155 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 149-155 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 149-155 2003/01 Refereed English Disclose to all
A. Kurokawa, T. Sato, and H. Masuda A. Kurokawa, T. Sato, and H. Masuda A. Kurokawa, T. Sato, and H. Masuda Approximate Formulae Approach for Efficient Inductance Extraction Approximate Formulae Approach for Efficient Inductance Extraction Approximate Formulae Approach for Efficient Inductance Extraction ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 143-148 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 143-148 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 143-148 2003/01 Refereed English Disclose to all
佐藤 高史, 金本 俊幾, 黒川 敦, 川上 善之, 岡 宏規, 北浦 智靖, 池内 敦彦, 小林 宏之, 橋本 昌宜 佐藤 高史, 金本 俊幾, 黒川 敦, 川上 善之, 岡 宏規, 北浦 智靖, 池内 敦彦, 小林 宏之, 橋本 昌宜 インダクタンスに起因する配線遅延変動の統計的予測手法 インダクタンスに起因する配線遅延変動の統計的予測手法 電子情報通信学会ソサイエティ大会 チュートリアル講演, 247-248 電子情報通信学会ソサイエティ大会 チュートリアル講演, 247-248 , 247-248 2002/09 Japanese Disclose to all
蜂屋 孝太郎, 黒川 敦, 佐藤 高史, 南 文裕, 増田 弘生 蜂屋 孝太郎, 黒川 敦, 佐藤 高史, 南 文裕, 増田 弘生 動的電源ノイズ解析のための電源グリッドモデル抽出 動的電源ノイズ解析のための電源グリッドモデル抽出 DAシンポジウム, 193-198 DAシンポジウム, 193-198 , 193-198 2002/07 Japanese Disclose to all
金本 俊幾, 佐藤 高史, 黒川 敦, 川上 善之, 岡 宏規, 北浦 智靖, 池内 敦彦, 小林 宏之, 橋本 昌宜 金本 俊幾, 佐藤 高史, 黒川 敦, 川上 善之, 岡 宏規, 北浦 智靖, 池内 敦彦, 小林 宏之, 橋本 昌宜 0.1-um級 LSI の遅延計算における寄生インダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法 0.1-um級 LSI の遅延計算における寄生インダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法 DA シンポジウム, 149-154 DA シンポジウム, 149-154 , 149-154 2002/07 Japanese Disclose to all
佐藤 高史, 金本 俊幾, 黒川 敦, 川上 善之, 岡 宏規, 北浦 智靖, 池内 敦彦, 小林 宏之, 橋本 昌宜 佐藤 高史, 金本 俊幾, 黒川 敦, 川上 善之, 岡 宏規, 北浦 智靖, 池内 敦彦, 小林 宏之, 橋本 昌宜 インダクタンスが配線遅延に及ぼす影響の定量的評価方法 インダクタンスが配線遅延に及ぼす影響の定量的評価方法 第15回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, 493-498 第15回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, 493-498 , 493-498 2002/04 Refereed Japanese Disclose to all
黒川 敦, 蜂屋 孝太郎, 佐藤 高史, 徳升 一也, 増田 弘生 黒川 敦, 蜂屋 孝太郎, 佐藤 高史, 徳升 一也, 増田 弘生 斜め配線を含む VLSIの高速オンチップ・インダクタンス解析 斜め配線を含む VLSIの高速オンチップ・インダクタンス解析 第15回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, 487-492 第15回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, 487-492 , 487-492 2002/04 Refereed Japanese Disclose to all
馬淵 雄一, 諏訪 元大, 中村 篤, 福本 英士, 白井 優之, 林 亨, 横溝 剛一, 佐藤 高史, 大竹 成典, 坂田 和之 馬淵 雄一, 諏訪 元大, 中村 篤, 福本 英士, 白井 優之, 林 亨, 横溝 剛一, 佐藤 高史, 大竹 成典, 坂田 和之 有限要素法と回路解析の連成解析による同時切替えノイズの評価 有限要素法と回路解析の連成解析による同時切替えノイズの評価 第14回 エレクトロニクス実装学会全国大会, 19B-12 第14回 エレクトロニクス実装学会全国大会, 19B-12 , 19B-12 2002/03 Japanese Disclose to all
K. Agarwal, Y. Cao, T. Sato, D. Sylvester, and C. Hu K. Agarwal, Y. Cao, T. Sato, D. Sylvester, and C. Hu K. Agarwal, Y. Cao, T. Sato, D. Sylvester, and C. Hu Efficient Generation of Delay Change Curves for Noise-aware Static Timing Analysis Efficient Generation of Delay Change Curves for Noise-aware Static Timing Analysis Efficient Generation of Delay Change Curves for Noise-aware Static Timing Analysis ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 77-84 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 77-84 ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC), 77-84 2002/01 Refereed English Disclose to all
Y. Cao, T. Sato, X. Huang, C. Hu, and D. Sylvester Y. Cao, T. Sato, X. Huang, C. Hu, and D. Sylvester Y. Cao, T. Sato, X. Huang, C. Hu, and D. Sylvester New Approaches to Noise-aware Static Timing Analysis New Approaches to Noise-aware Static Timing Analysis New Approaches to Noise-aware Static Timing Analysis ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 8-12 ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 8-12 ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU), 8-12 2000/12 Refereed English Disclose to all
Takashi Sato, Yu Cao, Dennis Sylvester, and Chenming Hu Takashi Sato, Yu Cao, Dennis Sylvester, and Chenming Hu クロストークノイズによる配線遅延の変動とノイズ波形のモデル化に関する検討 クロストークノイズによる配線遅延の変動とノイズ波形のモデル化に関する検討 信学技報, VLD00-49, 7-16 信学技報, VLD00-49, 7-16 , VLD00-49, 7-16 2000/09 Japanese Disclose to all
T. Sato, Y. Cao, D. Sylvester, and C. Hu T. Sato, Y. Cao, D. Sylvester, and C. Hu T. Sato, Y. Cao, D. Sylvester, and C. Hu Characterization of Interconnect Coupling Noise Using In-situ Delay-change Curve Measurements Characterization of Interconnect Coupling Noise Using In-situ Delay-change Curve Measurements Characterization of Interconnect Coupling Noise Using In-situ Delay-change Curve Measurements 13th IEEE International ASIC/SOC Conference, 321-325 13th IEEE International ASIC/SOC Conference, 321-325 13th IEEE International ASIC/SOC Conference, 321-325 2000/09 Refereed English Disclose to all
大竹 成典, 馬淵 雄一, 林 亨, 佐藤 高史, 横溝 剛一, 白川 真司, 福本 英士, 中村 篤 大竹 成典, 馬淵 雄一, 林 亨, 佐藤 高史, 横溝 剛一, 白川 真司, 福本 英士, 中村 篤 プリント回路基板の高周波電流解析用 LSI モデリング手法の検討 プリント回路基板の高周波電流解析用 LSI モデリング手法の検討 信学技報, EMCJ2000-34, 43-48 信学技報, EMCJ2000-34, 43-48 , EMCJ2000-34, 43-48 2000/07 Japanese Disclose to all
Y. Cao, T. Sato, M. Orshansky, D. Sylvester, and C. Hu Y. Cao, T. Sato, M. Orshansky, D. Sylvester, and C. Hu Y. Cao, T. Sato, M. Orshansky, D. Sylvester, and C. Hu New Paradigm of Predictive CMOS Modeling for Early Circuit Simulation New Paradigm of Predictive CMOS Modeling for Early Circuit Simulation New Paradigm of Predictive CMOS Modeling for Early Circuit Simulation IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 201-204 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 201-204 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 201-204 2000/05 Refereed English Disclose to all
佐藤 高史, 西尾 洋二, 管野 利夫, 中込 儀延 佐藤 高史, 西尾 洋二, 管野 利夫, 中込 儀延 ビット間スキュー制御を有するシンクロナス DRAM の 5 GByte/s データ伝送技術 ビット間スキュー制御を有するシンクロナス DRAM の 5 GByte/s データ伝送技術 信学技報, ED98-67, 31-36 信学技報, ED98-67, 31-36 , ED98-67, 31-36 1998/06 Japanese Disclose to all
T. Sato, Y. Nishio, T. Sugano, and Y. Nakagome T. Sato, Y. Nishio, T. Sugano, and Y. Nakagome T. Sato, Y. Nishio, T. Sugano, and Y. Nakagome A 5 GBytes/s Data Transfer Scheme With Bit-to-bit Skew Control for Synchronous DRAM A 5 GBytes/s Data Transfer Scheme With Bit-to-bit Skew Control for Synchronous DRAM A 5 GBytes/s Data Transfer Scheme With Bit-to-bit Skew Control for Synchronous DRAM International Symposium on VLSI Circuits, 64-65 International Symposium on VLSI Circuits, 64-65 International Symposium on VLSI Circuits, 64-65 1998/06 Refereed English Disclose to all
佐藤 高史, 見山 見可子, 横溝 剛一, 仁保 宏二郎 佐藤 高史, 見山 見可子, 横溝 剛一, 仁保 宏二郎 A practical row interchanging algorithm for hierarchically constructed circuit matrices using modified modal analysis A practical row interchanging algorithm for hierarchically constructed circuit matrices using modified modal analysis 信学技報, VLD97-107, 69-77 信学技報, VLD97-107, 69-77 , VLD97-107, 69-77 1997/12 Japanese Disclose to all
見山 美可子, 佐藤 高史, 北城 三郎, 仁保 宏二郎 見山 美可子, 佐藤 高史, 北城 三郎, 仁保 宏二郎 メモリ回路を用いた回路分割型回路シミュレーションの評価 メモリ回路を用いた回路分割型回路シミュレーションの評価 信学技報, VLD96-259, 61-68 信学技報, VLD96-259, 61-68 , VLD96-259, 61-68 1996/04 Japanese Disclose to all
佐藤 高史, 信澤 理子, 見山 美可子, 横溝 剛一 佐藤 高史, 信澤 理子, 見山 美可子, 横溝 剛一 機能関数を用いたアナログ/デジタル混在回路機能検証高速化手法の一検討 機能関数を用いたアナログ/デジタル混在回路機能検証高速化手法の一検討 電子情報通信学会 総合大会, A-119 電子情報通信学会 総合大会, A-119 , A-119 1994/03 Japanese Disclose to all

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動画像コーデックの動きベクトル援用によるCNN物体検出の負荷緩和 動画像コーデックの動きベクトル援用によるCNN物体検出の負荷緩和 情報処理学会 第210回コンピュータビジョンとイメージメディア研究発表会 情報処理学会 第210回コンピュータビジョンとイメージメディア研究発表会 2017/12 Japanese Disclose to all
汎用ゲートドライバICを利用したパワーMOSFETの3レベルアクティブゲート駆動回路 汎用ゲートドライバICを利用したパワーMOSFETの3レベルアクティブゲート駆動回路 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 2017/11 Japanese Disclose to all
SiCパワーMOSFETの特性測定とモデル化(招待)[Invited] SiCパワーMOSFETの特性測定とモデル化(招待) [Invited] 信学技報 SDM研究会 信学技報 SDM研究会 2017/11 Japanese Disclose to all
双安定リング回路の収束時間により瞬時値応答を得る発振回路PUF 双安定リング回路の収束時間により瞬時値応答を得る発振回路PUF 信学技報 VLD研究会(デザインガイア) 信学技報 VLD研究会(デザインガイア) 2017/11 Japanese Disclose to all
有機トランジスタCMOS回路製造のためのメタルマスクの要素設計ルールに関する一検討 有機トランジスタCMOS回路製造のためのメタルマスクの要素設計ルールに関する一検討 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2017/09 Japanese Disclose to all
チャレンジヒステリシス特性を有するPUFの設計とシミュレーションに基づく性能評価 チャレンジヒステリシス特性を有するPUFの設計とシミュレーションに基づく性能評価 DA シンポジウム DA シンポジウム 2017/08 Japanese Disclose to all
特性曲線を特徴ベクトルとした機械学習によるパワーデバイスの個体識別 特性曲線を特徴ベクトルとした機械学習によるパワーデバイスの個体識別 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 2017/07 Japanese Disclose to all
プロッタを利用したディスクリートパワーデバイスの自動測定装置 プロッタを利用したディスクリートパワーデバイスの自動測定装置 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 2017/06 Japanese Disclose to all
トランジスタ劣化の永続・回復可能成分を考慮したしきい値電圧変動の時間依存モデル トランジスタ劣化の永続・回復可能成分を考慮したしきい値電圧変動の時間依存モデル 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2017/05 Japanese Disclose to all
特性測定に基づくパワーデバイスの自己発熱モデルを利用した電力変換回路の電気・熱連成解析 特性測定に基づくパワーデバイスの自己発熱モデルを利用した電力変換回路の電気・熱連成解析 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2017/05 Japanese Disclose to all
回路シミュレーションによる電力変換回路の熱・電気連成解析を目指して --- 自己発熱を考慮したパワーMOSFETのモデリング ---(招待)[Invited] 回路シミュレーションによる電力変換回路の熱・電気連成解析を目指して --- 自己発熱を考慮したパワーMOSFETのモデリング ---(招待) [Invited] 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2017/05 Japanese Disclose to all
手の動画像からの心拍間隔推定に関する一検討 手の動画像からの心拍間隔推定に関する一検討 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2017/03 Japanese Disclose to all
イジングモデルのソフトウェア実装による最大カット問題の求解性能評価 イジングモデルのソフトウェア実装による最大カット問題の求解性能評価 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2017/03 Japanese Disclose to all
動画のフレーム間相関を利用した圧縮センシングの高速復元手法 動画のフレーム間相関を利用した圧縮センシングの高速復元手法 信学技報 信学技報 2017/03 Japanese Disclose to all
Line samplingを用いたモンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化 Line samplingを用いたモンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化 信学技報 信学技報 2017/03 Japanese Disclose to all
イジングモデルのFPGA実装による最大カット問題の求解速度評価 イジングモデルのFPGA実装による最大カット問題の求解速度評価 第42回パルテノン研究会 第42回パルテノン研究会 2016/12 Japanese Disclose to all
演算簡略化手法評価のための畳み込みニューラルネットワークのFPGA実装 演算簡略化手法評価のための畳み込みニューラルネットワークのFPGA実装 第42回パルテノン研究会 第42回パルテノン研究会 2016/12 Japanese Disclose to all
スイッチング波形を利用したパワーMOSFETの入力容量測定とモデル化 スイッチング波形を利用したパワーMOSFETの入力容量測定とモデル化 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 2016/11 Japanese Disclose to all
有機トランジスタにおける漏れ電流特性のモデル化 有機トランジスタにおける漏れ電流特性のモデル化 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 エレクトロニクス講演論文集2 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 エレクトロニクス講演論文集2 2016/09 Japanese Disclose to all
ばらつきを考慮したメモリスタモデルによるニューラルネットワークの学習収束性の評価 ばらつきを考慮したメモリスタモデルによるニューラルネットワークの学習収束性の評価 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 エレクトロニクス講演論文集2 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 エレクトロニクス講演論文集2 2016/09 Japanese Disclose to all
顔と手の連続静止画からの脈波伝播時間推定に関する一検討 顔と手の連続静止画からの脈波伝播時間推定に関する一検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2016/09 Japanese Disclose to all
しきい値電圧ばらつきによるBistable Ring PUFの応答予測 しきい値電圧ばらつきによるBistable Ring PUFの応答予測 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 2016/09 Japanese Disclose to all
NBTIによるしきい値電圧変動のストレス確率依存性の評価 NBTIによるしきい値電圧変動のストレス確率依存性の評価 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 2016/09 Japanese Disclose to all
Binarized Neural Networkを用いた画像認識ハードウェアの消費エネルギー評価 Binarized Neural Networkを用いた画像認識ハードウェアの消費エネルギー評価 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 2016/09 Japanese Disclose to all
V溝構造SiCパワーMOSFETの静特性モデル化に関する一考察 V溝構造SiCパワーMOSFETの静特性モデル化に関する一考察 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 2016/09 Japanese Disclose to all
PWM電力制御によるパワーデバイスの熱伝達特性測定 PWM電力制御によるパワーデバイスの熱伝達特性測定 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 基礎・境界/NOLTA講演論文集 2016/09 Japanese Disclose to all
表面ポテンシャルモデルを用いたSiCパワーMOSFETの過渡解析および昇圧回路への応用 表面ポテンシャルモデルを用いたSiCパワーMOSFETの過渡解析および昇圧回路への応用 電気学会産業応用部門大会(JIASC) 電気学会産業応用部門大会(JIASC) 2016/08 Japanese Disclose to all
零電圧スイッチング動作に基づくゲートドライバのための設計解析式の検討 零電圧スイッチング動作に基づくゲートドライバのための設計解析式の検討 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 2016/07 Japanese Disclose to all
粒子フィルタを用いた光電脈波信号からの運動時心拍数推定手法 粒子フィルタを用いた光電脈波信号からの運動時心拍数推定手法 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2016/05 Japanese Disclose to all
ゲート電圧依存性を考慮した縦型SiCパワーMOSFETのボディダイオードモデル ゲート電圧依存性を考慮した縦型SiCパワーMOSFETのボディダイオードモデル 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2016/05 Japanese Disclose to all
パッケージの熱伝達特性推定に基づくパワーMOSFET自己発熱モデル パッケージの熱伝達特性推定に基づくパワーMOSFET自己発熱モデル 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2016/05 Japanese Disclose to all
代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法 代表パス抽出による劣化緩和セル置換箇所の高速な選択手法 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2016/05 Japanese Disclose to all
信号確率伝播に基づくプロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出 信号確率伝播に基づくプロセッサのためのNBTI起因最大遅延パスの抽出 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2016/05 Japanese Disclose to all
近似的予測戦略に基づく畳み込みニューラルネットワークプロセッサの低電力化 近似的予測戦略に基づく畳み込みニューラルネットワークプロセッサの低電力化 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2016/05 Japanese Disclose to all
表面電位に基づくSiCパワーMOSFETモデルを用いたE級増幅器の回路シミュレーションに関する検討 表面電位に基づくSiCパワーMOSFETモデルを用いたE級増幅器の回路シミュレーションに関する検討 電気学会全国大会講演論文集 電気学会全国大会講演論文集 2016/03 Japanese Disclose to all
Sパラメータに基づく等価回路を利用したDC-DCコンバータの高周波ノイズモデリング Sパラメータに基づく等価回路を利用したDC-DCコンバータの高周波ノイズモデリング 電気学会全国大会講演論文集 電気学会全国大会講演論文集 2016/03 Japanese Disclose to all
格子状電極を用いたジェスチャ認識向け電界センサによる導電体位置推定精度の評価 格子状電極を用いたジェスチャ認識向け電界センサによる導電体位置推定精度の評価 電子情報通信学会 総合大会(於 九州大学) 基礎・境界講演論文集 電子情報通信学会 総合大会(於 九州大学) 基礎・境界講演論文集 2016/03 Japanese Disclose to all
最大カット問題の高速求解に向けた二次元イジングモデルのFPGA実装 最大カット問題の高速求解に向けた二次元イジングモデルのFPGA実装 信学技報 信学技報 2016/03 Japanese Disclose to all
SiCパワーMOSFETにおける帰還容量の測定とモデル化 SiCパワーMOSFETにおける帰還容量の測定とモデル化 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 2015/12 Japanese Disclose to all
モンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化 モンテカルロ法に基づくタイミング歩留り解析の高速化 信学技報 VLD研究会(デザインガイア) 信学技報 VLD研究会(デザインガイア) 2015/12 Japanese Disclose to all
電荷基準モデルに基づく縦型SiCパワーMOSFETのトランジスタモデル 電荷基準モデルに基づく縦型SiCパワーMOSFETのトランジスタモデル 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 電気学会研究会資料半導体電力変換研究会(SPC) 2015/10 Japanese Disclose to all
電荷基準モデルに基づく縦型SiCパワーMOSFETの電流特性モデル化の検討 電荷基準モデルに基づく縦型SiCパワーMOSFETの電流特性モデル化の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2015/09 Japanese Disclose to all
低電圧畳み込みニューラルネットワーク回路における演算誤り緩和に向けたプーリング手法の検討 低電圧畳み込みニューラルネットワーク回路における演算誤り緩和に向けたプーリング手法の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2015/09 Japanese Disclose to all
SiCパワーMOSFET寄生ダイオードのPN接合ダイオードモデルを用いたモデル化 SiCパワーMOSFET寄生ダイオードのPN接合ダイオードモデルを用いたモデル化 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2015/09 Japanese Disclose to all
プロセッサのNBTI劣化緩和法における劣化抑止制御回路の置換箇所削減に関する一検討 プロセッサのNBTI劣化緩和法における劣化抑止制御回路の置換箇所削減に関する一検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2015/09 Japanese Disclose to all
二次元イジングモデルによる最大カット問題の求解における収束の早いスピン更新方法の検討 二次元イジングモデルによる最大カット問題の求解における収束の早いスピン更新方法の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2015/09 Japanese Disclose to all
粒子フィルタを用いた運動時ノイズに頑健な心拍数推定アルゴリズム 粒子フィルタを用いた運動時ノイズに頑健な心拍数推定アルゴリズム 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2015/09 Japanese Disclose to all
デバイス特性の経年劣化に起因する不良確率変化の効率的な解析手法 デバイス特性の経年劣化に起因する不良確率変化の効率的な解析手法 DA シンポジウム DA シンポジウム 2015/08 Japanese Disclose to all
ニューラルネットワークハードウェアの低電圧動作時における演算誤り緩和 ニューラルネットワークハードウェアの低電圧動作時における演算誤り緩和 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2015/08 Japanese Disclose to all
圧縮センシング向けイメージセンサにおける省電力な観測行列生成回路 圧縮センシング向けイメージセンサにおける省電力な観測行列生成回路 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2015/08 Japanese Disclose to all
ばらつき考慮シミュレーションの最近の動向(招待)[Invited] ばらつき考慮シミュレーションの最近の動向(招待) [Invited] 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2015/08 Japanese Disclose to all
パワーMOSFETデバイスモデルに向けた自動モデルパラメータ決定手法に関する一検討 パワーMOSFETデバイスモデルに向けた自動モデルパラメータ決定手法に関する一検討 電気学会全国大会講演論文集 電気学会全国大会講演論文集 2015/03 Japanese Disclose to all
RTN起因のリングオシレータ発振周波数変動を利用したPUF RTN起因のリングオシレータ発振周波数変動を利用したPUF 信学技報 信学技報 2015/03 Japanese Disclose to all
命令セットアーキテクチャによる劣化抑止ゲート制御を用いたプロセッサNBTI劣化緩和手法 命令セットアーキテクチャによる劣化抑止ゲート制御を用いたプロセッサNBTI劣化緩和手法 信学技報 信学技報 2015/03 Japanese Disclose to all
RTNを考慮したSRAM不良確率の高速計算 RTNを考慮したSRAM不良確率の高速計算 信学技報 VLD研究会(デザインガイア) 信学技報 VLD研究会(デザインガイア) 2014/11 Japanese Disclose to all
粗粒度再構成可能アーキテクチャ向けの省メモリな耐ソフトエラー時間多重化手法 粗粒度再構成可能アーキテクチャ向けの省メモリな耐ソフトエラー時間多重化手法 第40回パルテノン研究会 第40回パルテノン研究会 2014/09 Japanese Disclose to all
フリップフロップの最小動作電圧計測のためのFPGAを用いた自動設計環境の構築 フリップフロップの最小動作電圧計測のためのFPGAを用いた自動設計環境の構築 第40回パルテノン研究会 第40回パルテノン研究会 2014/09 Japanese Disclose to all
ランダムテレグラフノイズを用いたチップ識別手法の一検討 ランダムテレグラフノイズを用いたチップ識別手法の一検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2014/09 Japanese Disclose to all
高次元回路歩留まり解析高速化のための最急降下法を用いた不良領域探索 高次元回路歩留まり解析高速化のための最急降下法を用いた不良領域探索 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2014/08 Japanese Disclose to all
低電圧起動回路を用いた省電力チップ間非接触通信回路 低電圧起動回路を用いた省電力チップ間非接触通信回路 情報処理学会SLDM研究会 情報処理学会SLDM研究会 2014/05 Japanese Disclose to all
ランダムウォーク電源網解析の高速化に向けた節点解析順序の検討 ランダムウォーク電源網解析の高速化に向けた節点解析順序の検討 情報処理学会SLDM研究会 情報処理学会SLDM研究会 2014/05 Japanese Disclose to all
最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法 最大動作周波数テストの枠組みを用いたデバイスパラメータ推定手法 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2014/02 Japanese Disclose to all
3端子コンデンサにおける周波数特性の有理関数近似と等価回路表現 3端子コンデンサにおける周波数特性の有理関数近似と等価回路表現 電子情報通信学会EMCJ研究会 電子情報通信学会EMCJ研究会 2014/01 Japanese Disclose to all
TV最適化を用いた可変レート圧縮センシング TV最適化を用いた可変レート圧縮センシング 電子情報通信学会 ソサイエティ大会(於 福岡工業大学) 電子情報通信学会 ソサイエティ大会(於 福岡工業大学) 2013/09 Japanese Disclose to all
3996トランジスタにおけるNBTI劣化の統計的ばらつき 3996トランジスタにおけるNBTI劣化の統計的ばらつき DA シンポジウム DA シンポジウム 2013/08 Japanese Disclose to all
トランジスタアレイを用いたBTI劣化の統計的観測 トランジスタアレイを用いたBTI劣化の統計的観測 DA シンポジウム DA シンポジウム 2013/08 Japanese Disclose to all
準ゼロ分散推定と誤差平滑化処理を併用するランダムウォーク電源網解析 準ゼロ分散推定と誤差平滑化処理を併用するランダムウォーク電源網解析 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2013/07 Japanese Disclose to all
画像の圧縮センシングにおける圧縮率の適応的変更手法 画像の圧縮センシングにおける圧縮率の適応的変更手法 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2013/07 Japanese Disclose to all
SRAM 回路解析における最小ノルム不良サンプルと歩留りの関係 SRAM 回路解析における最小ノルム不良サンプルと歩留りの関係 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2013/07 Japanese Disclose to all
低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析 低電源電圧におけるフリップフロップの故障モードの解析 電子情報通信学会ICD研究会 電子情報通信学会ICD研究会 2013/07 Japanese Disclose to all
ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討 ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討 電子情報通信学会 総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集 電子情報通信学会 総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集 2013/03 Japanese Disclose to all
回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較 回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較 電子情報通信学会 総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集 電子情報通信学会 総合大会(於 岐阜大学) 基礎・境界講演論文集 2013/03 Japanese Disclose to all
空間周波数領域インピーダンス行列を用いたマルチポートLSIモデルの検討 空間周波数領域インピーダンス行列を用いたマルチポートLSIモデルの検討 電子情報通信学会EMCJ研究会 電子情報通信学会EMCJ研究会 2013/03 Japanese Disclose to all
オンラインテストを指向したIDDQ電流しきい値決定手法の検討 オンラインテストを指向したIDDQ電流しきい値決定手法の検討 電子情報通信学会VLSI設計技術研究会 電子情報通信学会VLSI設計技術研究会 2013/03 Japanese Disclose to all
チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価 チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価 電子情報通信学会ICD研究会 電子情報通信学会ICD研究会 2012/12 Japanese Disclose to all
微細プロセス(22nm世代)における配線コーナー削減手法の検討 微細プロセス(22nm世代)における配線コーナー削減手法の検討 DA シンポジウム DA シンポジウム 2012/08 Japanese Disclose to all
微細CMOSタイミング設計の新しいコーナー削減手法 微細CMOSタイミング設計の新しいコーナー削減手法 DA シンポジウム DA シンポジウム 2012/08 Japanese Disclose to all
情報量規準を用いる RTN モデルパラメータ推定の自動化 情報量規準を用いる RTN モデルパラメータ推定の自動化 DA シンポジウム DA シンポジウム 2012/08 Japanese Disclose to all
クリロフ部分空間法を用いた電源回路網解析の GPU 実装による高速化 クリロフ部分空間法を用いた電源回路網解析の GPU 実装による高速化 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2012/08 Japanese Disclose to all
回路の最小動作電圧改善とその予測精度向上の一検討 回路の最小動作電圧改善とその予測精度向上の一検討 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2012/08 Japanese Disclose to all
低ESRと高ESRコンデンサの組み合わせ使用による電源インピーダンスの低減手法 低ESRと高ESRコンデンサの組み合わせ使用による電源インピーダンスの低減手法 エレクトロニクス実装学会 全国大会 エレクトロニクス実装学会 全国大会 2012/03 Japanese Disclose to all
IDDQ 電流による大域プロセスばらつきの推定手法 IDDQ 電流による大域プロセスばらつきの推定手法 信学技報 VLSI設計技術研究会 信学技報 VLSI設計技術研究会 2012/03 Japanese Disclose to all
プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み 信学技報 ディペンダブルコンピューティング研究会 信学技報 ディペンダブルコンピューティング研究会 2012/02 Japanese Disclose to all
ブロック反復法を用いた電源回路網解析の高速化 ブロック反復法を用いた電源回路網解析の高速化 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会 2011/11 Japanese Disclose to all
ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる過渡解析 ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる過渡解析 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会 2011/11 Japanese Disclose to all
ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討 ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会 デザインガイア 情報処理学会 SLDM研究会 2011/11 Japanese Disclose to all
ヤコビ法を用いた電源回路網解析の GPU 実装 ヤコビ法を用いた電源回路網解析の GPU 実装 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2011/09 Japanese Disclose to all
EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定 EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2011/09 Japanese Disclose to all
CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析 CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析 DA シンポジウム DA シンポジウム 2011/08 Japanese Disclose to all
配線資源の信頼性モデルを用いた粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け選択的三重化の最適化手法 配線資源の信頼性モデルを用いた粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け選択的三重化の最適化手法 DA シンポジウム DA シンポジウム 2011/08 Japanese Disclose to all
複数不良領域を持つ回路歩留まり解析のための逐次重点的サンプリング法 複数不良領域を持つ回路歩留まり解析のための逐次重点的サンプリング法 DA シンポジウム DA シンポジウム 2011/08 Japanese Disclose to all
エネルギー最小化と動作保証を考慮したサブスレッショルド回路の設計指針の検討 エネルギー最小化と動作保証を考慮したサブスレッショルド回路の設計指針の検討 回路とシステムワークショップ 回路とシステムワークショップ 2011/08 Japanese Disclose to all
混合正規分布による重点的サンプリングの高次元ばらつき解析への適用 混合正規分布による重点的サンプリングの高次元ばらつき解析への適用 情報処理学会第148回システムLSI設計技術研究会 情報処理学会第148回システムLSI設計技術研究会 2011/03 Japanese Disclose to all
リングオシレータによるしきい値簡易測定の温度依存性の検討 リングオシレータによるしきい値簡易測定の温度依存性の検討 信学技報 信学技報 2010/09 Japanese Disclose to all
誤り伝播に着目した粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け部分的三重化手法 誤り伝播に着目した粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け部分的三重化手法 信学技報 信学技報 2010/05 Japanese Disclose to all
超球の一部を用いた歩留まり推定における不良領域の効率的探索手法 超球の一部を用いた歩留まり推定における不良領域の効率的探索手法 信学技報 信学技報 2010/03 Japanese Disclose to all
重点的サンプリングにおける平均値移動量の決定手法とそのSRAM歩留り解析への適用 重点的サンプリングにおける平均値移動量の決定手法とそのSRAM歩留り解析への適用 情報処理学会第142回システムLSI設計技術研究会 情報処理学会第142回システムLSI設計技術研究会 2009/12 Japanese Disclose to all
セラミックコンデンサのモデル化とオンパッケージでの電源ノイズ対策 セラミックコンデンサのモデル化とオンパッケージでの電源ノイズ対策 シリコンRF研究会 シリコンRF研究会 2009/11 Japanese Disclose to all
重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路解析の高速化 重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路解析の高速化 DA シンポジウム DA シンポジウム 2009/08 Japanese Disclose to all
RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討 RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討 DA シンポジウム DA シンポジウム 2009/08 Japanese Disclose to all
柔軟な信頼性を実現する再構成可能デバイスのための配置配線ツール 柔軟な信頼性を実現する再構成可能デバイスのための配置配線ツール DA シンポジウム DA シンポジウム 2009/08 Japanese Disclose to all
パス遅延測定によるチップ特性の推定手法 パス遅延測定によるチップ特性の推定手法 DA シンポジウム DA シンポジウム 2009/08 Japanese Disclose to all
SRAM回路の構造的対称性を考慮した2段階学習型重点的サンプリング SRAM回路の構造的対称性を考慮した2段階学習型重点的サンプリング 信学技報 信学技報 2009/05 Japanese Disclose to all
STIストレスによるMOSFET特性変動のコンパクトモデル STIストレスによるMOSFET特性変動のコンパクトモデル 第56回応用物理学関係連合講演会 第56回応用物理学関係連合講演会 2009/03 Japanese Disclose to all
状態依存性を考慮した論理回路の電源間容量モデルの検討 状態依存性を考慮した論理回路の電源間容量モデルの検討 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2009/03 Japanese Disclose to all
状態依存性解析のための電源間容量のテーブルルックアップ計算 状態依存性解析のための電源間容量のテーブルルックアップ計算 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2009/03 Japanese Disclose to all
統計的タイミング情報に基づく適応型テスト 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2009/03 Japanese Disclose to all
適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法 適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2009/03 Japanese Disclose to all
電源ノイズ考慮統計的タイミング解析を用いたデカップリング容量割当手法 電源ノイズ考慮統計的タイミング解析を用いたデカップリング容量割当手法 信学技報o 信学技報o 2009/03 Japanese Disclose to all
LSI等価回路モデル評価に向けたオンチップ電源電圧の測定手法 LSI等価回路モデル評価に向けたオンチップ電源電圧の測定手法 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2008/09 Japanese Disclose to all
回路特性ばらつき解析に対する重点的サンプリングの適用検討 回路特性ばらつき解析に対する重点的サンプリングの適用検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2008/09 Japanese Disclose to all
抵抗測定法によるトランジスタアレイ回路の測定時間短縮化 抵抗測定法によるトランジスタアレイ回路の測定時間短縮化 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2008/09 Japanese Disclose to all
電源電圧変動やプロセスばらつきに対する標準セルの遅延感度検討 電源電圧変動やプロセスばらつきに対する標準セルの遅延感度検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2008/09 Japanese Disclose to all
CMOS論理回路における電源網容量の入力状態依存性についての検討 CMOS論理回路における電源網容量の入力状態依存性についての検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2008/09 Japanese Disclose to all
パス遅延時間ばらつきを考慮した電源遮断回路の設計指針 パス遅延時間ばらつきを考慮した電源遮断回路の設計指針 DA シンポジウム DA シンポジウム 2008/08 Japanese Disclose to all
統計的 STA でのスルー依存性を考慮した遅延ばらつき計算手法の提案 統計的 STA でのスルー依存性を考慮した遅延ばらつき計算手法の提案 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2008/04 Japanese Disclose to all
チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関 チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2008/04 Japanese Disclose to all
基板実装状態を考慮可能な表面実装型受動部品の2ポートモデリング手法 基板実装状態を考慮可能な表面実装型受動部品の2ポートモデリング手法 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2008/04 Japanese Disclose to all
電源遮断回路におけるパス遅延時間ばらつきの計算 電源遮断回路におけるパス遅延時間ばらつきの計算 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2008/04 Japanese Disclose to all
プロセスばらつきの積極的活用による非繰返し電圧波形の測定 プロセスばらつきの積極的活用による非繰返し電圧波形の測定 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2008/04 Japanese Disclose to all
電源遮断回路におけるインバータ列遅延時間ばらつきの計算 電源遮断回路におけるインバータ列遅延時間ばらつきの計算 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2008/03 Japanese Disclose to all
測定系の侵襲性を定量化可能なオンチップ電源電圧変動の直接測定手法 測定系の侵襲性を定量化可能なオンチップ電源電圧変動の直接測定手法 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2008/03 Japanese Disclose to all
リーク電流測定用トランジスタアレイ回路の測定 リーク電流測定用トランジスタアレイ回路の測定 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2008/03 Japanese Disclose to all
[チュートリアル講演] 集積回路における電源品質の解析技術 [チュートリアル講演] 集積回路における電源品質の解析技術 信学技報 信学技報 2008/01 Japanese Disclose to all
Full-wave 電磁界シミュレータによるプリント回路基板の電源網モデル化 Full-wave 電磁界シミュレータによるプリント回路基板の電源網モデル化 シリコンRF研究会 シリコンRF研究会 2007/11 Japanese Disclose to all
プリント配線基板電源網のインピーダンス低減手法の検討 プリント配線基板電源網のインピーダンス低減手法の検討 システムLSIワークショップ システムLSIワークショップ 2007/11 Japanese Disclose to all
パワーゲーティング技術における製造ばらつきの回路特性への影響 パワーゲーティング技術における製造ばらつきの回路特性への影響 情報処理学会第131回システムLSI設計技術研究会 情報処理学会第131回システムLSI設計技術研究会 2007/10 Japanese Disclose to all
大域ばらつきの近似次数が回路遅延ばらつきに与える影響 大域ばらつきの近似次数が回路遅延ばらつきに与える影響 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2007/09 Japanese Disclose to all
電源電圧降下の時間的・空間的広がり可視化手法 電源電圧降下の時間的・空間的広がり可視化手法 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2007/09 Japanese Disclose to all
ビアのインダクタンスに着目したプリント配線基板電源網のインピーダンス低減手法の検討 ビアのインダクタンスに着目したプリント配線基板電源網のインピーダンス低減手法の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2007/09 Japanese Disclose to all
ノンパラメトリック統計的タイミング解析 (SSTA) の実現手法の検討 ノンパラメトリック統計的タイミング解析 (SSTA) の実現手法の検討 DA シンポジウム DA シンポジウム 2007/08 Japanese Disclose to all
統計的 STA でのスルー依存性を考慮した遅延ばらつき計算手法の提案 統計的 STA でのスルー依存性を考慮した遅延ばらつき計算手法の提案 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2007/04 Japanese Disclose to all
統計的パス遅延解析のための Monte Carlo STA 実行数評価の一手法 統計的パス遅延解析のための Monte Carlo STA 実行数評価の一手法 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2007/04 Japanese Disclose to all
45-65nm ノードにおける遅延ばらつき特性の環境温度依存性 45-65nm ノードにおける遅延ばらつき特性の環境温度依存性 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2007/04 Japanese Disclose to all
相関係数にもとづく回帰分析の電源改善への適用 相関係数にもとづく回帰分析の電源改善への適用 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2007/04 Japanese Disclose to all
非理想的な回路分割とセル占有率を考慮した配線長分布モデル 非理想的な回路分割とセル占有率を考慮した配線長分布モデル 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2007/03 Japanese Disclose to all
電源解析への相関係数利用の検討 電源解析への相関係数利用の検討 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 2007/03 Japanese Disclose to all
電源ノイズによる遅延変動の測定とフルチップシミュレーションによる遅延変動の再現 電源ノイズによる遅延変動の測定とフルチップシミュレーションによる遅延変動の再現 信学技報 信学技報 2007/01 Japanese Disclose to all
MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討 システムLSIワークショップ システムLSIワークショップ 2006/11 Japanese Disclose to all
MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2006/09 Japanese Disclose to all
Si CMOSチップにおける右手・左手系伝送線路の検討 Si CMOSチップにおける右手・左手系伝送線路の検討 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2006/09 Japanese Disclose to all
伝送線路を用いたオンチップ高速伝送回路の研究 伝送線路を用いたオンチップ高速伝送回路の研究 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2006/09 Japanese Disclose to all
リングオシレータを用いる瞬時電圧降下測定手法の精度改善 リングオシレータを用いる瞬時電圧降下測定手法の精度改善 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2006/09 Japanese Disclose to all
高精度デバイスばらつき測定のための電源構造の設計 高精度デバイスばらつき測定のための電源構造の設計 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 電子情報通信学会 ソサイエティ大会 2006/09 Japanese Disclose to all
統計的 STA の精度検証手法 統計的 STA の精度検証手法 DA シンポジウム DA シンポジウム 2006/07 Japanese Disclose to all
統計的 SSTA の精度検証方法 統計的 SSTA の精度検証方法 第19回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第19回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2006/04 Japanese Disclose to all
オンチップ熱バラツキを考慮したモジュール配置手法 オンチップ熱バラツキを考慮したモジュール配置手法 DA シンポジウム DA シンポジウム 2005/08 Japanese Disclose to all
ジッタ制約を考慮した IO 同時動作設計ルールの提案 ジッタ制約を考慮した IO 同時動作設計ルールの提案 第18回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 第18回 回路とシステム軽井沢ワークショップ 2005/04 Japanese Disclose to all
フロアプランにおけるオンチップ熱ばらつきの解析と対策 フロアプランにおけるオンチップ熱ばらつきの解析と対策 DA シンポジウム DA シンポジウム 2004/07 Japanese Disclose to all
VLSI 設計・信号品質解析におけるインダクタンスの影響とその重要性 VLSI 設計・信号品質解析におけるインダクタンスの影響とその重要性 DA シンポジウム DA シンポジウム 2003/07 Japanese Disclose to all
オンチップ・インダクタンスとは? --モデリングと抽出技術-- オンチップ・インダクタンスとは? --モデリングと抽出技術-- DA シンポジウム DA シンポジウム 2003/07 Japanese Disclose to all
電源・グランド間容量が同時切替えノイズに与える影響の解析 電源・グランド間容量が同時切替えノイズに与える影響の解析 第17回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ 第17回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ 2003/04 Japanese Disclose to all
インダクタンスに起因する配線遅延変動の統計的予測手法 インダクタンスに起因する配線遅延変動の統計的予測手法 電子情報通信学会ソサイエティ大会 チュートリアル講演 電子情報通信学会ソサイエティ大会 チュートリアル講演 2002/09 Japanese Disclose to all
動的電源ノイズ解析のための電源グリッドモデル抽出 動的電源ノイズ解析のための電源グリッドモデル抽出 DAシンポジウム DAシンポジウム 2002/07 Japanese Disclose to all
0.1-um級 LSI の遅延計算における寄生インダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法 0.1-um級 LSI の遅延計算における寄生インダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法 DA シンポジウム DA シンポジウム 2002/07 Japanese Disclose to all
インダクタンスが配線遅延に及ぼす影響の定量的評価方法 インダクタンスが配線遅延に及ぼす影響の定量的評価方法 第15回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ 第15回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ 2002/04 Japanese Disclose to all
斜め配線を含む VLSIの高速オンチップ・インダクタンス解析 斜め配線を含む VLSIの高速オンチップ・インダクタンス解析 第15回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ 第15回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ 2002/04 Japanese Disclose to all
有限要素法と回路解析の連成解析による同時切替えノイズの評価 有限要素法と回路解析の連成解析による同時切替えノイズの評価 第14回 エレクトロニクス実装学会全国大会 第14回 エレクトロニクス実装学会全国大会 2002/03 Japanese Disclose to all
クロストークノイズによる配線遅延の変動とノイズ波形のモデル化に関する検討 クロストークノイズによる配線遅延の変動とノイズ波形のモデル化に関する検討 信学技報 信学技報 2000/09 Japanese Disclose to all
プリント回路基板の高周波電流解析用 LSI モデリング手法の検討 プリント回路基板の高周波電流解析用 LSI モデリング手法の検討 信学技報 信学技報 2000/07 Japanese Disclose to all
ビット間スキュー制御を有するシンクロナス DRAM の 5 GByte/s データ伝送技術 ビット間スキュー制御を有するシンクロナス DRAM の 5 GByte/s データ伝送技術 信学技報 信学技報 1998/06 Japanese Disclose to all
A practical row interchanging algorithm for hierarchically constructed circuit matrices using modified modal analysis A practical row interchanging algorithm for hierarchically constructed circuit matrices using modified modal analysis 信学技報 信学技報 1997/12 Japanese Disclose to all
メモリ回路を用いた回路分割型回路シミュレーションの評価 メモリ回路を用いた回路分割型回路シミュレーションの評価 信学技報 信学技報 1996/04 Japanese Disclose to all
機能関数を用いたアナログ/デジタル混在回路機能検証高速化手法の一検討 機能関数を用いたアナログ/デジタル混在回路機能検証高速化手法の一検討 電子情報通信学会 総合大会 電子情報通信学会 総合大会 1994/03 Japanese Disclose to all
A Plotter-based Automatic Measurements and Statistical Characterization of Multiple Discrete Power Devices (accepted) A Plotter-based Automatic Measurements and Statistical Characterization of Multiple Discrete Power Devices (accepted) International power electronics conference (IPEC) International power electronics conference (IPEC) 2018/05 English Disclose to all
Electrical and Thermal Characterization of SiC Power MOSFET (Invited) (accepted)[Invited] Electrical and Thermal Characterization of SiC Power MOSFET (Invited) (accepted) [Invited] China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC) 2018/03 English Disclose to all
A Feasibility Study of Annealing Processor for Fully-Connected Ising Model Based on Memristor/CMOS Hybrid Architecture (accepted) A Feasibility Study of Annealing Processor for Fully-Connected Ising Model Based on Memristor/CMOS Hybrid Architecture (accepted) The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2018/03 English Disclose to all
A PUF Based on the Instantaneous Response of Ring Oscillator Determined by the Convergence Time of Bistable Ring (accepted) A PUF Based on the Instantaneous Response of Ring Oscillator Determined by the Convergence Time of Bistable Ring (accepted) The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2018/03 English Disclose to all
Comparative Study of Delay Degradation Caused by NBTI Considering Stress Frequency Dependence (accepted) Comparative Study of Delay Degradation Caused by NBTI Considering Stress Frequency Dependence (accepted) The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 21st workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2018/03 English Disclose to all
A Study on NBTI-induced Delay Degradation Considering Stress Frequency Dependence (accepted) A Study on NBTI-induced Delay Degradation Considering Stress Frequency Dependence (accepted) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2018/03 English Disclose to all
Ising-PUF: A Machine Learning Attack Resistant PUF Featuring Lattice Like Arrangement of Arbiter-PUFs (accepted) Ising-PUF: A Machine Learning Attack Resistant PUF Featuring Lattice Like Arrangement of Arbiter-PUFs (accepted) Design, Automation and Test in Europe (DATE) Design, Automation and Test in Europe (DATE) 2018/03 English Disclose to all
Efficient Exploration of Worst Case Workload and Timing Degradation Under NBTI (accepted) Efficient Exploration of Worst Case Workload and Timing Degradation Under NBTI (accepted) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2018/01 English Disclose to all
Parameter Extraction for MOSFEET Current Model Using Backward Propagation of Errors Parameter Extraction for MOSFEET Current Model Using Backward Propagation of Errors Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2017/11 English Disclose to all
A Design-analysis Flow Considering Mechanical Stability of Metal Masks for Organic CMOS Circuits A Design-analysis Flow Considering Mechanical Stability of Metal Masks for Organic CMOS Circuits IEEE International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) IEEE International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) 2017/09 English Disclose to all
Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption DA Symposium DA Symposium 2017/08 English Disclose to all
LSTA: Learning-based Static Timing Analysis for High-dimensional Correlated On-chip Variations LSTA: Learning-based Static Timing Analysis for High-dimensional Correlated On-chip Variations ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) 2017/06 English Disclose to all
Device Identification from Mixture of Measurable Characteristics Device Identification from Mixture of Measurable Characteristics IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC) IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC) 2017/03 English Disclose to all
SCAM: Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption SCAM: Secured Content Addressable Memory Based on Homomorphic Encryption Design, Automation and Test in Europe (DATE) Design, Automation and Test in Europe (DATE) 2017/03 English Disclose to all
Input Capacitance Determination of Power MOSFETs from Switching Trajectories Input Capacitance Determination of Power MOSFETs from Switching Trajectories IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 2017/03 English Disclose to all
Comparative Study of Path Selection and Objective Function in Replacing NBTI Mitigation Logic Comparative Study of Path Selection and Objective Function in Replacing NBTI Mitigation Logic International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2017/03 English Disclose to all
Pattern Based Runtime Voltage Emergency Prediction: An Instruction-aware Block Sparse Compressed Sensing Approach Pattern Based Runtime Voltage Emergency Prediction: An Instruction-aware Block Sparse Compressed Sensing Approach ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2017/01 English Disclose to all
Efficient Circuit Failure Probability Calculation Along Product Lifetime Considering Device Aging Efficient Circuit Failure Probability Calculation Along Product Lifetime Considering Device Aging ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2017/01 English Disclose to all
A Design Example of Class-E Based Gate Driver for High Frequency Operation of SiC Power MOSFET A Design Example of Class-E Based Gate Driver for High Frequency Operation of SiC Power MOSFET International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA) International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA) 2016/11 English Disclose to all
A Charge Based SiC Power MOSFET Model Considering On-state Resistance A Charge Based SiC Power MOSFET Model Considering On-state Resistance International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA) International Symposium on Nonlinear Theory and Its Applications (NOLTA) 2016/11 English Disclose to all
Runtime NBTI Mitigtion for Processor Lifespan Extension via Selective Node Control Runtime NBTI Mitigtion for Processor Lifespan Extension via Selective Node Control IEEE Asian Test Symposium (ATS) IEEE Asian Test Symposium (ATS) 2016/11 English Disclose to all
Identifications of Thermal Equivalent Circuit for Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation Identifications of Thermal Equivalent Circuit for Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) 2016/11 English Disclose to all
A Circuit Simulation Model for V-groove SiC Power MOSFET A Circuit Simulation Model for V-groove SiC Power MOSFET IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) 2016/11 English Disclose to all
Analysis of Transient Behavior of SiC Power MOSFETs Based on Surface Potential Model and Its Application to Boost Converter Analysis of Transient Behavior of SiC Power MOSFETs Based on Surface Potential Model and Its Application to Boost Converter IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA) 2016/11 English Disclose to all
Representative Path Approach for Time-efficient NBTI Mitigation Logic Replacement Representative Path Approach for Time-efficient NBTI Mitigation Logic Replacement Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2016/11 English Disclose to all
Unique Device Identification Framework for Power MOSFETs Using Inherent Device Variation Unique Device Identification Framework for Power MOSFETs Using Inherent Device Variation Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2016/11 English Disclose to all
Thermal Circuit Identification of Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation Thermal Circuit Identification of Power MOSFETs Through In-situ Channel Temperature Estimation The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2016/11 English Disclose to all
Path Grouping Approach for Efficient Candidate-selection of Replacing NBTI Mitigation Logic Path Grouping Approach for Efficient Candidate-selection of Replacing NBTI Mitigation Logic The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2016/11 English Disclose to all
Hardware Accelerator of Convolutional Neural Network for Image Recognition and Its Performance Evaluation Platform Hardware Accelerator of Convolutional Neural Network for Image Recognition and Its Performance Evaluation Platform The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 20th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2016/11 English Disclose to all
A Surface-potential-based Reverse-transfer Capacitance Model for Vertical SiC DMOSFET A Surface-potential-based Reverse-transfer Capacitance Model for Vertical SiC DMOSFET IEEE International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) IEEE International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM) 2016/09 English Disclose to all
Aging-aware Timing Analysis Based on Machine Learning Aging-aware Timing Analysis Based on Machine Learning DA Symposium DA Symposium 2016/09 English Disclose to all
A Simulation Model for SiC Power MOSFET Based on Surface Potential A Simulation Model for SiC Power MOSFET Based on Surface Potential International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD) 2016/09 English Disclose to all
Approximated Prediction Strategy for Reducing Power Consumption of Convolutional Neural Network Processor Approximated Prediction Strategy for Reducing Power Consumption of Convolutional Neural Network Processor Embedded Vision Workshop Embedded Vision Workshop 2016/09 English Disclose to all
Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) 2016/06 English Disclose to all
Physically Unclonable Function Using RTN-induced Delay Fluctuation in Ring Oscillators Physically Unclonable Function Using RTN-induced Delay Fluctuation in Ring Oscillators IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) 2016/05 English Disclose to all
Workload-aware Worst Path Analysis of Processor-scale NBTI Degradation Workload-aware Worst Path Analysis of Processor-scale NBTI Degradation ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI) ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI) 2016/05 English Disclose to all
A High Power Curve Tracer for Characterizing Full Operational Range of SiC Power Transistors A High Power Curve Tracer for Characterizing Full Operational Range of SiC Power Transistors IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 2016/03 English Disclose to all
Nonlinear Delay-table Approach for Full-chip NBTI Degradation Prediction Nonlinear Delay-table Approach for Full-chip NBTI Degradation Prediction International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2016/03 English Disclose to all
Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling Efficient Transistor-level Timing Yield Estimation via Line Sampling ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) 2016/03 English Disclose to all
Mitigation of NBTI-induced Timing Degradation in Processor Mitigation of NBTI-induced Timing Degradation in Processor ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) 2016/03 English Disclose to all
Fast Monte Carlo for Timing Yield Estimation via Line Sampling Fast Monte Carlo for Timing Yield Estimation via Line Sampling Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2015/11 English Disclose to all
Fast Estimation on NBTI-induced Delay Degradation Based on Signal Probability Fast Estimation on NBTI-induced Delay Degradation Based on Signal Probability DA Symposium DA Symposium 2015/08 English Disclose to all
Accelerating Random-walk-based Power Grid Analysis Through Error Smoothing Accelerating Random-walk-based Power Grid Analysis Through Error Smoothing The 19th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 19th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2015/03 English Disclose to all
ECRIPSE: An Efficient Method for Calculating RTN-induced Failure Probability of an SRAM Cell ECRIPSE: An Efficient Method for Calculating RTN-induced Failure Probability of an SRAM Cell Design, Automation and Test in Europe (DATE) Design, Automation and Test in Europe (DATE) 2015/03 English Disclose to all
Sensorless Estimation of Global Device-parameters Through Fmax Testing Sensorless Estimation of Global Device-parameters Through Fmax Testing IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) 2014/11 English Disclose to all
A Scalable Device Array for Statistical Device-aging Characterization (Invited)[Invited] A Scalable Device Array for Statistical Device-aging Characterization (Invited) [Invited] IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) 2014/10 English Disclose to all
A Quadrocopter Automatic Control Contest as an Example of Interdisciplinary Design Education A Quadrocopter Automatic Control Contest as an Example of Interdisciplinary Design Education 14th International Conference on Control, Automation and Systems (ICCAS 2014) 14th International Conference on Control, Automation and Systems (ICCAS 2014) 2014/10 English Disclose to all
A Case Study of Chinese Calligraphic Style Classification Using Deep Neural Network A Case Study of Chinese Calligraphic Style Classification Using Deep Neural Network International Workshop on Smart Info-Media Systems in Asia (SISA) International Workshop on Smart Info-Media Systems in Asia (SISA) 2014/10 English Disclose to all
Variability in Device Degradations: Statistical Observation of NBTI for 3996 Transistors Variability in Device Degradations: Statistical Observation of NBTI for 3996 Transistors Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) 2014/09 English Disclose to all
An Experimental Study on Interdigital Capacitance Sensor for Detecting Heart Rate An Experimental Study on Interdigital Capacitance Sensor for Detecting Heart Rate Workshop on Circuits and Systems Workshop on Circuits and Systems 2014/08 English Disclose to all
A Low Cost Capacitor Approach for Suppressing Resonance in Power Distribution Networks A Low Cost Capacitor Approach for Suppressing Resonance in Power Distribution Networks International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC Tokyo) International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo (EMC Tokyo) 2014/05 English Disclose to all
Experimental Validation of Minimum Operating Voltage Estimation for Low Supply Voltage Circuits Experimental Validation of Minimum Operating Voltage Estimation for Low Supply Voltage Circuits International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2014/03 English Disclose to all
Time Dependent Degradation (Invited)[Invited] Time Dependent Degradation (Invited) [Invited] The Journal of Reliability Engineering Association of Japan The Journal of Reliability Engineering Association of Japan 2013/12 English Disclose to all
A Device Array for Flexible BTI Characterization (Invited Talk) A Device Array for Flexible BTI Characterization (Invited Talk) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2013/11 English Disclose to all
Statistical Observation of NBTI and PBTI Degradations Statistical Observation of NBTI and PBTI Degradations Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2013/11 English Disclose to all
Place-and-route Algorithms for a Reliability-oriented Coarse-grained Reconfigurable Architecture Using Time Redundancy Place-and-route Algorithms for a Reliability-oriented Coarse-grained Reconfigurable Architecture Using Time Redundancy The 18th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 18th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2013/10 English Disclose to all
Statistical Simulation Methods for Analyzing Performance of Low Supply Voltage Circuits (Invited)[Invited] Statistical Simulation Methods for Analyzing Performance of Low Supply Voltage Circuits (Invited) [Invited] The IEEE 10th International Conference on ASIC (ASICON) The IEEE 10th International Conference on ASIC (ASICON) 2013/09 English Disclose to all
Architecture for Sealed Wafer-scale Mask ROM for Long-term Digital Data Preservation Architecture for Sealed Wafer-scale Mask ROM for Long-term Digital Data Preservation The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2013/06 English Disclose to all
Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis Using Dependent Node Selection Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis Using Dependent Node Selection The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) The 28th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2013/06 English Disclose to all
Fast and Memory-efficient GPU Implementations of Krylov Subspace Methods for Efficient Power Grid Analysis Fast and Memory-efficient GPU Implementations of Krylov Subspace Methods for Efficient Power Grid Analysis ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI) ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI) 2013/05 English Disclose to all
Logarithmic Modeling of BTI Under Dynamic Circuit Operations: Static, Dynamic and Long-term Prediction Logarithmic Modeling of BTI Under Dynamic Circuit Operations: Static, Dynamic and Long-term Prediction IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2013/04 English Disclose to all
A Cost-effective Selective TMR for Heterogeneous Coarse-grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-level Vulnerability Analysis A Cost-effective Selective TMR for Heterogeneous Coarse-grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-level Vulnerability Analysis Design, Automation and Test in Europe (DATE) Design, Automation and Test in Europe (DATE) 2013/03 English Disclose to all
Hot-swapping Architecture With Back-biased Testing for Mitigation of Permanent Faults in Functional Unit Array Hot-swapping Architecture With Back-biased Testing for Mitigation of Permanent Faults in Functional Unit Array Design, Automation and Test in Europe (DATE) Design, Automation and Test in Europe (DATE) 2013/03 English Disclose to all
Evaluation of Dependent Node Selection of Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis Evaluation of Dependent Node Selection of Histogram Propagation Based Statistical Timing Analysis IEICE general conference IEICE general conference 2013/03 English Disclose to all
[Memorial Lecture] an Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation [Memorial Lecture] an Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation IEICE Technical Report IEICE Technical Report 2013/03 English Disclose to all
High-speed DFG-level SEU Vulnerability Analysis for Applying Selective TMR to Resource-constrained CGRA High-speed DFG-level SEU Vulnerability Analysis for Applying Selective TMR to Resource-constrained CGRA International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2013/03 English Disclose to all
Multi-trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference Multi-trap RTN Parameter Extraction Based on Bayesian Inference International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2013/03 English Disclose to all
An Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation An Adaptive Current-threshold Determination for IDDQ Testing Based on Bayesian Process Parameter Estimation ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2013/01 English Disclose to all
Realization of Frequency-domain Circuit Analysis Through Random Walk Realization of Frequency-domain Circuit Analysis Through Random Walk ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2013/01 English Disclose to all
Accurate I/O Buffer Impedance Self-adjustment Using Vth and Temperature Sensors Accurate I/O Buffer Impedance Self-adjustment Using Vth and Temperature Sensors Design gaia, SLDM society conference Design gaia, SLDM society conference 2012/11 English Disclose to all
Adaptive Current-threshold Determination for Accurate IDDQ Testing Adaptive Current-threshold Determination for Accurate IDDQ Testing Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2012/11 English Disclose to all
The Odd Couple: Antiresonance Control by Two Capacitors of Unequal Series Resistances The Odd Couple: Antiresonance Control by Two Capacitors of Unequal Series Resistances The 21st conference on electrical performance of electronic packaging and systems (EPEPS) The 21st conference on electrical performance of electronic packaging and systems (EPEPS) 2012/10 English Disclose to all
Statistical Aging Under Dynamic Voltage Scaling: A Logarithmic Model Approach Statistical Aging Under Dynamic Voltage Scaling: A Logarithmic Model Approach IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) 2012/09 English Disclose to all
Physics Matters: Statistical Aging Prediction Under Trapping/detrapping Physics Matters: Statistical Aging Prediction Under Trapping/detrapping ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) 2012/06 English Disclose to all
A Bayesian-based Process Parameter Estimation Using IDDQ Current Signature A Bayesian-based Process Parameter Estimation Using IDDQ Current Signature IEEE VLSI Test Symposium (VTS) IEEE VLSI Test Symposium (VTS) 2012/04 English Disclose to all
Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Silicon Evidence, Modeling and Long-term Prediction Aging Statistics Based on Trapping/detrapping: Silicon Evidence, Modeling and Long-term Prediction IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2012/04 English Disclose to all
Statistical Observations of NBTI-induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-area Devices Statistical Observations of NBTI-induced Threshold Voltage Shifts on Small Channel-area Devices International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2012/03 English Disclose to all
GPU Acceleration of Cycle-based Soft-error Simulation for Reconfigurable Array Architectures GPU Acceleration of Cycle-based Soft-error Simulation for Reconfigurable Array Architectures The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2012/03 English Disclose to all
Hardware Architecture for Accelerating Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element Hardware Architecture for Accelerating Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 17th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2012/03 English Disclose to all
Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element Acceleration Scheme for Monte Carlo Based SSTA Using Generalized STA Processing Element ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) 2012/01 English Disclose to all
Statistical Aging Prediction and Characterization Using Trapping/detrapping Based NBTI Models Statistical Aging Prediction and Characterization Using Trapping/detrapping Based NBTI Models Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2011/11 English Disclose to all
Getting the Most Out of IDDQ Testing Getting the Most Out of IDDQ Testing Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2011/11 English Disclose to all
A Sensor-based Self-adjustment Approach for Controlling I/O Buffer Impedance A Sensor-based Self-adjustment Approach for Controlling I/O Buffer Impedance IEICE society conference IEICE society conference 2011/09 English Disclose to all
A Design Strategy for Sub-threshold Circuits Considering Energy-minimization and Yield-maximization A Design Strategy for Sub-threshold Circuits Considering Energy-minimization and Yield-maximization IEEE International SOC Conference (SOCC) IEEE International SOC Conference (SOCC) 2011/09 English Disclose to all
A Device Array for Efficient Bias-temperature Instability Measurements A Device Array for Efficient Bias-temperature Instability Measurements Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) 2011/09 English Disclose to all
A Stress-parallelized Device Array for Efficient Bias-temperature Stability Measurement A Stress-parallelized Device Array for Efficient Bias-temperature Stability Measurement The 5th IEEE International Workshop on Design for Manufacturability & Yield (DFM&Y) The 5th IEEE International Workshop on Design for Manufacturability & Yield (DFM&Y) 2011/06 English Disclose to all
Acceleration of Random-walk-based Linear Circuit Analysis Using Importance Sampling Acceleration of Random-walk-based Linear Circuit Analysis Using Importance Sampling ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI) ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI) 2011/05 English Disclose to all
A Fully Pipelined Implementation of Monte Carlo Based SSTA on FPGAs A Fully Pipelined Implementation of Monte Carlo Based SSTA on FPGAs International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2011/03 English Disclose to all
A Transistor-array for Parallel BTI-effects Measurements A Transistor-array for Parallel BTI-effects Measurements Workshop on variability modeling and characterization (VMC) Workshop on variability modeling and characterization (VMC) 2010/11 English Disclose to all
Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) 2010/11 English Disclose to all
A Routing Architecture Exploration for Coarse-grained Reconfigurable Architecture With Automated SEU-tolerance Evaluation A Routing Architecture Exploration for Coarse-grained Reconfigurable Architecture With Automated SEU-tolerance Evaluation IEEE International SOC Conference (SOCC) IEEE International SOC Conference (SOCC) 2010/07 English Disclose to all
A Tool Chain for Generating SEU-vulnerability Map for Coarse-grained Reconfigurable Architecture A Tool Chain for Generating SEU-vulnerability Map for Coarse-grained Reconfigurable Architecture The 25th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) The 25th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) 2010/07 English Disclose to all
Application of Generalized Scattering Matrix for Prediction of Power Supply Noise Application of Generalized Scattering Matrix for Prediction of Power Supply Noise ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP) ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP) 2010/06 English Disclose to all
Small Delay and Area Overhead Process Parameter Estimation Through Path-delay Inequalities Small Delay and Area Overhead Process Parameter Estimation Through Path-delay Inequalities IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) 2010/05 English Disclose to all
Decomposition of Drain-current Variation Into Gain-factor and Threshold Voltage Variations Decomposition of Drain-current Variation Into Gain-factor and Threshold Voltage Variations IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) 2010/05 English Disclose to all
Path Clustering for Adaptive Test Path Clustering for Adaptive Test IEEE VLSI Test Symposium (VTS) IEEE VLSI Test Symposium (VTS) 2010/04 English Disclose to all
Linear Time Calculation of State-dependent Power Distribution Network Capacitance Linear Time Calculation of State-dependent Power Distribution Network Capacitance International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2010/03 English Disclose to all
Robust Importance Sampling for Efficient SRAM Yield Analysis Robust Importance Sampling for Efficient SRAM Yield Analysis International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2010/03 English Disclose to all
Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis Sequential Importance Sampling for Low-probability and High-dimensional SRAM Yield Analysis ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) 2010/03 English Disclose to all
On-die Parameter Extraction from Path-delay Measurements On-die Parameter Extraction from Path-delay Measurements IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC) IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC) 2009/11 English Disclose to all
An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information IEEE Asian Test Symposium (ATS) IEEE Asian Test Symposium (ATS) 2009/09 English Disclose to all
Two-dimensional Moment Method for Analyzing Current Distribution of a Ceramic Capacitor Two-dimensional Moment Method for Analyzing Current Distribution of a Ceramic Capacitor International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Kyoto) International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Kyoto) 2009/07 English Disclose to all
Bridging the Gap Between Laboratory Measurement and Simulation Model (Invited)[Invited] Bridging the Gap Between Laboratory Measurement and Simulation Model (Invited) [Invited] International Workshop on Emerging Circuits and Systems (IWECS) International Workshop on Emerging Circuits and Systems (IWECS) 2009/07 English Disclose to all
Application of the EMI Decoupling Circuit Consisting of Two Capacitors and a Power Trace to Quad Flat Package (QFP) LSI Application of the EMI Decoupling Circuit Consisting of Two Capacitors and a Power Trace to Quad Flat Package (QFP) LSI IEICE Transactions on Communications (Japanese Edition) IEICE Transactions on Communications (Japanese Edition) 2009/05 English Disclose to all
S-parameter-based Modal Decomposition of Multiconductor Transmission Lines and Its Application to De-embedding S-parameter-based Modal Decomposition of Multiconductor Transmission Lines and Its Application to De-embedding IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 2009/03 English Disclose to all
Non-invasive Direct Probing for On-chip Voltage Measurement Non-invasive Direct Probing for On-chip Voltage Measurement International SoC Design Conference (ISOCC) International SoC Design Conference (ISOCC) 2008/11 English Disclose to all
An Efficient Extraction of Random and Systematic Gate-length Variation Through Poly-Si Resistor Measurement An Efficient Extraction of Random and Systematic Gate-length Variation Through Poly-Si Resistor Measurement Workshop on Test Structure Design for Variability Characterization Workshop on Test Structure Design for Variability Characterization 2008/11 English Disclose to all
Decoupling Capacitance Allocation for Timing With Statistical Noise Model and Timing Analysis Decoupling Capacitance Allocation for Timing With Statistical Noise Model and Timing Analysis IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD) 2008/11 English Disclose to all
A MOS Transistor Array With Pico-ampere Order Precision for Accurate Characterization of Leakage Current Variation A MOS Transistor Array With Pico-ampere Order Precision for Accurate Characterization of Leakage Current Variation IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC) IEEE Asian solid-state circuit conference (ASSCC) 2008/11 English Disclose to all
Accurate Parasitic Inductance Determination of a Ceramic Capacitor Through 2-port Measurements Accurate Parasitic Inductance Determination of a Ceramic Capacitor Through 2-port Measurements The 17th topical meeting on electrical performance of electronic packaging (EPEP) The 17th topical meeting on electrical performance of electronic packaging (EPEP) 2008/10 English Disclose to all
Non-parametric Statistical Static Timing Analysis: An SSTA Framework for Arbitrary Distribution Non-parametric Statistical Static Timing Analysis: An SSTA Framework for Arbitrary Distribution ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC) 2008/06 English Disclose to all
Substrate-geometry Aware 2-port Modeling for Surface-mount Passive Components Substrate-geometry Aware 2-port Modeling for Surface-mount Passive Components 19th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility 19th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility 2008/05 English Disclose to all
On-chip Differential and Common Mode Voltage Measurement Using Off-chip Referenced Twin Probing On-chip Differential and Common Mode Voltage Measurement Using Off-chip Referenced Twin Probing IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects (SPI) IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects (SPI) 2008/05 English Disclose to all
Determination of Optimal Polynomial Regression Function to Decompose On-die Systematic and Random Variations Determination of Optimal Polynomial Regression Function to Decompose On-die Systematic and Random Variations ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2008/01 English Disclose to all
A Study on Variation-component Decomposition Using Polynomial Smoothing Function A Study on Variation-component Decomposition Using Polynomial Smoothing Function The 14th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 14th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2007/10 English Disclose to all
An Implementation of Voltage Drop Sensor Circuit for Power Supply Network Monitoring An Implementation of Voltage Drop Sensor Circuit for Power Supply Network Monitoring Workshop on SoC Design Methodologies Workshop on SoC Design Methodologies 2007/09 English Disclose to all
Weakness Identification for Effective Repair of Power Distribution Network Weakness Identification for Effective Repair of Power Distribution Network 17th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS) 17th International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS) 2007/09 English Disclose to all
A MOS Transistor-array for Accurate Measurement of Subthreshold Leakage Variation A MOS Transistor-array for Accurate Measurement of Subthreshold Leakage Variation International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2007/03 English Disclose to all
Adaptable Wire-length Distribution With Tunable Occupation Probability Adaptable Wire-length Distribution With Tunable Occupation Probability ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP) ACM/IEEE International Workshop on System Level Interconnect Prediction (SLIP) 2007/03 English Disclose to all
Improvement of Power Distribution Network Using Correlation-based Regression Analysis Improvement of Power Distribution Network Using Correlation-based Regression Analysis ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI) ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI) 2007/03 English Disclose to all
A Multi-drop Transmission-line Interconnect in Si LSI A Multi-drop Transmission-line Interconnect in Si LSI ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2007/01 English Disclose to all
Thermal Driven Module Placement Using Sequence-pair Thermal Driven Module Placement Using Sequence-pair Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS) Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS) 2006/12 English Disclose to all
A Left Handed Material on Si CMOS Chip With Wafer Level Package Process A Left Handed Material on Si CMOS Chip With Wafer Level Package Process Asia Pacific Microwave Conference (APMC) Asia Pacific Microwave Conference (APMC) 2006/12 English Disclose to all
Measurement Results of Delay Degradation Due to Power Supply Noise Well Correlated With Full-chip Simulation Measurement Results of Delay Degradation Due to Power Supply Noise Well Correlated With Full-chip Simulation IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) 2006/09 English Disclose to all
A Time-slicing Ring Oscillator for Capturing Instantaneous Delay Degradation and Power Supply Voltage Drop A Time-slicing Ring Oscillator for Capturing Instantaneous Delay Degradation and Power Supply Voltage Drop IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) 2006/09 English Disclose to all
Timing Analysis Considering Temporal Supply Voltage Fluctuation Timing Analysis Considering Temporal Supply Voltage Fluctuation ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2005/01 English Disclose to all
On-chip Thermal Gradient Analysis and Temperature Flattening for SoC Design On-chip Thermal Gradient Analysis and Temperature Flattening for SoC Design ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2005/01 English Disclose to all
Successive Pad Assignment Algorithm to Optimize Number and Location of Power Supply Pad Using Incremental Matrix Inversion Successive Pad Assignment Algorithm to Optimize Number and Location of Power Supply Pad Using Incremental Matrix Inversion ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2005/01 English Disclose to all
An IR-drop Minimization by Optimizing Number and Location of Power Supply Pads An IR-drop Minimization by Optimizing Number and Location of Power Supply Pads The 12th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) The 12th workshop on synthesis and system integration of mixed information technologies (SASIMI) 2004/10 English Disclose to all
A Statistical Methodology for Screening Inductance Dominated Interconnects in Timing Analysis A Statistical Methodology for Screening Inductance Dominated Interconnects in Timing Analysis Information Processing Society of Japan Information Processing Society of Japan 2003/05 English Disclose to all
Design and Measurement of an Inductance-oscillator for Analyzing Inductance Impact on On-chip Interconnect Delay Design and Measurement of an Inductance-oscillator for Analyzing Inductance Impact on On-chip Interconnect Delay International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 2003/03 English Disclose to all
Accurate Prediction of the Impact of On-chip Inductance on Interconnect Delay Using Electrical and Physical Parameter-based RSF Accurate Prediction of the Impact of On-chip Inductance on Interconnect Delay Using Electrical and Physical Parameter-based RSF ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2003/01 English Disclose to all
Approximate Formulae Approach for Efficient Inductance Extraction Approximate Formulae Approach for Efficient Inductance Extraction ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2003/01 English Disclose to all
Efficient Generation of Delay Change Curves for Noise-aware Static Timing Analysis Efficient Generation of Delay Change Curves for Noise-aware Static Timing Analysis ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) ACM/IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASPDAC) 2002/01 English Disclose to all
New Approaches to Noise-aware Static Timing Analysis New Approaches to Noise-aware Static Timing Analysis ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU) 2000/12 English Disclose to all
Characterization of Interconnect Coupling Noise Using In-situ Delay-change Curve Measurements Characterization of Interconnect Coupling Noise Using In-situ Delay-change Curve Measurements 13th IEEE International ASIC/SOC Conference 13th IEEE International ASIC/SOC Conference 2000/09 English Disclose to all
New Paradigm of Predictive CMOS Modeling for Early Circuit Simulation New Paradigm of Predictive CMOS Modeling for Early Circuit Simulation IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) 2000/05 English Disclose to all
Accurate In-situ Measurement of Peak Noise and Delay Induced by Interconnect Coupling Accurate In-situ Measurement of Peak Noise and Delay Induced by Interconnect Coupling IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) 2000/02 English Disclose to all
A 5 GBytes/s Data Transfer Scheme With Bit-to-bit Skew Control for Synchronous DRAM A 5 GBytes/s Data Transfer Scheme With Bit-to-bit Skew Control for Synchronous DRAM International Symposium on VLSI Circuits International Symposium on VLSI Circuits 1998/06 English Disclose to all

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Author Author(Japanese) Author(English) Title Title(Japanese) Title(English) Publisher Publisher(Japanese) Publisher(English) Publication date Language Type Disclose
Takashi Sato Takashi Sato Takashi Sato VLSI Design and Test for Systems Dependability VLSI Design and Test for Systems Dependability VLSI Design and Test for Systems Dependability Springer Springer Springer 2019/04 English Contributor Disclose to all
Reis, Cao, Wirth Reis, Cao, Wirth Reis, Cao, Wirth Circuit Design for Reliability Circuit Design for Reliability Circuit Design for Reliability Springer Springer Springer 2014/11 English Contributor Disclose to all
Grasser, Tibor (Ed.) Grasser, Tibor (Ed.) Grasser, Tibor (Ed.) Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Springer Springer Springer 2013/12 English Contributor Disclose to all
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Patents
Inventor(s) Inventor(s) (Japanese) Inventor(s) (English) Title Title(Japanese) Title(English) Stage Patent number Date Disclose
佐藤高史, 山長功, 益一哉 佐藤高史, 山長功, 益一哉 回路モデル作成装置、回路モデル作成方法、 シミュレーション装置、及び、シミュレーション方法 回路モデル作成装置、回路モデル作成方法、 シミュレーション装置、及び、シミュレーション方法 特許登録 特許特許5246785 2010/09/16 Disclose to all
佐藤 高史,田中 悠貴,辺 松,廣本 正之 佐藤 高史,田中 悠貴,辺 松,廣本 正之 PUF回路群,PUF回路群の製造方法,PUF回路の使用方法,及びネットワークシステム PUF回路群,PUF回路群の製造方法,PUF回路の使用方法,及びネットワークシステム 特許出願 特願2018-154477 2018/08/21 Disclose to all
越智裕之, 池辺 卓, 佐藤高史 越智裕之, 池辺 卓, 佐藤高史 太陽電池、複合太陽電池および集積回路 太陽電池、複合太陽電池および集積回路 特許出願 特願2013-020277 2013/02/05 Disclose to all
益一哉, 山長功,萩原汐, 佐藤高史 益一哉, 山長功,萩原汐, 佐藤高史 集積回路電源間容量の計算装置、及び、集積回路 電源間容量の計算方法 集積回路電源間容量の計算装置、及び、集積回路 電源間容量の計算方法 特許公開 特開特開2011-197895 2011/10/06 Disclose to all
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External funds: competitive funds and Grants-in-Aid for Scientific Research (Kakenhi)
Type Position Title(Japanese) Title(English) Period
Representative モンテカルロ法にもとづくタイミング解析高速化の研究 2010/04/01-2013/03/31
基盤研究(B) Representative 寿命予測・障害予防・修復を可能とする集積回路の信頼性設計手法 (平成26年度分) 2014/04/01-2015/03/31
基盤研究(B) Representative 寿命予測・障害予防・修復を可能とする集積回路の信頼性設計手法 (平成27年度分) 2015/04/01-2016/03/31
挑戦的萌芽研究 Representative 生体情報の無意識・非接触・常時測定の研究 (平成27年度分) 2015/04/01-2016/03/31
挑戦的萌芽研究 Representative 生体情報の無意識・非接触・常時測定の研究 (平成28年度分) 2016/04/01-2017/03/31
基盤研究(B) Representative 寿命予測・障害予防・修復を可能とする集積回路の信頼性設計手法 (平成28年度分) 2016/04/01-2017/03/31
基盤研究(B) Representative トランジスタの特性変動モデルにもとづく時変チップ ID の実現 (平成29年度分) 2017/04/01-2018/03/31
基盤研究(B) Representative トランジスタの特性変動モデルにもとづく時変チップ ID の実現 (平成30年度分) 2018/04/01-2019/03/31
Teaching subject(s)
Name(Japanese) Name(English) Term Department Period
Advanced Study in CCE II 通年 情報学研究科 2011/04-2012/03
Advanced Study in CCE I 通年 情報学研究科 2011/04-2012/03
通信情報システム特別研究1 通年 情報学研究科 2011/04-2012/03
通信情報システム特別研究2 通年 情報学研究科 2011/04-2012/03
集積システム設計論 後期 情報学研究科 2011/04-2012/03
応用集積システム 前期 情報学研究科 2011/04-2012/03
通信情報システム特別セミナー 通年 情報学研究科 2011/04-2012/03
集積システム工学特別セミナー 通年 情報学研究科 2011/04-2012/03
応用集積システム Integrated System Architecture and Synthesis 前期 情報学研究科 2012/04-2013/03
通信情報システム特別セミナー Seminar on Communications and Computer Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2012/04-2013/03
通信情報システム特別研究2 Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2012/04-2013/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2012/04-2013/03
集積システム工学特別セミナー Seminar on Integrated Systems Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2012/04-2013/03
集積システム設計論 High-Level Design Methodology for System LSI 後期 情報学研究科 2012/04-2013/03
計算機工学 Computer Hardware Design 後期 工学部 2013/04-2014/03
組み込み計算機システム Embedded Computer Systems 後期 工学部 2013/04-2014/03
集積回路工学 Integraged Circuits Engineering 前期 工学部 2013/04-2014/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2013/04-2014/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 前期集中 情報学研究科 2013/04-2014/03
通信情報システム特別研究2 Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2013/04-2014/03
System-Level Design Methodology for SoCs System-Level Design Methodology for SoCs 後期 情報学研究科 2013/04-2014/03
応用集積システム Integrated System Architecture and Synthesis 前期 情報学研究科 2013/04-2014/03
情報通信技術のデザイン Design in ICT 前期 情報学研究科 2013/04-2014/03
通信情報システム特別セミナー Seminar on Communications and Computer Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2013/04-2014/03
集積システム工学特別セミナー Seminar on Integrated Systems Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2013/04-2014/03
計算機工学 Computer Hardware Design 後期 工学部 2014/04-2015/03
組み込み計算機システム Embedded Computer Systems 後期 工学部 2014/04-2015/03
集積回路工学 Integraged Circuits Engineering 前期 工学部 2014/04-2015/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2014/04-2015/03
通信情報システム特別研究2 Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2014/04-2015/03
System-Level Design Methodology for SoCs System-Level Design Methodology for SoCs 後期 情報学研究科 2014/04-2015/03
応用集積システム Integrated System Architecture and Synthesis 前期 情報学研究科 2014/04-2015/03
情報通信技術のデザイン Design in ICT 前期 情報学研究科 2014/04-2015/03
通信情報システム特別セミナー Seminar on Communications and Computer Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2014/04-2015/03
集積システム工学特別セミナー Seminar on Integrated Systems Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2014/04-2015/03
Advanced Study in CCE I Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2014/04-2015/03
Advanced Study in CCE II Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2014/04-2015/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 後期前期 情報学研究科 2014/04-2015/03
Advanced Study in CCE I Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2015/04-2016/03
Advanced Study in CCE II Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2015/04-2016/03
System-Level Design Methodology for SoCs System-Level Design Methodology for SoCs 後期 情報学研究科 2015/04-2016/03
応用集積システム Integrated System Architecture and Synthesis 前期 情報学研究科 2015/04-2016/03
情報通信技術のデザイン Design in ICT 前期 情報学研究科 2015/04-2016/03
組み込み計算機システム Embedded Computer Systems 後期 工学部 2015/04-2016/03
計算機工学 Computer Hardware Design 後期 工学部 2015/04-2016/03
通信情報システム特別セミナー Seminar on Communications and Computer Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2015/04-2016/03
通信情報システム特別研究2 Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 前期集中 情報学研究科 2015/04-2016/03
通信情報システム特別研究2 Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2015/04-2016/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 後期集中 情報学研究科 2015/04-2016/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2015/04-2016/03
集積回路工学 Integraged Circuits Engineering 前期 工学部 2015/04-2016/03
集積システム工学特別セミナー Seminar on Integrated Systems Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2015/04-2016/03
Advanced Study in CCE I Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2016/04-2017/03
Advanced Study in CCE II Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2016/04-2017/03
System-Level Design Methodology for SoCs System-Level Design Methodology for SoCs 後期 情報学研究科 2016/04-2017/03
応用集積システム Integrated System Architecture and Synthesis 前期 情報学研究科 2016/04-2017/03
情報通信技術のデザイン Design in ICT 前期 情報学研究科 2016/04-2017/03
組み込み計算機システム Embedded Computer Systems 後期 工学部 2016/04-2017/03
計算機工学 Computer Hardware Design 後期 工学部 2016/04-2017/03
通信情報システム特別セミナー Seminar on Communications and Computer Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2016/04-2017/03
通信情報システム特別研究2 Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 後期集中 情報学研究科 2016/04-2017/03
通信情報システム特別研究2 Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2016/04-2017/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 前期集中 情報学研究科 2016/04-2017/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2016/04-2017/03
集積回路工学 Integraged Circuits Engineering 前期 工学部 2016/04-2017/03
集積システム工学特別セミナー Seminar on Integrated Systems Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2016/04-2017/03
Advanced Study in CCE I Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2017/04-2018/03
Advanced Study in CCE II Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2017/04-2018/03
System-Level Design Methodology for SoCs System-Level Design Methodology for SoCs 後期 情報学研究科 2017/04-2018/03
応用集積システム Integrated System Architecture and Synthesis 前期 情報学研究科 2017/04-2018/03
情報通信技術のデザイン Design in ICT 前期 情報学研究科 2017/04-2018/03
組み込み計算機システム Embedded Computer Systems 後期 工学部 2017/04-2018/03
計算機工学 Computer Hardware Design 後期 工学部 2017/04-2018/03
通信情報システム特別セミナー Seminar on Communications and Computer Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2017/04-2018/03
通信情報システム特別研究2 Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 前期集中 情報学研究科 2017/04-2018/03
通信情報システム特別研究2 Advanced Study in Communications and Computer Engineering II 通年 情報学研究科 2017/04-2018/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 前期集中 情報学研究科 2017/04-2018/03
通信情報システム特別研究1 Advanced Study in Communications and Computer Engineering I 通年 情報学研究科 2017/04-2018/03
集積回路工学 Integraged Circuits Engineering 前期 工学部 2017/04-2018/03
集積システム工学特別セミナー Seminar on Integrated Systems Engineering, Advanced 通年 情報学研究科 2017/04-2018/03
System-Level Design Methodology for SoCs System-Level Design Methodology for SoCs 後期 情報学研究科 2018/04-2019/03
応用集積システム Integrated System Architecture and Synthesis 前期 情報学研究科 2018/04-2019/03
情報通信技術のデザイン Design in ICT 前期 工学研究科 2018/04-2019/03
情報通信技術のデザイン Design in ICT 前期 情報学研究科 2018/04-2019/03
組み込み計算機システム Embedded Computer Systems 後期 工学部 2018/04-2019/03
計算機工学 Computer Hardware Design 後期 工学部 2018/04-2019/03
集積回路工学 Integraged Circuits Engineering 前期 工学部 2018/04-2019/03
応用集積システム Integrated System Architecture and Synthesis 前期 情報学研究科 2019/04-2020/03
情報通信技術のデザイン Design in ICT 後期 情報学研究科 2019/04-2020/03
組み込み計算機システム Embedded Computer Systems 後期 工学部 2019/04-2020/03
計算機工学 Computer Hardware Design 後期 工学部 2019/04-2020/03
集積回路工学 Integraged Circuits Engineering 前期 工学部 2019/04-2020/03
集積システム設計論 System-Level Design Methodology for SoCs 後期 情報学研究科 2019/04-2020/03

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School management (title, position)
Title Period
学生部委員会 委員 2010/04/01-2011/03/31
学生生活委員会 委員 2010/04/01-2012/03/31
教育用計算機専門委員会 委員 2014/04/01-2015/03/31
広報委員会 委員 2015/04/01-2017/03/31
広報委員会 紅萠編集専門部会 2015/04/01-2017/03/31
広報委員会 紅萠編集専門部会 2015/04/01-2017/03/31
Faculty management (title, position)
Title Period
専攻長会議 2011/04/01-2012/03/31
制規委員会副委員長 2011/04/01-2012/03/31
情報セキュリティ委員会委員 2011/04/01-2012/03/31
企画委員会委員 2012/04/01-2014/03/31
基盤整備委員会委員 2014/04/01-2015/03/31
計算機小委員会委員長(基盤整備員会) 2014/04/01-2015/03/31
基盤整備委員会委員長 2015/04/01-2016/03/31
評価・広報委員会委員 2016/04/01-2017/03/31
教務委員会委員 2016/04/01-2017/03/31
第3期中期目標期間部局行動計画作成WG委員 2016/04/01-2017/03/31
評価WG副委員長 2016/04/01-2017/03/31
広報WG委員 2016/04/01-2017/03/31
専攻長会議 2017/04/01-2018/03/31
情報背急ティ委員会委員 2017/04/01-2018/03/31
教務委員会委員 2018/06/01-2019/03/31
財務委員会副委員長 2018/04/01-2019/03/31
財務委員会委員長 2019/04/01-2020/03/31

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Other activities (public organizations)
Committee(Japanese) Committee(English) Title Organization name Period
平成22年度「電波資源拡大のための研究開発」高速・高品質な無線通信実現のためのICチップレベルの低ノイズ化技術の研究開発 研究開発運営委員 2010-
Other activities (private companies, NPOs, etc.)
Company name Activity Period
(株)シンセシス 2010-